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1. 发明专利

JP2021189085A 電力変換回路装置の電気特性検査ユニットおよび電気特性検査ユニットの電流テストプローブ审中-公开
公开(公告)号：JP2021189085A
公开(公告)日：2021-12-13
申请号：JP2020096188
申请日：2020-06-02
申请人：東理システム株式会社
发明人：榎戸英治
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/06 , G01R1/073
摘要：【課題】電気自動車に搭載される電動パワートレーンのインバータ検査のような大電流の検査において、保持ブロックに挿入されたプローブの真直度に多少の誤差があっても、プローブ接触子を被検査側の電極に緊密に圧着できる電気特性検査プローブおよび電力変換回路装置の電気特性検査ユニットを提供する。【解決手段】電力変換回路装置の被検査端末部20に接合可能な電気特性検査ユニット1であって、往復動作機構に担持された可動パレット2と、可動パレット2を被検査端末部20に対して位置決めする位置決め機構(位置決めロッド3、位置決め孔22)と、可動パレットに搭載され、かつ該可動パレットの往復動によって被検査端末部と接離する電流テストプローブ4とを有し、この電流テストプローブは、先端に接触子11を備えたプローブ軸部がプローブ保持部の貫通孔にばね部材を介して遊挿されている。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2021188947A 光学的接続子保持構造及び接続装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021188947A
公开(公告)日：2021-12-13
申请号：JP2020091982
申请日：2020-05-27
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：原子翔
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26 , G01R1/073
摘要：【課題】基板に設ける各光学的接続子を保護することができ、基板に設けた光学的接続子の取り扱いを容易にすることができるようにする。【解決手段】本発明は、管状本体部と、管状本体部の一方の端部に設けられた鍔部とを有する複数の鍔付管状部材と、各鍔付管状部材の鍔部側から管状本体部の他方の端部に向けて挿入され、先端部が管状本体部側に位置している複数の光学的接続子と、基板厚さ方向に設けられた複数の貫通孔を有する基板とを備え、各光学的接続子が挿入された各鍔付管状部材の管状本体部は、基板の各貫通孔に着脱可能に挿入されて、鍔部が、当該貫通孔の周縁部に当接して当該鍔付管状部材を支持するものであり、各光学的接続子と、各光学的接続子を挿入している鍔付管状部材とが固定されていることを特徴とする。【選択図】図1

3. 发明专利

JPWO2020175346A1 プローブ部材およびコネクタの検査構造审中-公开
公开(公告)号：JPWO2020175346A1
公开(公告)日：2021-12-02
申请号：JP2020006964
申请日：2020-02-21
申请人：株式会社村田製作所
发明人：遠田淳 , 荒木聖人 , 末政肇
IPC分类号： G01R1/073 , G01R1/067
摘要：プローブ部材(10)は、主体(11)、内導体(211)、および、壁部(12)を備える。主体(11)は、検査用の端面(111)を有する。内導体(211)は、同軸型のプローブの内導体に接続し、主体(11)に保持される。内導体(211)の端部は、端面から突出する。壁部(12)は、端面(111)から突出し、内導体(211)の端部を囲む形状であり、少なくとも表面が導電性を有する。

4. 发明专利

JP2021177160A 垂直型テスト装置及びそのシート状プローブ有权
公开(公告)号：JP2021177160A
公开(公告)日：2021-11-11
申请号：JP2020129095
申请日：2020-07-30
申请人：中華精測科技股▲ふん▼有限公司 , CHUNGHWA PRECISION TEST TECH.CO.,LTD
发明人：李文聰 , 魏遜泰 , 李曉剛 , 丁亘生
IPC分类号： G01R1/073
摘要：【課題】本発明は、垂直型テスト装置及びそのシート状プローブを提供する。【解決手段】本発明のシート状プローブは、シート本体、第1の接触部、進退部、及び第2の接触部を具備する。前記シート本体が長さ方向に所定の長さを有し、前記シート本体が前記長さ方向に垂直する厚さ方向に所定の厚さを有し、かつ、前記所定の長さを前記所定の厚さで割った比値が25〜85である。前記第1の接触部は、前記シート本体の上縁から延伸して形成されたものである。前記進退部は、前記シート本体の下縁から前記シート本体から離れる方向に向かって彎曲して延伸するように構成される。なかでも、前記進退部には、外力に対抗する回復弾性力を有する。前記第2の接触部は、前記進退部における前記シート本体から離れた前記進退部の端部から延在して形成されるものである。【選択図】図2

5. 发明专利

JP2021173641A プローブユニット作製方法及びプローブユニット审中-公开
公开(公告)号：JP2021173641A
公开(公告)日：2021-11-01
申请号：JP2020077530
申请日：2020-04-24
申请人：株式会社テクノプロ , 土谷塁
发明人：土谷塁 , 丹羽透
IPC分类号： G01R1/06 , G01R1/073
摘要：【課題】複数の極細プローブが互いに並行となるように基板に挿入されたプローブユニットを簡便に作製するプローブユニット作製方法、及び当該プローブユニット作製方法により作製されるプローブユニットを提供すること。【解決手段】プローブユニット作製方法は、所定方向Dにおける一定以上の長さを有する基板片21において、所定方向Dに対して略平行な溝部形成面25に、一方の端部から他方の端部まで、所定方向Dに対して略平行に延びる直線状の溝部27を形成する溝部形成工程と、溝部27が形成された溝部形成面25と、他の基板片21の対向面26と、が接するように、治具9の内部に複数の基板片21を配列する配列工程と、棒状体載置工程と、棒状体挿入工程と、棒状体除去工程と、棒状体31が挿入された基板2の上に被覆材料を塗布し、棒状体31の一部と、貫通孔28の少なくとも一部と、を覆う被覆体4を形成する被覆体形成工程と、を含む。【選択図】図11

6. 发明专利

JP2021167801A 検査治具、及び検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021167801A
公开(公告)日：2021-10-21
申请号：JP2020131206
申请日：2020-07-31
申请人：日本電産リード株式会社
发明人：津村耕平 , 山崎秀和
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/073
摘要：【課題】接触子を支持する支持部に加わるストレスを軽減することが容易な検査治具、及び検査装置を提供する。【解決手段】検査治具3は、棒状の接触子Prと、接触子Prの一端部側を支持する第一支持部311と、接触子Prの他端部側を支持する第二支持部312と、第一支持部311と第二支持部312とを互いに離間させて保持する離間保持部材7とを備え、第一支持部311は、接触子Prが挿通される貫通孔B2Hが形成された支持プレートB2を備え、支持プレートB2の第二支持部312に対する対向面には、支持プレートB2よりも曲げ強さが強い補強プレート5が配設されている。【選択図】図3

7. 发明专利

JP2021165726A プローブおよび電気的接続装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021165726A
公开(公告)日：2021-10-14
申请号：JP2020070038
申请日：2020-04-08
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：福士輝夫
IPC分类号： G01R1/073 , H01L21/66 , G01R1/067
摘要：【課題】測定品質の低下を低減できるプローブおよび電気的接続装置を提供する。【解決手段】プローブ10は、棒形状の中心導体11と、中心導体11の側面を囲む中間絶縁膜13と、中間絶縁膜13の表面を覆う外部導電膜14とを備える。プローブ10の被検査体と接触する先端部101において、中心導体11が露出する。【選択図】図1

8. 发明专利

JP6947708B2 配線基板有权
公开(公告)号：JP6947708B2
公开(公告)日：2021-10-13
申请号：JP2018160480
申请日：2018-08-29
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：奈須孝有 , 近藤洋右 , 服部正臣 , 木全浩太 , 加賀敦史 , 金光柱
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/073 , H05K3/46

9. 发明专利

JP2021162316A 検査用ソケット审中-公开
公开(公告)号：JP2021162316A
公开(公告)日：2021-10-11
申请号：JP2020060874
申请日：2020-03-30
申请人：山一電機株式会社
发明人：小堀栄治
IPC分类号： G01R1/073 , H01R13/193 , G01R1/067
摘要：【課題】接点との接触性を考慮しつつ、耐久性が向上したコンタクトを備えている検査用ソケットを提供する。【解決手段】所定方向に差し込まれて所定方向と直交する直交方向に設けられた端子81aと導通可能な検査用ソケット1であって、所定方向に沿って弾性的に伸縮可能とされ、導電性を有する第1コンタクトプローブ10と、端子81aに導かれる先端21と第1コンタクトプローブ10のAプランジャ11が接触する基端22とが所定方向に沿って設けられた、導電性を有するコンタクト20と、を備え、コンタクト20には、基端22側から直交方向に離間した位置に回動支点が設けられ、コンタクト20は、第1コンタクトプローブ10が基端22に接触することよって回動支点周りに回動してコンタクトの先端21が直交方向に移動する。【選択図】図11

10. 实用新型

JP3234201U 高速フィードバック測定装置有权
公开(公告)号：JP3234201U
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：JP2021002782
申请日：2021-07-16
申请人：迪科特測試科技(蘇州)有限公司
发明人：劉俊良
IPC分类号： G01R1/073
摘要：【課題】従来技術の不足を克服することができる高速フィードバック測定装置を提供する。【解決手段】本考案に係る高速フィードバック測定装置Zは基板ユニット1及び複数のプローブユニット3を含む。複数のプローブユニットは、基板ユニットを貫通すると共に基板ユニットに設置されている。基板ユニットは、少なくとも1つの導通空間10、複数の充填物11及び複数のスペーサ12を有する。各充填物は、少なくとも1つの導通空間に位置すると共に近隣の2つのプローブユニットの間に位置する。各スペーサは、少なくとも1つの導通空間に位置すると共に近隣の2つのプローブユニットの間に位置する。近隣の2つのプローブユニットは、対応する充填物及び対応するスペーサにより容量効果を生成する。【選択図】図1

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