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热词
    • 41. 发明公开
    • 다상 구조를 이용한 디지털 송신기_
    • 使用多相结构的数字发射机
    • KR1020000031514A
    • 2000-06-05
    • KR1019980047592
    • 1998-11-06
    • 삼성전자주식회사
    • 최진규
    • H04B1/04
    • H04B1/04H04B2001/0491
    • PURPOSE: A digital transmitter using a polyphase structure is provided to enhance a system processing speed by performing a parallel processing. CONSTITUTION: A digital transmitter using a polyphase structure comprises a first and second adder, a first and second multiplier, a first and second branch, and an adder. The first and the second adders add and subtract discrete input signals. The first and the second multipliers multiply the output signals from the adders and complex signals. The first branch comprises a filter, an upsampler, and an adder. The second branch comprises a filter, an upsampler, and an adder. The adder adds the output signal from the first branch to the output signal from the second branch.
    • 目的:提供使用多相结构的数字发射器,通过执行并行处理来提高系统处理速度。 构成:使用多相结构的数字发射机包括第一和第二加法器,第一和第二乘法器,第一和第二分支以及加法器。 第一和第二加法器添加和减去离散输入信号。 第一和第二乘法器乘以加法器和复数信号的输出信号。 第一分支包括滤波器,上采样器和加法器。 第二分支包括滤波器,上采样器和加法器。 加法器将来自第一分支的输出信号与来自第二分支的输出信号相加。
    • 44. 实用新型
    • 전자기기의 전원 자동차단장치
    • 电动自动切割
    • KR200110432Y1
    • 1998-04-14
    • KR2019940004765
    • 1994-03-10
    • 삼성전자주식회사
    • 최진규
    • H02H7/10H02M1/00
    • 전자기기의 전원 자동차단장치
      본 고안은 전자기기의 전원 자동차단장치에 관한 것으로, 특히 전원 인입단에 설치되어 사용자의 수동조작에 따라 시스템내로 전원을 인가하는 매뉴얼 스위치(SW)와, 이 스위치(SW)가 동작함에 따라 인가되는 상용전원을 필터링하고 시스템에 맞게 적절히 가공하는 전원부(10)와, 이 전원부(10)에서 전원이 인가됨에 따라 구동하며 시스템전체를 제어하는 제어부(20)와 이 제어부(20)의 제어신호에 따라 동작하는 스위치 구동부와(40), 이 스위치 구동부(40)에 의해 동작하며 매뉴얼 스위치(SW)에 병렬로 연결되어 시스템내로의 전원의 유입을 제어하는 전자스위치(REL)로 구성되어, 전원이 인가되면 전자 스위치(REL)를 가동하여 전원의 인가상태를 유지하고 시스템을 사용중이지 않으면 전자스위치(REL)를 통해 시스템으로 인가되는 전원뿐만 아니라 전원차단을 위 한 제어장치에 인가되는 전원도 차단하므로써 불필요한 전력의 낭비를 방지하고 또한, 이로 인한 잡음의 발생을 방지한다.
    • 45. 发明公开
    • 반도체장치의 스페이서 형성방법
    • KR1019970030465A
    • 1997-06-26
    • KR1019950040721
    • 1995-11-10
    • 삼성전자주식회사
    • 최진규
    • H01L21/31
    • 반도체 장치의 스페이서 형성방법에 관하여 기재하고 있다. 게이트 전극이 형성되어 있는 반도체 기판 상에 절연층을 형성하고, 주변회로부를 마스킹한 다음 상기 절연층을 이방성식각하여 셀어레이부 내의 상기 게이트 전극 측벽에 스페이서를 형성한다. 이어서, 상기 결과물 상에 도전층을 형성하고, 상기 도전층을 패터닝하여 셀어레이부 내에 패드 도전층을 형성하고, 주변회로부 내의 상기 절연층 측벽에 물질층을 형성한 다음, 상기 물질층을 마스크로 사용하여 주변회로부 내의 상기 절연층을 이방성식각하여 주변회로부 내의 게이트 전극 측벽에 스페이서를 형성한다. 따라서 공정의 추가없이 주변회로부의 게이트 스페이서를 형성한다. 따라서, 공정의 추가없이 주변회로부의 게이트 스페이서 너비를 공정조건을 고려한 적정한 크기로 형성할 수 있다.
    • 50. 发明公开
    • 패턴합성기기 및 이를 포함하는 반도체 테스트 시스템
    • 图案合成设备及其半导体测试系统
    • KR1020130000758A
    • 2013-01-03
    • KR1020110061483
    • 2011-06-24
    • 삼성전자주식회사
    • 김성열양인수김민성백재현최진규유호선
    • G01R31/28
    • G01R31/318371
    • PURPOSE: A pattern synthesizing device and a semiconductor test system including the same are provided to improve test coverage and extend a mount type test. CONSTITUTION: A pattern capture system(1000) includes a user device(100), an event generator(200), and a pattern synthesizing device(300). The user device operates a testee semiconductor according to an interface signal synchronized with a timing signal having a variable frequency. The pattern synthesizing device measures an interval between edges of the timing signal and generates test pattern data by extracting a logical value of the interface signal according to the timing signal. A test device implements the timing signal based on the interval measured with the test pattern data and is synchronized with the timing signal to extract the logical value. The test device generates a test operating signal and determines an operating state by applying the signal to a DUT(Device Under Test). [Reference numerals] (100) User device; (200) Event generator; (310) Pre-processing unit; (320) Interval time measuring unit; (330) Logic value capturing unit; (340) Control signal generator; (350) Event checking unit; (360) Communication interface
    • 目的:提供一种图形合成装置和包括该图形合成装置的半导体测试系统以改善测试覆盖范围并扩展安装型测试。 构成:图案捕获系统(1000)包括用户装置(100),事件发生器(200)和模式合成装置(300)。 用户装置根据与具有可变频率的定时信号同步的接口信号来操作被测体半导体。 图案合成装置测量定时信号的边缘之间的间隔,并通过根据定时信号提取接口信号的逻辑值来生成测试图案数据。 测试装置基于用测试图案数据测量的间隔实现定时信号,并与定时信号同步以提取逻辑值。 测试装置产生测试操作信号,并通过将信号施加到DUT(被测设备)来确定操作状态。 (附图标记)(100)用户装置; (200)事件发生器; (310)预处理单元; (320)间隔时间测量单位; (330)逻辑值捕获单元; (340)控制信号发生器; (350)事件检查单位; (360)通讯接口