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1. 发明专利

JP6914693B2 湿式磁粉探傷試験用蛍光磁粉及び該蛍光磁粉を用いた湿式磁粉探傷試験方法有权
公开(公告)号：JP6914693B2
公开(公告)日：2021-08-04
申请号：JP2017069789
申请日：2017-03-31
申请人：マークテック株式会社
发明人：増田隆秀
IPC分类号： G01N27/84 , G01N21/91

2. 发明专利

JP6742838B2 紫外線照射装置、及び紫外線探傷装置有权
公开(公告)号：JP6742838B2
公开(公告)日：2020-08-19
申请号：JP2016130848
申请日：2016-06-30
申请人：マークテック株式会社
发明人：松本謙二 , 細矢学
IPC分类号： G01N21/91 , G01N21/84

3. 发明专利

JP6634065B2 浸透探傷試験用水ベース蛍光浸透液有权
公开(公告)号：JP6634065B2
公开(公告)日：2020-01-22
申请号：JP2017243717
申请日：2017-12-20
申请人：マークテック株式会社
发明人：佐伯理恵 , 増田隆秀
IPC分类号： G01N21/91

4. 发明专利

JP2019039927A 亀裂の検出方法用粘性流体审中-公开
公开(公告)号：JP2019039927A
公开(公告)日：2019-03-14
申请号：JP2018193961
申请日：2018-10-15
申请人：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所
发明人：高橋一比古
IPC分类号： G01M99/00 , G01N21/88 , G01N21/91
摘要：【課題】粘性流体を塗布することにより、初期段階の微小亀裂や、溶接部・構造取り合い部等の複雑形状部分に生じた亀裂を容易かつ確実に検出する、亀裂の検出方法用粘性流体を提供すること。【解決手段】チクソトロピー指数が0.3〜1.7である粘性流体2であって、その用途が、繰り返し荷重の作用する母材1に塗布し、母材1の亀裂3の開閉により粘性流体2が亀裂3の内部に吸引されて形成される粘性流体2の外表面の凹み5及び/又は凹み5によって露出した母材1の地肌6から亀裂3の発生又は進展を検出する亀裂の検出方法用である。【選択図】図1

5. 发明专利

JP6348980B2 コンクリート構造物のひび割れ調査方法およびひび割れ調査システム有权
公开(公告)号：JP6348980B2
公开(公告)日：2018-06-27
申请号：JP2016532829
申请日：2014-07-09
申请人：一般社団法人日本建設機械施工協会 , 株式会社ティ・エス・プランニング
发明人：谷倉泉 , 渡邉晋也 , 佐藤智 , 平田康夫
IPC分类号： G01N21/84 , G01N21/91 , G01N33/38 , G01B11/00 , G01B11/02 , G01N21/88
CPC分类号： G01N21/84 , G01N21/88 , G01N21/954 , G01N33/38

6. 发明专利

JP2018004405A 紫外線照射装置、及び紫外線探傷装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018004405A
公开(公告)日：2018-01-11
申请号：JP2016130848
申请日：2016-06-30
申请人：マークテック株式会社
发明人：松本謙二 , 細矢学
IPC分类号： G01N21/91 , G01N21/84
摘要：【課題】メンテナンス性が良好でランニングコストを低減できる紫外線照射装置、及び紫外線探傷装置を提供する。【解決手段】紫外線照射装置1は、上下方向に延びる筒状の周壁14と、周壁14の上端を閉塞する上壁15とを有する有頂筒状のハウジング10と、紫外線LED36と、ヒートシンク32とを有する紫外線LEDユニット12と、周壁14の下端を閉塞するカバー11と、を備え、紫外線LEDユニット12は、ヒートシンク32が上壁15と対向してハウジング10内に収容され、ハウジング10は、ルーバー17によって下方へ向けて開口する吸気口16と、上壁15から上方へ向けて延びる排気ダクト18とを有し、カバー11は、紫外線を透過させる紫外線透過部25を有し、更に、排気ダクト18の上端を、所定の間隔Dを有して上方から覆う排気口カバー19を備える。【選択図】図6

7. 发明专利

JP6179909B2 疲労亀裂検出方法有权
公开(公告)号：JP6179909B2
公开(公告)日：2017-08-16
申请号：JP2016018825
申请日：2016-02-03
申请人：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所
发明人：高橋一比古
IPC分类号： G01N3/32 , G01N21/84 , G01N21/91

8. 发明专利

JP2017096858A 浸透探傷試験用水ベース染色浸透液审中-公开
公开(公告)号：JP2017096858A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：JP2015231267
申请日：2015-11-27
申请人：マークテック株式会社
发明人：増田隆秀 , 佐伯理恵
IPC分类号： C09B67/44 , G01N21/91
摘要：【課題】金属の微細な開口欠陥部を感度良く検出することができる浸透探傷試験用水ベース染色浸透液であって、腐食を受けやすいマグネシウム合金に使用しても腐食が抑制されるため、マグネシウム合金の開口欠陥部の検出にも使用できる浸透探傷試験用水ベース染色浸透液を提供する。【解決手段】ペンタデセニル無水コハク酸0.05〜1.0重量%とグリコール骨格を有する溶剤10〜50重量%と水溶性染料を0.5〜3重量%とを含有し溶媒が水である浸透探傷試験用水ベース染色浸透液。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2016105104A 疲労亀裂検出方法有权
标题翻译：疲劳裂纹检测方法
公开(公告)号：JP2016105104A
公开(公告)日：2016-06-09
申请号：JP2016018825
申请日：2016-02-03
申请人：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所
发明人：高橋一比古
IPC分类号： G01N21/91
摘要：【課題】疲労亀裂に起因しない誤発色がなく、かつ褪色により視認性の低下が生じない、信頼性の高い疲労亀裂の検出方法を提供する。【解決手段】金属製の基材20により、又は基材と金属製の封止手段とにより収納空間25を構成し、金属製の基材20又は封止手段の硬度以上の硬度を有する金属または金属酸化物の微粒子を含むペースト状流動体11を収納空間25に収納して、疲労亀裂21の進展に伴う基材20又は封止手段に生じた疲労亀裂21からのペースト状流動体11の流動による疲労亀裂21に対する作用により基材20又は封止手段から生じた黒色の微細粉が疲労亀裂21を通って収納空間25の外部へ出て形成された黒色標22を視認することにより、金属製の構造物の表面に発生する疲労亀裂21を検出する。【選択図】図6
摘要翻译：要解决的问题：提供一种疲劳裂纹检测方法，其中不会发生由于疲劳裂纹引起的显色误差，并且不会发生由于变色引起的可见度的劣化，并且具有高的可靠性。解决方案：形成存储空间25 通过金属基板20或由基板和金属密封装置，然后存储包括硬度等于或高于金属基板20或密封装置的金属或金属氧化物微粒的金属的糊状态流体11 在存储空间25中，由于由于浆料状态流体11由于在基板20或密封装置上产生的疲劳裂纹21的流动的作用而从基板20或密封装置产生的黑色细粉末由于疲劳裂纹21，疲劳裂纹21，通过疲劳裂纹21，退出到储存空间25的外部，然后形成黑色标记22.目视检查黑色标记，从而疲劳检测出金属结构表面产生的裂纹21

10. 发明专利

JP2015219069A 蛍光磁粉探傷装置审中-公开
标题翻译：荧光粉探伤仪
公开(公告)号：JP2015219069A
公开(公告)日：2015-12-07
申请号：JP2014101769
申请日：2014-05-15
申请人：大同特殊鋼株式会社
发明人：斉木伸浩
IPC分类号： G01N21/91
摘要：【課題】円管孔の内表面の広い範囲に亘って高い作業効率で傷検査を行うことのできる蛍光磁粉探傷装置を提供する。【解決手段】片持ち支持した棒体7の先端に与えた撮像部20を被測定物の円管孔の一端から挿入し他端へ向けて相対移動させ該円管孔の内表面を撮像し傷検査を行う蛍光磁粉探傷装置10である。ステージ上1で円管孔の中心軸を水平に維持したまま中心軸の周りに被測定物を回転させ且つ中心軸に沿って被測定物を並進させる駆動機構と、駆動機構による被測定物の回転運動及び並進運動を独立して制御し、ステージ1に対して固定された撮像部20を円管孔の一端の近傍に位置決めした後に、撮像部20を他端の近傍まで連続して相対移動させる駆動制御部と、撮像部20で得られる一連の画像を円管孔の位置に対応させて処理する撮像処理部と、を含むことを特徴とする。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够以高工作效率在圆形管孔的内表面的宽范围内进行流动检测的荧光磁粉探伤仪。解决方案：荧光磁粉探伤仪10将成像部件 20是以从待测物体的圆形管孔的一端以悬臂方式支撑的杆体7的顶端，并相对移动到另一端，并且使圆管孔的内表面成像以进行缺陷检测。荧光磁力探伤仪包括：驱动机构，其使待测物体围绕中心轴线旋转，同时水平地保持台架1上的圆管孔的中心轴线并沿着中心轴线平移待测物体; 驱动控制部分，用于独立地控制由驱动机构测量的物体的旋转运动和平移运动，并将成像部件20定位在固定到台架上的成像部件20之后，将成像部件20连续并相对移动到另一端附近 1到圆管孔一端附近; 以及用于处理通过使成像部20对应于圆管孔的位置而获得的一系列图像的成像处理部。

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