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    • 4. 发明专利
    • 半導体装置
    • JP2018011089A
    • 2018-01-18
    • JP2017204728
    • 2017-10-23
    • ローム株式会社
    • 藤江 周作
    • H01L29/78H01L27/088H01L21/761H01L21/336
    • 【課題】フィールド反転の発生を抑制し、安定した素子分離を実現できる半導体装置を提供する。 【解決手段】低電圧素子を有する低電圧素子領域2を含むエピタキシャル基板45と、低電圧素子領域2を区画するようにエピタキシャル基板45の表層部に形成された素子分離ウェル7と、素子分離ウェル7を覆うようにエピタキシャル基板45の上に形成されたフィールド絶縁膜10と、エピタキシャル基板45の上に形成された第1〜第4層間絶縁膜21,25,27,36と、平面視において低電圧素子領域2を横切るように第4層間絶縁膜36の上に形成された高電圧配線30と、フィールド絶縁膜10において高電圧配線30と対向する領域を横切るようにフィールド絶縁膜10の上に形成され、素子分離ウェル7の幅以下の幅を有する導体膜11と、を含む。 【選択図】図2
    • 9. 发明专利
    • 半導体装置及びその製造方法
    • 半导体器件及其制造方法
    • JP2016171105A
    • 2016-09-23
    • JP2015048167
    • 2015-03-11
    • セイコーエプソン株式会社
    • 桑澤 和伸新田 博明
    • H01L27/08H01L21/8238H01L27/092H01L21/761
    • 【課題】埋め込み拡散層と電気的に接続する拡散層の横方向の拡がりを抑制した半導体装置を提供する。 【解決手段】本発明の一態様は、P型シリコン基板11と、前記シリコン基板に位置するN型埋め込み拡散層14と、前記埋め込み拡散層上に位置するエピタキシャル層15と、前記エピタキシャル層に位置し、前記埋め込み拡散層と前記エピタキシャル層の表面を電気的に接続するN型拡散層30と、を含み、前記N型拡散層は、第1の領域拡散層21aと、前記第1の領域拡散層より深い位置で且つ前記第1の領域拡散層より不純物濃度が高い第2の領域拡散層22aを有する半導体装置である。 【選択図】図2
    • 要解决的问题:提供抑制与嵌入式扩散层电连接的扩散层的横向膨胀的半导体器件。解决方案:在本实施例中,半导体器件包括P型硅衬底11,N型嵌入 位于硅衬底中的扩散层14,位于嵌入扩散层上的外延层15和用于将嵌入的扩散层和外延层的表面电连接的N型扩散层30。 N型扩散层在比第一区域扩散层更深的位置具有第一区域扩散层21a和第二区域扩散层22a,其杂质浓度高于第一区域扩散层的浓度。图示:图 2