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41. 发明授权

KR100542037B1 프로세서에 의해 작동되는 히터 회로의 논리를 검증하기위한 시험방법 및 그 장치 失效
标题翻译：用于验证由处理器操作的加热器电路逻辑的测试方法和设备
公开(公告)号：KR100542037B1
公开(公告)日：2006-01-12
申请号：KR1020030090212
申请日：2003-12-11
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 최준민 , 현범석 , 김희경
IPC分类号： G06F11/273
摘要： 본 발명은 프로세서(컴퓨터)에 의해 조절되는 히터 회로의 논리를 검증하고 실제 작동온도를 확인 가능하게 하는 프로세서에 의해 작동되는 히터 회로의 논리를 검증하기 위한 시험방법 및 그 장치에 관한 것이다.
이러한 본 발명은 알루미늄의 금속판에 히터를 설치하고 그 일측으로 프로세서와 연결된 온도센서, 독립적으로 온도가 기록되는 열전대를 서로 가까이 설치한 히터판에 쿨링 스프레이를 이용하여 프로세서에 의해 작동하는 히터 회로를 검증 시험함을 특징으로 하는 프로세서에 의해 작동되는 히터 회로의 논리를 검증하기 위한 시험방법과, 내부에 단열효과가 좋은 재질로 히터판이 설치되는 다수의 홈이 내측으로 형성된 작업대, 작업대의 양측에서 지면과 30도 정도의 경사를 갖도록 유지하도록 접힘식으로 설치되는 받침대로 이루어지는 장치로 구성된다.
알루미늄 히터판, 작업대, 프로세서, 히터회로

42. 发明授权

KR100423679B1 지터 감소 모듈 有权
标题翻译： 지터감소모듈
公开(公告)号：KR100423679B1
公开(公告)日：2004-03-19
申请号：KR1019997012158
申请日：1997-06-23
申请人： 테라다인 인코퍼레이티드
发明人： 퀴팡
IPC分类号： G06F11/273
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R31/31922 , G06F1/10 , H01P1/202
摘要： Automatic test equipment having an apparatus for reducing jitter in a test system clock, including at least one transmission line for providing a delivery path for the test system clock, two tuning stubs for tuning the delivery path, and an RF transformer for providing a jitter output and electrically isolating the jitter output from the delivery path. The apparatus reduces jitter in the test system clock without substantially altering clock characteristics such as voltage levels, duty cycle, and overall shape of the test system clock.
摘要翻译：具有用于减少测试系统时钟中的抖动的装置的自动测试设备，包括至少一个用于提供测试系统时钟的传送路径的传输线，用于调谐传送路径的两个调谐短截线以及用于提供抖动输出的RF变换器并且将输出路径的抖动输出电隔离。该装置减少了测试系统时钟中的抖动，而基本上不改变时钟特性，例如电压电平，占空比和测试系统时钟的整体形状。

43. 发明公开

KR860001482A IC 장치 失效
公开(公告)号：KR860001482A
公开(公告)日：1986-02-26
申请号：KR850002838
申请日：1985-04-26
IPC分类号： G06F3/05 , G01R31/28 , G06F3/00 , G06F11/273 , G06J1/00
摘要： 내용없음

44. 发明授权

KR102335401B1 테스트 계획 자동 생성 有权
公开(公告)号：KR102335401B1
公开(公告)日：2021-12-08
申请号：KR1020210089805
申请日：2021-07-08
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/28 , G06F11/263 , G06F11/273
摘要： 테스트시스템의테스트계획자동생성방법이개시된다. 본명세서의일 실시예에따른테스트계획자동생성방법은, 테스트계획의생성대상이되는제어기그룹이선택됨에따라제어기그룹을포함하는복수의테스트케이스를선정하고, 미리정해진기준에따라복수의테스트케이스각각의테스트순서를설정하고, 설정된순서에따라복수의테스트케이스에대하여테스트수행결과를반영하여데이터베이스를업데이트시킨다. 이에따라, 제어기의특성에따라테스트이력을반영하여테스트계획을보다효율적으로생성할수 있다.

45. 发明授权

KR102213842B1 무기체계 환경/신뢰성 시험용 이종 시험장비 인터페이스 장치, 환경시험 시스템, 및 데이터 중간 장치 有权
公开(公告)号：KR102213842B1
公开(公告)日：2021-02-08
申请号：KR1020200135866
申请日：2020-10-20
申请人： 국방과학연구소
发明人： 강태엽 , 서동환 , 민혜영 , 민준기 , 김수형 , 남정수 , 송상복 , 조기성 , 이상운 , 김영수
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/22 , G06F9/451 , G06F16/22 , G06F11/263
摘要： 본발명에따른이종시험장비인터페이스장치가제공된다. 상기이종시험장비인터페이스장치는복수의환경시험챔버에연결되는복수의데이터중간장치, 및상기복수의데이터중간장치와연동하는적어도하나의컴퓨터장치를포함한다. 상기복수의데이터중간장치각각은상기복수의환경시험챔버중에서연동하는적어도하나의환경시험챔버로부터수신되는전기신호를 SNMP 프로토콜에기초하여데이터신호로변환하여출력하고, 상기적어도하나의컴퓨터장치로부터수신되는운용제어명령에따라, 상기연동하는적어도하나의환경시험챔버를제어할수 있는제어신호를출력하도록구성된다.

46. 发明授权

KR102162704B1 저비용 내장 자체 테스트 중심 테스트 기법 有权
公开(公告)号：KR102162704B1
公开(公告)日：2020-10-07
申请号：KR1020190113938
申请日：2019-09-17
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 밸런피터 , 유안치
IPC分类号： G06F11/27 , G06F11/273 , G06F11/22

47. 发明授权

KR102002753B1 메모리를 테스트하기 위한 인터페이스 카드 有权
公开(公告)号：KR102002753B1
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：KR1020190029658
申请日：2019-03-15
申请人： 호서대학교 산학협력단
发明人： 안진호
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/273

48. 发明授权

KR101948152B1 메모리 모듈의 검사 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR101948152B1
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：KR1020180092185
申请日：2018-08-08
申请人： 주식회사 티에스피글로벌
发明人： 류성윤 , 김현숙 , 공정찬 , 강병민
IPC分类号： G06F11/273 , G01R31/28 , G01R1/04

49. 发明授权

KR101879053B1 보 레이트가 자동으로 설정되는 테스트 장치 有权
公开(公告)号：KR101879053B1
公开(公告)日：2018-07-18
申请号：KR1020160141587
申请日：2016-10-28
申请人： 사단법인 엑시콘산학공동연구소 , 주식회사 엑시콘
发明人： 최승달 , 김우준 , 이재환 , 윤종윤
IPC分类号： G06F11/273
摘要： 호스트장치와통신을수행할때, 보레이트가자동으로설정되는테스트장치가개시된다. 본발명의일 양상에따른테스트장치는어플리케이션프로세서(AP); 호스트장치및 어플리케이션프로세서와전기적으로연결되고, 보레이트를자동설정하는 FPGA(Field Programmable Gate Array); 호스트장치및 FPGA와전기적연결되어데이터출력라인을결정하는스위치; FPGA와연결되어클럭신호를제공하는클럭발생부를포함하며, 호스트장치와범용비동기화송수신기(UART)를통해통신을수행하는것을특징으로한다.

50. 发明公开

KR20180046458A 보 레이트가 자동으로 설정되는 테스트 장치 有权
公开(公告)号：KR20180046458A
公开(公告)日：2018-05-09
申请号：KR20160141587
申请日：2016-10-28
申请人： 사단법인 엑시콘산학공동연구소 , 주식회사 엑시콘
发明人： 최승달 , 김우준 , 이재환 , 윤종윤
IPC分类号： G06F11/273
CPC分类号： G06F11/273
摘要： 호스트장치와통신을수행할때, 보레이트가자동으로설정되는테스트장치가개시된다. 본발명의일 양상에따른테스트장치는어플리케이션프로세서(AP); 호스트장치및 어플리케이션프로세서와전기적으로연결되고, 보레이트를자동설정하는 FPGA(Field Programmable Gate Array); 호스트장치및 FPGA와전기적연결되어데이터출력라인을결정하는스위치; FPGA와연결되어클럭신호를제공하는클럭발생부를포함하며, 호스트장치와범용비동기화송수신기(UART)를통해통신을수행하는것을특징으로한다.

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