专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR100506512B1 미러위치검출장치 失效
标题翻译：镜面位置检测装置
公开(公告)号：KR100506512B1
公开(公告)日：2005-09-26
申请号：KR1019980010320
申请日：1998-03-25
申请人： 가부시키가이샤 무라카미 가이메이도
发明人： 핫토리노리카즈 , 이와나베나오토 , 핫토리미치아키 , 모치즈키도시히로 , 오카모토도루
IPC分类号： B60R1/06
摘要： 미러 위치를 검출하기 위한 장치에서, 저항기 기판을 잡도록하는 접촉부재와 미러의 경사각을 조절하기 위한 너트 조절기와 동축으로 위치하는 저항기 기판으로 구비되어 있다. 접촉부재는 너트 조절기의 운동에 대응하는 라인으로 미끄러지는 한편, 저항기는 하우징에 고정된다. 그러므로, 너트 조절기가 미끄러지면서 접촉부재는 저항기에 대하여 미끄러지는데, 이것은 접촉부재와 긴 저항(R1)의 접촉위치의 변화를 야기한다. 결과적으로, 접촉부재에서 발생한 전압레벨이 변하므로, 미러의 경사각은 이러한 전압레벨을 검출하므로서 결정될 수 있다. 접촉부재와 저항기 기판이 슬라이딩 블럭내에 싸여 있으므로, 여러가지 부품을 위치시키는데 많은 공간이 필요없고, 그러므로 전체적인 장치는 소형으로 될 수 있다.
또한, 저항(R1)이 저항(R2,R3)을 통해 직류전원에 연결되었다는 사실은 측정된 전압레벨이 직류전원 전압의 중간값의 형태로 얻어진다는 것을 의미한다. 결과적으로, 노이즈 및 다른 요소의 영향을 감소시킬 수 있어서 미러각도는 높은 정밀도로 검출될 수 있다.

2. 发明公开

KR1019980080657A 미러위치검출장치 失效
标题翻译：镜子位置检测装置
公开(公告)号：KR1019980080657A
公开(公告)日：1998-11-25
申请号：KR1019980010320
申请日：1998-03-25
申请人： 가부시키가이샤 무라카미 가이메이도
发明人： 핫토리노리카즈 , 이와나베나오토 , 핫토리미치아키 , 모치즈키도시히로 , 오카모토도루
IPC分类号： B60R1/06
摘要： 미러 위치를 검출하기 위한 장치에서, 저항기를 잡도록하는 접촉부재와 미러의 경사각을 조절하기 위한 너트 조절기와 동축으로 위치하는 저항기로 구비되어 있다. 접촉부재는 너트 조절기의 운동에 대응하는 라인으로 미끄러지는 한편, 저항기는 하우징에 고정된다. 그러므로, 너트 조절기가 미끄러지면서 접촉부재는 저항기에 대하여 미끄러지는데, 이것은 접촉부재와 긴 저항(R1)의 접촉위치의 변화를 결과적으로, 접촉부재에서 발생한 전압레벨이 변하므로, 미러의 경사각은 이러한 전압레벨을 검출하므로서 결정될 수 있다. 접촉부재와 저항기가 슬라이딩 블럭내에 싸여 있으므로, 여러가지 부품을 위치시키는데 많은 공간이 필요없고, 그러므로 전체적인 장치는 소형으로 될 수 있다.
또한, 저항(R1)이 저항(R2,R3)을 통해 직류전원에 연결되었다는 사실은 측정된 전압레벨이 직류전원 전압의 중간값의 형태로 얻어진다는 것을 의미한다. 결과적으로, 노이즈 및 다른 요소의 영향을 감소시킬 수 있어서 미러각도는 높은 정밀도로 검출될 수 있다.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式