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    • 3. 发明专利
    • 試験装置および有接点リレーの劣化判定方法
    • JP2021136195A
    • 2021-09-13
    • JP2020033175
    • 2020-02-28
    • 四国計測工業株式会社
    • 中井 敦志福田 賢司
    • H01H47/00
    • 【課題】有接点リレーの劣化を高い精度で予測可能な試験装置、および有接点リレーの劣化判定方法を提供する。 【解決手段】複数の有接点リレー30と、有接点リレー30に印加する電圧を制御する電圧制御部10と、有接点リレー30の駆動を制御する駆動制御部10と、有接点リレー30をオン状態とし、試験対象物に所定の試験電圧を印加することで、試験対象物の電気的特性を判定する試験処理部10と、有接点リレー30をオン状態とするための駆動制御を開始してから有接点リレー30がオン状態となるまでの動作時間、または、有接点リレー30をオフ状態とするための駆動制御を開始してから有接点リレー30がオフ状態となるまでの復帰時間に基づいて、有接点リレー30の劣化を判定する劣化判定部10と、を有し、劣化判定部10は、有接点リレーの劣化を判定する場合の劣化判定電圧として、試験電圧よりも低い電圧を印加させる、試験装置。 【選択図】図1