会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明授权
    • 핀 익스텐션을 이용하여 오류 교정이 가능한 반도체 장치 및 그 설계 방법
    • 使用引脚扩展技术进行错误修改的半导体器件及其设计方法
    • KR101677760B1
    • 2016-11-29
    • KR1020090122917
    • 2009-12-11
    • 삼성전자주식회사한양대학교 산학협력단
    • 김동윤여동훈신현철김경호강병태신주용이성철
    • G11C11/34H01L23/525G11C29/00
    • H01L23/525H01L2924/0002H01L2924/00
    • 복수의메탈레이어들로구성된반도체장치에있어서, 미리정해지는기능(function)을수행하는적어도하나의리페어블록; 상기리페어블록의상기미리정해지는기능을대체하는스페어블록; 및상기복수의메탈레이어들중 오류교정을위해미리지정된적어도하나의리페어레이어를포함하되, 상기리페어블록의적어도하나의핀은상기리페어레이어로제1 핀익스텐션을통해연결되고, 상기스페어블록의적어도하나의핀은상기리페어레이어까지확장되도록구성되며, 상기리페어블록의리페어요구시, 상기리페어레이어와상기리페어블록간의상기제1 핀익스텐션의연결을해제하고, 상기스페어블록의상기적어도하나의핀은제2 핀익스텐션을통해상기리페어레이어에연결됨을특징으로하는반도체장치를제안한다. 반도체장치제작후 오류가있을때 미리정해진하나의층 또는그 이상의메탈레이어만을다시제작하여짧은교정기간안에저비용으로오류를교정할수 있다.
    • 半导体装置的半导体装置和设计方法允许使用备用单元进行调试或维修。 半导体装置包括多个金属层。 至少一个修理块执行预定的功能。 备用块能够代替维修块的功能。 并且多个金属层中的至少一个被预先确定为用于错误修正的修复层。 修复块的至少一个销通过第一销延伸连接到修复层,并且备用块的至少一个引脚能够延伸到修复层。 当修理修理块时,修理层和维修块的销延伸被断开,备用块的至少一个引脚通过第二个引脚延伸连接到修复层。
    • 2. 发明授权
    • 반사형 반도체 광 증폭기
    • 反射半导体光学放大器
    • KR100566255B1
    • 2006-03-29
    • KR1020040011157
    • 2004-02-19
    • 삼성전자주식회사
    • 신현철이정석김호인윤인국김승우황성택
    • G02B6/12
    • H01S5/50H01S5/028H01S5/101H01S5/1064H01S5/1085H01S5/16H01S5/227H01S2301/176
    • 본 발명은 낮은 동작전류에서도 이득이 크고, 문턱전류가 낮아서 파워소모가 적은 파장분할다중방식 수동형 광가입자망에 적합한 반사형 반도체 광 증폭기에 관한 것이다. 본 발명의 반사형 반도체 광 증폭기는 기판과; 상기 기판 위에 하부 클래딩, 활성층 및 상부 클래딩이 순차로 적층되며, 직선 도파로 영역, 굽은 도파로 영역, 테이퍼 진 도파로 영역을 구비하는 BH구조(Buried Heterostructure)의 광도파로와; 상기 광도파로 주위에 형성되어 상기 광도파로의 활성층 이외로의 전류흐름을 차단하는 전류차단층과; 상기 활성층 주변으로 새는 전류에 의한 기생용량을 줄이기 위해 상기 광도파로 주위의 상기 전류차단층 및 상기 기판 일부의 선택식각에 의해 형성된 트렌치와; 상기 테이퍼 진 도파로 영역 종단에 형성된 윈도우 영역과; 상기 윈도우 영역 종단에 형성된 무반사면과; 상기 직선 도파로 영역 종단에 형성되어 입력 광을 반사하는 고반사면을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
      반사형 반도체 광 증폭기, 활성층, 다중양자우물구조, 테이퍼, 트렌치, 광 변조기
    • 6. 发明授权
    • 반도체 장치의 로코스 소자분리 방법
    • 半导体器件的位置隔离方法
    • KR100176196B1
    • 1999-04-15
    • KR1019960004201
    • 1996-02-22
    • 삼성전자주식회사
    • 심명섭신현철
    • H01L21/76
    • H01L21/76202
    • 활성 영역 상에 버즈 비크(bird's beak)가 형성되는 것을 방지하면서 필드 산화막의 에지부와 활성 영역 사이에 형성된 단차 부위의 경사를 감소시킬 수 있는 로코스 소자분리 방법이 개시되었다. 본 발명은 반도체 장치의 로코스 소자분리 방법에 있어서, 반도체 기판 상에 제1 패드 절연막 및 제1 질화막을 순차적으로 형성하는 단계, 상기 반도체 기판의 소정 영역을 노출시키도록 상기 제1패드 절연막 및 제1질화막을 패터닝하여 제1패드 절연막 패턴 및 제1 질화막 패턴을 형성하는 단계, 상기 노출된 반도체 기판 상에 제2 패드 절연막을 형성하는 단계, 상기 제1 질화막 패턴 측벽에 제2 질화막으로 이루어진 스페이서를 형성하는 단계, 상기 제2 패드 절연막 하부의 기판을 산화시켜 필드 산화막을 형성하는 단계; 및 상기 제1패드 절연막 패턴, 제1질화막 패턴 및 스페이서를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 로코스 소자분리 방법을 제공한다. 본 발명에 의하면, 상기 제1 패드 절연막 패턴에 의해서 활성 영역 상에 버즈 비크가 형성되는 것을 방지하면서 상기 필드 산화막과 활성 영역 사이에 형성된 단차 부위의 경사를 감소시킬 수 있다.
    • 7. 发明公开
    • 캐패시터 제조 방법
    • KR1019990015791A
    • 1999-03-05
    • KR1019970038099
    • 1997-08-09
    • 삼성전자주식회사
    • 신현철
    • H01L27/108
    • 본 발명은 반도체 장치의 캐패시터 제조 방법에 관한 것이다. 한 쌍의 트랜지스터가 형성되어 있는 반도체 기판이 제공된다. 상기 반도체 기판에 제1절연막을 형성한 뒤 상기 트랜지스터의 드레인 영역에는 비트 라인을 접속시킨다. 이어서 상기 트랜지스터의 소오스 영역에는 스토리지 노드를 접속시킨다. 본 발명에서는 스토리지 전극의 표면적을 넓게 형성하기 위해 두 번에 걸친 스토리지 전극 제조 공정이 개시된다. 제1공정은, 비트 라인이 형성된 상기 반도체 기판에 소오스 영역과 접속되는 스토리지 노드를 형성한다. 그리고 제2공정은 상기 비트 라인과 스토리지 노드가 형성된 상기 반도체 기판에 제2절연막을 형성하고 상기 제2절연막에 제1이방성 식각, 등방성 식각, 제2이방성 식각공정을 차례로 실시하여 제조하고자 하는 스토리지 전극의 형태를 우선 홈으로 형성한다. 그리고 나서 상기 홈에 도전물을 형성시켜 홈의 형태대로 스토리지 전극을 형성시킨다. 이처럼 미리 형성된 홈을 형성하고 거기에 도전물을 채워넣는 방법으로 스토리지 전극을 제조하므로 상기 홈의 면적을 넓게 형성하여 본 발명의 목적인 표면적이 넓은 스토리지 전극을 제조할 수 있게 된다.
    • 10. 发明公开
    • 반도체 장치의 로코스 소자분리 방법
    • 隔离半导体器件的LOCOS元件的方法
    • KR1019970063667A
    • 1997-09-12
    • KR1019960004201
    • 1996-02-22
    • 삼성전자주식회사
    • 심명섭신현철
    • H01L21/76
    • 활성 영역 상에 버즈 비크(bird's beak)가 형성되는 것을 방지하면서 필드 산화막의 에지부와 활성 영역사이에 형성된 단차부위의 경사를 감소시킬 수 있는 로코스 소자분리 방법이 개시되었다. 본 발명은 반도체장치의 로코스 소자분리 방법에 있어서, 반도체 기판 상에 제1패드 절연막 및 제1질화막을 순차적으로 형성하는 단계, 상기 반도체 기판의 소정 영역을 노출시키도록 상기 제1패도 절연막 및 제1질화막을 패터닝하여 제1패드 절연막 패턴 및 제1질화막 패턴을 형성하는 단계, 상기 노출된 반도체 기판 상에 제2패드 절연막을 형성하는 단계, 상기 제1질화막 패턴 측벽에 제2질화막으로 이루어진 스페이서를 형성하는 단계, 상기 제2패드 절연막 하부의 기판을 산화시켜 필드 산화막을 형성하는 단계; 및 상기제1패드 절연막 패턴, 제1질화막 패턴 및 스페이서를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 로코스 소자분리 방법을 제공한다. 본 발명에 의하면, 상기 제1패드 절연막 패턴에 의해서 활성 영역 상에 버즈비크가 형성되는 것을 방지하면서 상기 필드 산화막과 활성 영역 사이에 형성된 단차 부위의 경사를 감소시킬 수 있다.