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1. 发明公开

KR20180057615A 입사 x-선의 방향에 대한 에지-온 x-선 검출기의 배향 결정(Determining the orientation of an edge-on x-ray detector with respect to the direction of incoming x-rays) 审中-公开
公开(公告)号：KR20180057615A
公开(公告)日：2018-05-30
申请号：KR20187006814
申请日：2015-09-23
申请人： PRISMATIC SENSORS AB
发明人： SJOLIN MARTIN , GRONBERG FREDRIK
IPC分类号： G01T1/24 , A61B6/00 , G01N23/04 , G01T1/29
CPC分类号： G01T1/16 , A61B6/584 , A61B6/588 , G01B15/00 , G01N23/04 , G01N2223/3035 , G01N2223/33 , G01T7/005
摘要： x-선광원으로부터의 x-선방향에대한에지-온 x-선검출기의배향을적어도부분적으로결정하기위한방법이제공된다. 상기방법은상기 x-선검출기에의하여수행된측정으로부터상기 x-선검출기및 상기 x-선광원과관련된팬텀의최소 2개의상대적인위치에서상기 x-선의강도를나타내는정보를획득하는단계(S1)를포함하며, 여기에서상기팬텀은상기 x-선광원과상기 x-선검출기사이에위치되며 x-선에노출되었을때 x-선조사범위에방향정보를삽입하도록설계된다. 상기방법은또한상기 x-선검출기, x-선광원및 팬텀의공간적구성의지오메트리모델및 측정으로부터획득된정보에기초하여상기 x-선방향에대한상기 x-선검출기의배향에연관된적어도하나의파라미터를결정하는단계(S2)를포함한다.

2. 发明公开

KR20180057644A 모듈식 X선 검출기(MODULAR X-RAY DETECTOR) 审中-公开
公开(公告)号：KR20180057644A
公开(公告)日：2018-05-30
申请号：KR20187009606
申请日：2016-09-05
申请人： PRISMATIC SENSORS AB
发明人： DANIELSSON MATS , KARLSSON STAFFAN
IPC分类号： G01T1/24 , G01T1/02 , G21K1/10
CPC分类号： G01T1/243 , G01T1/244 , G01T1/247 , G21K1/02 , G21K1/025
摘要： 본발명은모듈식검출기용검출기모듈(1)로서, 다수의 X선검출기기판(10)과관련산란방지시준기(20)를포함하는검출기모듈을제공한다. 각각의 X선검출기기판(10)은다수의검출기다이오드및 관련산란방지시준기(20)를구비한다. 각각의 X선검출기기판(10)은 X선이입사되는면을상면이라할 때 X선검출기기판의저면에부착되어다이오드로부터 X선신호를수집하는집적회로(30)를포함하고, 관련산란방지시준기(20)는집적회로(30) 상부에배치된다.

3. 发明公开

KR20180019672A X-선 영상화에서의 산란 추정 및/또는 보정(SCATTER ESTIMATION AND/OR CORRECTION IN X-RAY IMAGING) 审中-公开
标题翻译： X射线成像中X射线成像的散射估计和校正
公开(公告)号：KR20180019672A
公开(公告)日：2018-02-26
申请号：KR20187001479
申请日：2015-10-08
申请人： PRISMATIC SENSORS AB
发明人： DANIELSSON MATS , HOFFMAN DAVID MICHAEL
IPC分类号： A61B6/00 , A61B6/03 , G01T1/29
CPC分类号： A61B6/5282 , A61B6/032 , A61B6/4233 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/4291 , G01T1/2985
摘要： 본발명은다중-레벨광자-계수 x-선검출기(102, 103)에서피사체산란및/또는내부산란을추정하기위한방법및 장치는물론피사체산란및/또는내부산란을보정하면서피사체를 x-선단층촬영영상화하기위한방법및 장치가제공된다. 상기 x-선검출기는, 예를들면, 1) 상기피사체산란이천천히변화하는공간분포를갖는다는가정하에상기최상층및 하부층(들) 사이의카운트의차이(들)에기초하여상기적어도 2개의층중에서최상층에서상기카운트에대한상기피사체산란기여를추정하고, 및/또는 2) 하부층(들)에서또는최상층및 하부층(들) 모두에서상기검출기요소의상부에고도로감쇠하는빔 스톱을위치시킴으로써 1차방사선으로부터일부검출기요소를선택적으로블라인딩하는것에기초하여상기검출기내부에서컴프턴산란된광자의재흡수로부터의카운트를추정하는것, 및이들검출기요소에서상기카운트를측정하는것을위하여설계된에지-온지오메트리에장착된검출기다이오드의적어도 2개의층을갖는다.
摘要翻译：本发明是一种多级，来自受试者的光子计数X射线检测器（102，103），用于估计所述内部散射和设备，以及校正所述主题行的x的主题散射和/或内部散射的散射和/或方法提供了用于断层摄影成像的方法和设备。 x射线检测器，例如，1）的基础上计数之间的差（或多个）的假设是散射物体具有空间分布变化缓慢的至少两个层的顶部层和底部层（一个或多个）估算探测器层顶部计数的物体散射贡献，和/或2）将光束光阑定位在探测器元件顶部的顶层，基于从辐射中选择性地遮蔽一些检测器元件来估计来自检测器内康普顿散射光子的再吸收的计数，并且确定边缘导通几何 Lt二极管。“Lt二极管”。

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