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1. 发明授权

KR101442792B1 사파이어 웨이퍼의 검사 방법 有权
标题翻译：检查蓝宝石晶圆的方法
公开(公告)号：KR101442792B1
公开(公告)日：2014-09-23
申请号：KR1020120096021
申请日：2012-08-31
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 문윤재
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/30 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 사파이어 웨이퍼 검사 방법에 관한 것이고, 구체적으로 레이저 장치로부터 사파이어 웨이퍼에 광을 조사시켜 스캔 카메라로 영상을 획득하여 사파이어 웨이퍼의 표면의 스크래치, 미립자 또는 균열과 같은 표면 불량 여부의 검사가 가능하도록 하는 사파이어 웨이퍼 검사 방법에 관한 것이다. 검사 방법은 이송 과정에서 광학 카메라 및 조명 장치에 의하여 사파이어 웨이퍼의 후면의 영상이 얻어지는 단계; X, Y 및 Z-축을 따라 이동 가능한 회전 검사 유닛에 사파이어 웨이퍼를 장착시키는 단계; 빔의 폭 및 입사각의 조절이 가능한 레이저를 사이파이 웨이퍼의 표면에 입사시키는 단계; 집광각의 조절이 가능한 광학 카메라에서 사파이어 웨이퍼의 표면으로부터 반사된 빛으로부터 영상 신호를 취득하는 단계; 입사각 또는 빔의 폭을 조절하여 얻어진 영상의 해상도를 조절하는 단계; 및 회전 검사 유닛을 정해진 각도만큼 회전시키는 단계를 포함한다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查蓝宝石晶片的方法，更具体地说，涉及一种用于检查蓝宝石晶片的方法，该蓝宝石晶片可以通过以下方式检查蓝宝石晶片表面上的表面缺陷如划痕，颗粒和裂纹的存在：通过用激光装置在蓝宝石晶片上照射光，用扫描摄像机获取图像。检查方法包括以下步骤：在转印过程中使用光学照相机或照明装置获得蓝宝石晶片的背面的图像的步骤; 将蓝宝石晶片安装在能够沿X，Y和Z轴移动的旋转检查单元中的步骤; 执行其波束宽度和入射角可以调节到蓝宝石晶片的表面的激光入射的步骤; 使用能够调节会聚角度的光学摄像机从蓝宝石晶片的表面的反射光获得图像信号的步骤; 通过调节入射角或光束宽度来调节所获得图像的分辨率的步骤; 以及以一定角度旋转旋转检查单元的步骤。（附图标记）（P11）从盒转移; （P12）检查传送路径中的背面; （P13）安装旋转模块; （P14）选择激光束的波长并调节宽度; （P15）调节激光束的倾斜角度; （P16）获取图像; （P17）调节排水量; （P18）旋转旋转模块; （P19）解释图像

2. 发明公开

KR1020140028834A 사파이어 웨이퍼의 검사 및 분류를 위한 시스템 无效
标题翻译：检查和分类SAPPHIRE WAFERS的系统
公开(公告)号：KR1020140028834A
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR1020120096028
申请日：2012-08-31
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 문윤재
IPC分类号： G01N21/88 , H01L21/66
CPC分类号： G01N21/8806 , G01N21/9501 , H01L21/67271 , H01L22/12
摘要： The present invention relates to a system for inspecting and classifying sapphire wafers and, more particularly, to a system for inspecting and classifying sapphire wafers, which continuously inspects sapphire wafers through an automatic process in order to determine defects and classify the sapphire wafers. The system comprises: a control module (100); a first sub control module (200) and a second sub control module (300) which are connected with the control module (100); a back side inspecting module (400) which is connected with the first sub module (200) in order to transmit the back side inspection results of sapphire wafers; a front side inspecting module (500) which is connected with the second sub module (300) in order to transmit the front side inspection results of the sapphire wafers; and a cartridge module (600) where the multiple sapphire wafers are stored in a standby state in order to be consecutively transferred to the back side inspecting module (400) and the front side inspecting module (500). The back side inspecting module (400) obtains the back side image of the sapphire wafers using a lighting device and an optical scan camera and transmits the image to the first sub module (200). The front side inspecting module (500) obtains the front side image of the sapphire wafers using a laser device and the optical scan camera and transmits the image to the second sub module (300). [Reference numerals] (100) Control module; (200) First sub control module; (300) Second sub control module; (400) Back side inspection; (500) Front side inspection; (600) Standby; (700) Classification; (AA,CC,EE) Control; (BB,DD,FF) Transmission; (GG,HH) Transfer
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查和分类蓝宝石晶片的系统，更具体地说，涉及一种用于检查和分类蓝宝石晶片的系统，蓝宝石晶片通过自动处理连续检查蓝宝石晶片，以便确定蓝宝石晶片的缺陷和分类。该系统包括：控制模块（100）; 与控制模块（100）连接的第一子控制模块（200）和第二子控制模块（300）; 背面检查模块（400），其与所述第一子模块（200）连接，以便透射蓝宝石晶片的背面检查结果; 与第二子模块（300）连接的前侧检查模块（500），以便传输蓝宝石晶片的前侧检查结果; 以及盒式模块（600），其中多个蓝宝石晶片被存储在待机状态，以便连续地传送到后侧检查模块（400）和前侧检查模块（500）。背面检查模块（400）使用照明装置和光学扫描照相机获取蓝宝石晶片的背面图像，并将图像发送到第一子模块（200）。前侧检查模块（500）使用激光装置和光扫描照相机获取蓝宝石晶片的正面图像，并将图像发送到第二子模块（300）。（附图标记）（100）控制模块; （200）第一子控制模块; （300）第二子控制模块; （400）后侧检查; （500）前侧检查; （600）待命; （700）分类; （AA，CC，EE）控制; （BB，DD，FF）传输; （GG，HH）转让

3. 发明授权

KR101094317B1 진공 체임버용 마운터 수평도 측정장치 有权
标题翻译：用于检测真空室的安装水平的装置
公开(公告)号：KR101094317B1
公开(公告)日：2011-12-19
申请号：KR1020100061387
申请日：2010-06-28
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 김제성 , 이유정
IPC分类号： H01L21/02 , G01C9/02 , H01L21/205 , H01L21/3065
CPC分类号： H01L21/67259 , G01C9/06 , H01L21/205 , H01L21/67207
摘要： PURPOSE: A mounter horizontality measuring apparatus for a vacuum chamber is provided to improve the reliability of a measurement result by connecting a signal integration unit and a control unit by a flat cable. CONSTITUTION: A space measurement unit(200) is composed of a transfer body(202), a linear scale(207), and a unit signal terminal(203). The linear scale measures a translation distance of the transfer body. The unit signal terminal outputs the transfer distance which is measured to a digital signal. A signal integration unit is inputted a unit signal from a plurality of unit signal terminals. A control unit indicates the transfer distance which is measured in the space measurement unit. A vertical transfer guide unit is fixed in the lower side of a bottom case and guides vertical transfer of the transfer body.
摘要翻译：目的：提供一种用于真空室的贴片机水平度测量装置，通过用扁平电缆连接信号整合单元和控制单元来提高测量结果的可靠性。构成：空间测量单元（200）由转印体（202），线性刻度（207）和单位信号端子（203）构成。线性刻度测量转印体的平移距离。单位信号端子输出测量到数字信号的传输距离。信号积分单元从多个单位信号端子输入单位信号。控制单元指示在空间测量单元中测量的传送距离。垂直传送引导单元固定在底壳的下侧，并引导传送体的垂直传送。

4. 实用新型

KR2020090005487U 케이블 테스터 有权
标题翻译：电缆测试仪
公开(公告)号：KR2020090005487U
公开(公告)日：2009-06-08
申请号：KR2020070019360
申请日：2007-12-03
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 류승오 , 이유정 , 신동일
IPC分类号： G01R31/02
摘要： 본 고안은 케이블 테스터에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 다양한 핀 커넥터를 갖는 모든 신호 케이블들의 정상적인 연결상태나 배치상태를 시험하여 육안으로 판단할 수 있도록 하는 케이블 테스터에 관한 것이다.
케이블 내 신호선들의 결선 상태를 테스트하기 위한 케이블 테스터에 있어서, 복수의 제1 결합 커넥터를 병렬·구성한 제1 커넥터부와, 복수의 제2 결합 커넥터를 병렬·구성한 제2 커넥터부와, 양극 전원을 제1 커넥터부에 공급하고 음극 전원을 제2 커넥터부에 공급하는 전원부와, 제1 결합 커넥터의 각각의 핀과 양극 전원의 전기적 회로를 단속하는 스위치부, 및 제2 결합 커넥터의 각각의 핀과 음극 전원 사이에 마련되는 발광부를 포함하며, 케이블의 일측 커넥터는 제1 결합 커넥터에 접속되고, 케이블의 타측 커넥터는 제2 결합 커넥터에 접속된다.
케이블 테스터, 신호선, 커넥터, 발광다이오드
摘要翻译：本主题创新是测试正常连接或具有更具体的所有信号线的布置中，一个范围的相关的连接器插脚上的电缆测试仪电缆测试仪的条件，以确定用肉眼。

5. 发明授权

KR101637493B1 엘이디 리드프레임 검사 장치 有权
标题翻译：检测LED引线框架的设备
公开(公告)号：KR101637493B1
公开(公告)日：2016-07-07
申请号：KR1020130155209
申请日：2013-12-13
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 장남규 , 김제성
IPC分类号： G01J1/38 , H01L33/62
摘要： 본발명은엘이디리드프레임검사장치에관한것이고, 구체적으로영상을획득하여리드프레임에배치된엘이디칩의불량여부를판단하여해당엘이디칩에마킹이가능하도록하는엘이디리드프레임검사장치에관한것이다. 검사장치는다수개의리드프레임이수용이된 매거진(M)의이동을위한공급가이드(111), 이동이된 매거진(M)의상하이동을위한승강유닛(112), 매거진(M)으로부터각각의리드프레임을이동시키는밀림유닛(113) 및밀림유닛(113)에의하여이동되는각각의리드프레임이적재되는로더(118)로이루어진공급모듈(110); 공급모듈(110)로부터이송이된 각각의리드프레임의영상을획득하기위한적어도하나의카메라를가지는영상획득모듈(120); 영상획득모듈(120)로부터얻어진검사결과에따라상기리더프레임에배치된특정칩 패드에마킹이가능한마킹모듈(130); 및마킹모듈(130)로부터이송된상기리더프레임을검사결과에따라분류하고간지유닛(145)으로부터이송된간지로분리하여배출매거진에정렬시키는배출모듈(140)을포함하고, 상기리더프레임은캐리어(150)에로딩이되어이송컨베이어(160)를따라이송이된다.

6. 发明公开

KR1020150001706A 사파이어 웨이퍼의 검사 및 분류를 위한 시스템 无效
标题翻译：检查和分类SAPPHIRE WAFERS的系统
公开(公告)号：KR1020150001706A
公开(公告)日：2015-01-06
申请号：KR1020140169843
申请日：2014-12-01
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 문윤재
IPC分类号： G01N21/88 , H01L21/66
CPC分类号： G01N21/9501 , H01L21/67288 , H01L22/12
摘要： The present invention relates to a system for inspecting and classifying sapphire wafers and, more particularly, to a system for inspecting and classifying sapphire wafers, which continuously inspects a plurality of sapphire wafers through an automatic process, determines whether the sapphire wafer is defective, and classifies the sapphire wafer. The system includes: a control module (100); a first sub control module (200) and a second sub control module (300) connected to the control module (100); a rear inspection module (400) connected to the first sub control module (200) to transmit a rear inspection result of each of a plurality of sapphire wafers; a front inspection module (500) connected to the second sub control module (300) to transmit a front inspection result of each of a plurality of sapphire wafers; and a cartridge module (600) configured to store the sapphire wafers being in a state of waiting for inspection, and to sequentially transfer the sapphire wafers to the rear inspection module (400) or the front inspection module (500), wherein the rear inspection module (400) obtains a rear image of the sapphire wafer by a lighting device and an optical scanning camera, and transmits the rear image to the first sub control module (200), and the front inspection module (500) obtains a front image of the sapphire wafer by a laser device and an optical scanning camera, and transmits the front image to the second sub control module (300).
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查和分类蓝宝石晶片的系统，更具体地说，涉及一种用于检查和分类蓝宝石晶片的系统，蓝宝石晶片通过自动处理连续检查多个蓝宝石晶片，确定蓝宝石晶片是否有缺陷，以及分类蓝宝石晶圆。该系统包括：控制模块（100）; 连接到控制模块（100）的第一子控制模块（200）和第二子控制模块（300）; 连接到第一子控制模块（200）的后检测模块（400），以传输多个蓝宝石晶片中的每一个的后检查结果; 连接到第二子控制模块（300）的前检查模块（500），以传输多个蓝宝石晶片中的每一个的前检查结果; 以及被配置为存储处于等待检查状态的蓝宝石晶片并且将蓝宝石晶片顺序地转移到后检查模块（400）或前检查模块（500）的盒模块（600），其中后检查模块（400）通过照明装置和光扫描照相机获得蓝宝石晶片的后图像，并将后图像发送到第一子控制模块（200），并且前检查模块（500）获得前图像蓝宝石晶片通过激光装置和光学扫描照相机，并将前方图像发送到第二副控制模块（300）。

7. 实用新型

KR200472389Y1 마우스 및 키보드의 수용을 위한 슬라이딩 구조의 수용 박스 有权
标题翻译：具有滑动结构的容纳鼠标和键盘的外壳盒
公开(公告)号：KR200472389Y1
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：KR2020120005242
申请日：2012-06-19
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 임기상 , 추연성
IPC分类号： G06F1/16
摘要： 본 고안은 마우스 및 키보드의 수용을 위한 슬라이딩 구조의 수용 박스에 관한 것이고, 구체적으로 하우징 내부로 삽입이 가능한 배치 패널을 이용하여 마우스 및 키보드를 배치하여 사용이 요구되는 경우 배치 패널을 외부로 배출시켜 마우스 및 키보드의 사용이 가능하도록 하는 슬라이딩 구조의 수용 박스에 관한 것이다. 수용 박스는 측면 벽(112)을 따라 슬라이딩 홈(112a)이 형성된 수용 선반(11); 슬라이딩 홈(112a)을 따라 이동이 가능하도록 설치되고 키보드 고정 부분 및 마우스 고정 부분(122)이 형성된 배치 패널(12); 배치 패널(12)의 앞쪽에 배치 패널(12)의 앞쪽 가장자리를 기준으로 회전이 가능하도록 결합되는 개폐 도어(13); 배치 패널(12)에 슬라이딩이 가능하도록 결합되어 배치 패널(12)에 삽입이 될 수 있고 그리고 노출 길이가 조절될 수 있는 삽입 패드(14); 및 배치 패널(12)의 위치를 고정하기 위한 스토퍼(115)를 포함하고, 상기 마우스 고정 부분(122)은 배치 패널(12)의 표면으로부터 아래쪽으로 함몰된 구조로 형성된다.

8. 发明授权

KR101282757B1 글라스 에지의 스캔 검사 장치 및 글라스 에지의 스캔 검사 방법 有权
标题翻译：扫描检查装置和扫描检查方法玻璃边缘
公开(公告)号：KR101282757B1
公开(公告)日：2013-07-05
申请号：KR1020120003465
申请日：2012-01-11
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 이유정 , 추연성
IPC分类号： G01N21/89 , G01B11/24
摘要： PURPOSE: A glass edge scan inspection device and a glass edge scan inspection method are provided to sense the existence of damages of glass in a process of returning the glass inside equipment, thereby minimizing damage to the equipment. CONSTITUTION: A glass edge scan inspection device comprises a pair of digital scan sensors (11a,11b), a microprocessor (12), a signal processing module, and a comparison module (14). The digital scan sensors scan a glass substrate along a moving direction. The microprocessor periodically senses signals generated by the pair of scan sensors. The signal processing module receives signals of the microprocessor and converts the same into pulse signals. The comparison module processes the signals received from the signal processing module. The digital scan sensors sense the movement of the glass substrate. The microprocessor converts the signals transmitted from the digital scan sensors by using an internal count into pulse signals, thereby transmitting the pulse signals to the signal processing module.
摘要翻译：目的：提供玻璃边缘扫描检查装置和玻璃边缘扫描检查方法，以在设备内部返回玻璃的过程中检测玻璃损坏的存在，从而最小化对设备的损坏。构成：玻璃边缘扫描检查装置包括一对数字扫描传感器（11a，11b），微处理器（12），信号处理模块和比较模块（14）。数字扫描传感器沿着移动方向扫描玻璃基板。微处理器周期性地感测由一对扫描传感器产生的信号。信号处理模块接收微处理器的信号并将其转换为脉冲信号。比较模块处理从信号处理模块接收的信号。数字扫描传感器感测玻璃基板的运动。微处理器通过使用内部计数转换为数字扫描传感器发送的信号到脉冲信号，从而将脉冲信号传输到信号处理模块。

9. 发明授权

KR101053924B1 전원분기 커넥터의 제조방법 有权
标题翻译：电力分配连接器的制造方法
公开(公告)号：KR101053924B1
公开(公告)日：2011-08-04
申请号：KR1020100093068
申请日：2010-09-27
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 김제성
IPC分类号： H01R43/16 , H01R25/14
摘要： PURPOSE: A manufacturing method of a power unit connector is provided to processes the power part connector by using forging mold. CONSTITUTION: An embossed mold(400) and an engraved mold(500) are prepared. A copper alloy(600) is provided between the embossed mold and the engraved mold. The alloy is shaped by pressure about the embossed mold and the engraved mold. By a drill(700), a wire connection hole(610a,610b,610c) is formed to be stepped of the molded copper alloy. The embossed mold has a stepped surface. The engraved mold has a stepped surface which is parallel with the stepped surface of the embossed mold.
摘要翻译：目的：提供动力单元连接器的制造方法，通过锻造模具来处理动力部件连接器。构成：制备压花模具（400）和雕刻模具（500）。在压花模具和雕刻模具之间设置铜合金（600）。合金通过压力在压花模具和雕刻模具上成形。通过钻（700），将导线连接孔（610a，610b，610c）形成为模制的铜合金的台阶。压花模具具有台阶表面。雕刻的模具具有与压花模具的台阶表面平行的台阶表面。

10. 发明公开

KR1020150069144A 엘이디 리드프레임 검사 방법 有权
标题翻译：检测LED引线框架的方法
公开(公告)号：KR1020150069144A
公开(公告)日：2015-06-23
申请号：KR1020130155212
申请日：2013-12-13
申请人： (주)신안엔지니어링
发明人： 장남규 , 김제성
IPC分类号： H01L21/66 , H01L33/62
CPC分类号： H01L22/00
摘要： 본발명은엘이디리드프레임검사방법에관한것이고, 구체적으로영상을획득하여리드프레임에배치된엘이디칩의불량여부를판단하여해당엘이디칩에마킹이가능하도록하는엘이디리드프레임검사방법에관한것이다. 검사방법은다수개의리드프레임이수용된매거진이투입되어각각의리더프레임이이송경로에로딩이단계; 상기각각의리드프레임은이송경로를따라적어도하나의영역으로분할이되어라인스캔이되어영상획득이되는단계; 상기획득된영상에대한불량여부가판정이되어각각의리드프레임의칩 패드에표시가되는단계; 상기표시여부에따라각각의리드프레임이서로다른배출경로를따라배출이되는단계; 및상기서로다른배출경로를따라배출되는리드프레임이간지에의하여분리되어적재가되는단계를포함한다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查LED引线框架的方法，更具体地，涉及一种用于检查LED引线框架的方法，其能够通过确定引线框架中的LED芯片是否发生故障来实现相应LED芯片的标记或者不是通过获得图像。该方法包括：通过插入存储多个引线框的盒子将每个引线框架装入转移路线的步骤; 通过沿着传送路线将每个引导帧分成至少一个区域然后对帧执行行扫描来获得图像的步骤; 确定所获得的图像是否有故障的步骤，然后在每个引线框的芯片焊盘上显示确定; 根据显示沿着不同的排出路径排放每个引线框架的步骤; 以及通过滑动片将沿着不同的排出路径排出的引线框架分离，然后装载引线框架的步骤。

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