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    • 4. 发明公开
    • 통계적 다이 성능에 기초하여 패키징 후까지 연기되는 비휘발성 메모리 테스트들
    • 基于统计表现的包装后的非易失性记忆测试
    • KR1020170018908A
    • 2017-02-20
    • KR1020177000912
    • 2015-06-03
    • 샌디스크 테크놀로지스 엘엘씨
    • 프레여,잭,에드워드비디아부샨,모한
    • G11C29/44G06F11/20G06F12/06G11C29/00
    • G11C29/44G06F11/2094G06F12/0246G06F12/0623G06F2212/1032G06F2212/7209G11C29/765G11C29/785
    • 본명세서에기술되는다양한실시예들은비휘발성메모리를패키징하는데 사용되는시스템들, 방법들및/또는디바이스들을포함한다. 일양태에서, 본방법은, 비휘발성메모리다이의세트에대응하는미리정의된기준들및 미리정의된통계적다이성능정보에따라, 비휘발성메모리다이의세트로부터, 미리정의된다이레벨및 서브다이레벨테스트들이패키징후까지연기된복수의비휘발성메모리다이를선택하는단계를포함한다. 본방법은선택된복수의비휘발성메모리다이를메모리디바이스내에패키징하는단계를추가로포함한다. 상기패키징후에, 본방법은메모리디바이스내의비휘발성메모리다이내에서미리정의된유효성기준들을충족시키는각자의메모리유닛들을식별하기위해메모리디바이스내의복수의비휘발성메모리다이에대해테스트들의세트를수행하는단계를추가로포함하고, 수행되는테스트들의세트는연기된미리정의된다이레벨및 서브다이레벨테스트들을포함한다.
    • 本文描述的各种实施例包括用于使能存储模块中的物理到物理地址重映射的系统,方法和/或设备。 在一个方面,该方法包括对于两个或更多个非易失性存储单元的序列中的每一个,确定相应存储单元的有效性状态。 根据存储器的相应单元的有效状态为无效状态的判定,该方法包括在表中存储分配给各单元存储器的第二地址。 第二地址的至少一部分是对应于第二存储单元的物理位置的物理地址部分。 根据存储器的相应单元的有效状态为有效状态的判断,该方法包括分配对应于存储单元的第二地址。