会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 3. 发明公开
    • 데이터 캐시 컨트롤러, 이를 포함하는 장치들, 및 이의 동작 방법
    • 数据缓存控制器,具有该缓冲控制器的设备及其操作方法
    • KR1020130049964A
    • 2013-05-15
    • KR1020110115052
    • 2011-11-07
    • 삼성전자주식회사
    • 이성현유준희
    • G06F13/20G06F11/10G06F15/78
    • G06F12/0855G06F11/1064G06F13/20G06F15/78G06F2212/403
    • PURPOSE: A data cache controller, devices including the same, and an operating method thereof are provided to reduce cache latency by transmitting data corrected according to the control of a CPU core to the CPU core. CONSTITUTION: An ECC(Error Correction Code) logic unit(63) detects an error included in data, outputs an error signal to a CPU core(20), performs error correction for the data, and outputs corrected data. A selector(65) transmits the data to the CPU core through a first data channel according to a selection signal of the CPU core based on the error signal and transmits the corrected data to the CPU core through a second data channel. The CPU core includes a control unit outputting the selection signal according to a flag and a reorder buffer storing the flag.
    • 目的:提供数据高速缓存控制器,包括其的设备及其操作方法,以通过将根据CPU核心的控制校正的数据发送到CPU内核来减少高速缓存等待时间。 构成:ECC(纠错码)逻辑单元(63)检测数据中包含的错误,向CPU核心(20)输出错误信号,对数据执行纠错,并输出校正数据。 选择器(65)根据误差信号根据CPU核心的选择信号通过第一数据信道将数据发送到CPU核心,并通过第二数据信道将校正的数据发送到CPU核心。 CPU核心包括根据标志输出选择信号的控制单元和存储该标志的重新排序缓冲器。
    • 6. 发明授权
    • 데이터 캐시 컨트롤러, 이를 포함하는 장치들, 및 이의 동작 방법
    • 具有相同的数据高速缓存控制器设备及其操作方法
    • KR101703173B1
    • 2017-02-07
    • KR1020110115052
    • 2011-11-07
    • 삼성전자주식회사
    • 이성현유준희
    • G06F13/20G06F11/10G06F15/78
    • G06F12/0855G06F11/1064
    • 데이터캐시컨트롤러의동작방법이개시된다. 상기동작방법은데이터캐시로부터출력된제1데이터를제1레이턴시로 CPU 코어로전송하는단계, 및제2데이터를상기제1레이턴시보다큰 제2레이턴시로상기 CPU 코어로전송하는단계를포함하며, 상기제1레이턴시는명령캐시로부터패치된제1명령의실행에따른상기데이터캐시로의리드요구와상기제1데이터의전송사이의지연을의미하고, 상기제2레이턴시는상기명령캐시로부터패치된제2명령의실행에따른상기데이터캐시로의리드요구와상기제2데이터의전송사이의지연을의미한다.
    • 提供了一种操作数据高速缓存控制器的方法。 该方法包括以第一等待时间将从数据高速缓存输出的第一数据发送到中央处理单元(CPU)核心,并以大于第一等待时间的第二等待时间向CPU核发送第二数据。 第一等待时间是根据从指令高速缓存取出的第一指令的执行,对数据高速缓存的读取请求和第一数据的传输之间的延迟,并且第二等待时间是对数据高速缓存和传输的读请求之间的延迟 根据从指令高速缓存取出的第二指令的执行来执行第二数据。
    • 9. 发明公开
    • 반도체 메모리 장치의 테스트 방법 및 반도체 메모리 시스템
    • 半导体存储器件测试方法和半导体存储器系统
    • KR1020150063616A
    • 2015-06-10
    • KR1020130147480
    • 2013-11-29
    • 삼성전자주식회사
    • 김수아강동수박철우유준희유학수윤재윤이성현정진수최효진
    • G11C29/00
    • G11C17/16G11C17/18G11C29/027G11C29/42G11C29/44G11C29/4401G11C2029/4402
    • 본발명은반도체메모리장치의테스트방법및 그러한테스트를수행하는반도체메모리시스템에관한것이다. 본발명에의한메모리셀 어레이및 안티퓨즈어레이를포함하는반도체메모리장치의테스트방법은상기메모리셀 어레이에포함된페일셀들을검출하는단계, 상기검출된페일셀들에대응되는페일어드레스를판별하는단계, 상기판별된페일어드레스를상기메모리셀 어레이에포함된페일어드레스메모리영역에저장하는단계및 상기페일어드레스메모리영역에저장된페일어드레스를리드하여상기안티퓨즈어레이에프로그램하는단계를포함한다. 본발명에의한반도체메모리장치테스트방법및 반도체메모리시스템에의하면, 테스트동작이어드레스를저장하기위한추가적인메모리없이수행될수 있으므로반도체메모리장치및 테스트회로가작은면적으로구현될수 있다.
    • 本发明涉及一种测试半导体存储器件和执行该测试的半导体存储器系统的方法。 根据本发明的包括存储单元阵列和反熔丝阵列的半导体存储器件的测试方法包括以下步骤:检测包括在存储单元阵列中的故障单元; 确定对应于检测到的故障小区的故障地址; 将所确定的故障地址存储在所述存储单元阵列中包括的故障地址存储器区域中; 并通过读取存储在故障地址存储器区域中的故障地址来编程反熔丝阵列。 通过根据本发明的用于测试半导体存储器件和半导体存储器系统的方法,半导体存储器件和测试电路通过执行测试操作而以小的面积实现,而没有用于存储地址的附加存储器。