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    • 5. 发明专利
    • 光情報記録再生装置、及び調整方法
    • 光学信息记录和再现装置,并且调整方法
    • JPWO2014199504A1
    • 2017-02-23
    • JP2015522361
    • 2013-06-14
    • 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社
    • 真弓 長吉拓 星沢和良 山崎誠 保坂
    • G11B7/0065G03H1/02G03H1/26G11B7/08G11B7/135G11B7/22
    • G11B7/1353G03H1/0465G11B7/0065G11B7/1359G11B7/1362G11B7/1374G11B7/1378G11B7/13927G11B7/1398
    • 記録時、再生時に部品の位置ずれ、角度ずれが生じた場合、参照光の光束径が変化し、光情報記録媒体の記録に寄与しない余分な露光が増えたり、参照光と信号光が干渉せずに適切な記録が出来ず、ホログラム再生像のSNRが劣化するという課題がある。光情報記録媒体に信号光と参照光を照射してホログラムを形成することで情報を記録し、ホログラムに参照光を照射することで情報を再生する光情報記録再生装置であって、レーザ光源からのレーザ光を信号光と参照光に分岐する分岐素子と、前記信号光に2次元情報を付加する空間光変調部と、光情報記録媒体に信号光を照射する対物レンズと、参照光を照射したときに光情報記録媒体からの回折光を検出する光検出部と、前記レーザ光源と前記分岐素子との間に配置され、前記レーザ光の光軸を調整する光軸調整部と、を備える光情報記録再生装置を提供する。
    • 在录制过程中,在再现期间该部件移位的位置,如果发生角度偏差,参考光的光束直径被改变时,或增加额外的曝光无助于光信息记录介质的记录,参考光束和信号光干涉 不能适当记录没有,有一个问题,即全息图的信噪比再现图像劣化。 通过照射信号光束和参考光束的光信息通过形成全息图记录介质记录的信息,光学信息记录和用于通过照射参考光束到全息图再现信息再现装置中,激光光源 分支元件的辐射用于分支的激光束分成一信号光束和参考光束,空间光调制器,用于在信号光添加二维信息,用于将信号光照射到所述光学信息记录介质的物镜,所述参考光束 设置有一个光检测器,用于从上述光学信息检测所述衍射光记录介质时,设置在所述激光光源和所述分束器之间,所述光轴调整单元用于调整所述激光束的光轴上,该 是提供一种光学信息记录和再现设备。
    • 6. 发明专利
    • 原盤の製造方法、光学体、光学部材、および表示装置
    • 制造原始板,光学体,光学构件和显示装置的方法
    • JP2016190418A
    • 2016-11-10
    • JP2015071846
    • 2015-03-31
    • デクセリアルズ株式会社
    • 梶谷 俊一
    • G11B7/135G11B7/22G11B5/84B29C59/02B29C33/38
    • B29C33/38B29C59/02G02B1/111G02B5/02
    • 【課題】回折光が抑制された光学体をより大面積で製造可能な原盤を提供する。 【解決手段】円筒または円柱形状の基材を含む原盤本体の外周面に、所定の範囲で周期性を有しない制御信号により変調されたレーザを照射することで、凹凸の平均周期が可視光波長以下であるミクロ凹凸構造を前記原盤本体の周方向および軸方向にランダムに形成するステップと、前記原盤本体の外周面上にエッチングレジスト層を形成するステップと、前記エッチングレジスト層に対して、凹凸の平均周期が可視光波長より大きいマクロ凹凸構造を形成するステップと、前記エッチングレジスト層および前記原盤本体をエッチングすることで、前記基材の外周面上に前記ミクロ凹凸構造と、前記マクロ凹凸構造とを重畳して形成するステップと、を含む原盤の製造方法。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种能够在较大面积上制造具有抑制衍射光的光学体的原版。提供一种制造原版的方法,其包括:照射外周面的步骤 包括具有通过在预定范围内没有周期性的控制信号调制的激光的圆柱形或柱状衬底的原始板体,以便随机地形成具有等于或小于可见光波长的平均周期的粗糙结构 在原版主体的外周面的圆周方向和轴方向上的光; 在原版主体的外周面上形成抗蚀剂层的工序; 形成具有比抗蚀剂层中可见光波长大的平均凹凸强度的宏观结构的步骤; 并且蚀刻抗蚀剂层和原版本体以形成微凹凸结构,并且宏观结构重叠在基片的外圆周表面上。图1
    • 7. 发明专利
    • 放射源の出力密度分布を測定するための装置
    • 用于测量辐射源功率密度分布的装置
    • JP2016138743A
    • 2016-08-04
    • JP2014171653
    • 2014-08-26
    • イェノプティック オプティカル システムズ ゲーエムベーハー
    • トービアス グナウシュマイク パニッツラルフ ミュラーマルク ヒメル
    • G11B7/22G01J1/02
    • G01J1/4257G01J1/0407G01J1/429
    • 【課題】高出力放射源の出力密度分布を測定するための装置を提供する。 【解決手段】放射源の出力密度分布を測定するための装置1であって、次の特徴、即ち、放射方向SRに光ビームLを放射するように設計された放射源と、放射方向において放射源の下流に配置された、且つx方向及びy方向に広がりを有する基板2であって、基板が、第1の領域3及び少なくとも1つの更なる第2の領域4を有し、第1の領域が、基板に当たる光ビームをゼロ次回折及び少なくとも1つの一次回折に分離するように設計された回折構造を含む基板2と、放射方向において基板の下流に配置された、且つ基板を透過する一次回折の強度を測定するように、及びそこから出力密度分布を導き出すように設計された検出ユニット8と、を含む。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种用于测量高功率辐射源的功率密度分布的装置。解决方案:用于测量辐射源的功率密度分布的装置1包括:设计成在辐射中辐射光束L的辐射源 方向SR; 在辐射方向SR的下游设置在x方向和y方向上延伸的基板2具有第一区域3和至少一个另外的第二区域4,并且包括设计成的衍射结构 第一区域3将击中基板2的光束L分离成零级衍射和至少一个一级衍射; 以及检测单元8,其设置在辐射方向SR上的基板2的下游,并且被设计成测量透射基板2的一次衍射的强度并且从其导出功率密度分布。图1