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1. 发明专利

JP2016535273A 充放電器の充電電流精度検出装置有权
标题翻译：充电的充电和放电装置的电流精度检测装置
公开(公告)号：JP2016535273A
公开(公告)日：2016-11-10
申请号：JP2016538488
申请日：2014-05-21
申请人：エルジー・ケム・リミテッド
发明人：ジュン・サン・コー , サン・ウーク・カン , ジェ・ドン・チャン , ド・フン・キム , ヒャン・モク・イ
IPC分类号： G01R19/00 , H01M10/44 , H01M10/48 , H02J7/00
CPC分类号： G01R19/165 , G01R1/203 , G01R31/36 , G01R31/3631 , G01R35/005 , G01R35/007 , H01M10/48 , H02J7/0021 , H02J7/0042 , H02J7/0068
摘要：本発明は、電池セル充放電器の充電電流精度を検出する装置であって、機構部及び電源部を含んでおり、前記機構部は、上部が開放されたボックス状のハウジング;及び充放電器の電流精度を検出するために前記ハウジングの両側面の内部にそれぞれ装着されており、下記の電源部と電気的に接続される一対の接続端子、及びそれぞれの接続端子に一定の抵抗を印加するシャント抵抗部で構成されている複数の電圧測定部;を含んでおり、前記電源部は、電圧測定部に電流を印加し、電池セルを充放電させる充放電器と、シャント抵抗部の電流及び電圧を測定するマルチメータ(multi−meter)とを含んでいることを特徴とする検出装置を提供する。
摘要翻译：本发明是用于检测电池单元的充电和放电装置的充电电流的精度的装置包括一个机构和一个电源装置，所述机械部分的形状具有开口的顶壳箱;和充放电单元所述壳体的两个侧表面内的电流精度，以检测分别附连，用于施加恒定电阻对是电源单元，电连接至下面的连接端子，并且各个连接端子多个电压测量单元，通过分流电阻器部配置的;包括电源单元，电流被施加到电压测量单元，以及用于充电和放电的电池单元中，电流和分流电阻部分上的充放电装置提供一种检测装置，其特征在于和万用表（万用表）来测量电压。

2. 发明专利

JP2010008363A Impedance measuring method 有权
标题翻译：阻抗测量方法
公开(公告)号：JP2010008363A
公开(公告)日：2010-01-14
申请号：JP2008170941
申请日：2008-06-30
申请人： Tdk Corp , Tdk株式会社
发明人： TOGASHI MASAAKI
IPC分类号： G01R27/02 , G01R35/00
CPC分类号： G01R1/045 , G01R35/007
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an impedance measuring method that reduces the contact resistance with an electronic component to be measured, prevents the occurrence of measuring variations resulting from the contact resistance, and accurately measures impedance. SOLUTION: The impedance measuring method uses an impedance measuring instrument, a coaxial connector 10 electrically connected to the impedance measuring instrument, and a measurement board 20 storable in the coaxial connector 10. The measurement board 20 has an insulating substrate IS1, and first and second conductors 21 and 22 formed on the first main surface IS1a of the insulating substrate IS1. The measurement board 20 mounted with the electronic component 40 to be measured is stored in the coaxial connector 10 connected to the impedance measuring instrument so that the first conductor 21 is electrically connected to a central conductor 11 and the second conductor 22 is electrically connected to an external conductor 12, and the impedance of the electronic component 40 to be measured is measured by the impedance measuring instrument. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：为了提供一种阻抗测量方法，其减少与要测量的电子部件的接触电阻，防止由接触电阻引起的测量变化的发生，并且精确地测量阻抗。阻抗测量方法使用阻抗测量仪器，与阻抗测量仪器电连接的同轴连接器10以及可存储在同轴连接器10中的测量板20.测量板20具有绝缘衬底IS1和形成在绝缘基板IS1的第一主表面IS1a上的第一和第二导体21和22。安装有要测量的电子部件40的测量板20存储在与阻抗测量仪连接的同轴连接器10中，使得第一导体21电连接到中心导体11，并且第二导体22电连接到外部导体12，并且通过阻抗测量仪器测量待测量的电子部件40的阻抗。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

3. 发明专利

JP5881695B2 構造物内の電力使用状況を測定するためのシステムおよび方法と、その較正を行うシステムおよび方法有权
标题翻译：系统和方法，用于测量所述结构内的电力使用，校准的系统和方法
公开(公告)号：JP5881695B2
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：JP2013518776
申请日：2011-07-01
申请人：ベルキン・インターナショナル・インコーポレイテッド ,
发明人：ぺテル,シュウェタック,エヌ , グプタ,シドハント , レイノルズ,マシュー,エス , ヨギースワラン,カーシク
IPC分类号： G01R35/00 , G01R15/20 , G01R21/06
CPC分类号： G01R19/0092 , G01R1/20 , G01R15/202 , G01R15/207 , G01R31/327 , G01R33/07 , G01R33/09 , G01R35/005 , G01R35/007 , G01R35/04 , G01R21/001 , G01R21/06 , G01R22/06 , G01R22/063

4. 发明专利

JP2015065278A パターン品質管理チャート、パターン品質管理方法およびパターン形成方法有权
标题翻译：模式质量管理图，模式质量管理方法和模式形成方法
公开(公告)号：JP2015065278A
公开(公告)日：2015-04-09
申请号：JP2013198071
申请日：2013-09-25
申请人：富士フイルム株式会社
发明人：龍田岳一
IPC分类号： H01L21/28 , H05K3/10 , H01L21/288
CPC分类号： G01R35/007 , B05D1/26 , B41J11/0015 , G01R31/2894 , H05K3/125
摘要：【課題】パターン形成条件の適/不適を容易に判定することができるパターン品質管理チャートを提供する。【解決手段】チャート用基材Sの表面上に複数の単位領域グループG11〜Gijが形成され、各単位領域グループは、それぞれパターン形成のための機能性の液に対して所定の親和性を有する第1の領域からなり且つ周囲を所定の親和性よりも低い親和性を有する第2の領域により囲まれた3つの単位領域を含み、それぞれの単位領域は、単位領域内に所定量の機能性の液を所定の供給条件で供給したときに、機能性の液が周囲にあふれることなく且つ単位領域内がすべて機能性の液で満たされる形状および大きさを有する適合タイプの単位領域R0と、機能性の液の一部が周囲にあふれる非適合タイプの単位領域R1と、単位領域内の一部が機能性の液で満たされない形状および大きさを有する非適合タイプの単位領域R2のいずれかに分類される。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种容易确定图形形成的适当/不正确条件的图案质量管理图。解决方案：在图案质量管理图中，多个单位区域组G11-Gij形成在每个单位区域组包括三个单位区域，分别包括与功能性液体具有特异性亲和力以形成图案并由比特定亲和力低的亲和力的第二区域包围的第一区域。每个单位区域被分成具有形状和尺寸的一致性单位区域R0，使得单位区域填充有功能液体而不溢出，其中一部分功能液体流过周边部分的不一致型单元区域R1 以及当在指定条件下将特定量的功能液体供给到单位区域时，具有形状和尺寸使得单位区域的一部分未被功能液体填充的不一致型单位区域R2。

5. 发明专利

JPWO2012023211A1 半導体装置有权
公开(公告)号：JPWO2012023211A1
公开(公告)日：2013-10-28
申请号：JP2012529470
申请日：2010-08-20
申请人：富士通株式会社
发明人：輝昭矢越 , 輝昭矢越
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R35/007 , G01R31/31709 , G06F17/00
摘要：試験回路の素子ごとに発生するバラツキを補償し、どの半導体装置でも同等な試験を実施出来る、試験装置を内蔵した半導体装置を提供する。予めキャリブレーションされた、半導体装置の出力回路のドライバからの01交番のデータ信号を、同じ半導体装置の入力回路に入力する。該入力回路への入力を分岐して、入力信号の電圧振幅を計測する。これをドライバの出力振幅と比較し、誤差を補正値としてメモリに格納する。また、所定の位相とジッタ量を持ったクロックを使って、位相とジッタ量を計測する。これを所定の位相、ジッタ量と比較し、誤差を補正値としてメモリに格納する。試験においては、他ICからの入力信号の振幅とジッタ量を計測し、メモリに格納された補正値で補正して、振幅とジッタ量が規格を満たすか判断する。

6. 发明专利

JP2011525986A Rf calibration apparatus and method 有权
公开(公告)号：JP2011525986A
公开(公告)日：2011-09-29
申请号：JP2011515726
申请日：2009-06-18
申请人：デューン・メディカル・デバイシズ・リミテッド
发明人：イド・ゲルトナー , ギル・コーヘン , ダン・ハシムショニー
IPC分类号： G01R27/28 , G01R35/00
CPC分类号： G01R27/32 , G01R35/007
摘要：少なくとも1つのRFポート接続を介して(ネットワークアナライザを含む)アナライザユニットに接続可能に構成される測定装置が提示される。この測定装置は、少なくとも1つの測定ユニットと、該測定ユニットに接続および一体化された少なくとも1つの校正/制御ユニットと、を備える。この校正/制御ユニットは、少なくとも1つの測定ユニットをアナライザユニットに接続することを可能にするように構成される。この校正/制御ユニットは、RF反射係数が既知の複数の校正負荷にそれぞれ関連したいくつかの端子をそれぞれ備え、RF反射係数を示す記録データ、および校正/制御ユニットのRF伝達係数を示す記録データを保持するメモリユーティリティを備える。この校正により、校正/制御ユニットに一体化されたまま測定ユニットのRF応答の計算を可能にする。

8. 发明专利

JP4025731B2 Timing correction device, timing correction method and device evaluation device 有权
公开(公告)号：JP4025731B2
公开(公告)日：2007-12-26
申请号：JP2004017023
申请日：2004-01-26
申请人：エルピーダメモリ株式会社
发明人：保則柴田
IPC分类号： G01R31/28 , G01R35/00
CPC分类号： G01R35/007

9. 发明专利

JP2006189440A Vector network analyzer mixer calibration using unknown thru calibration 审中-公开
标题翻译：使用未知的THRU校准的矢量网络分析仪混频器校准
公开(公告)号：JP2006189440A
公开(公告)日：2006-07-20
申请号：JP2005372695
申请日：2005-12-26
申请人： Agilent Technol Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： LIU JAMES C , WONG KENNETH H , BLACKHAM DAVID V
IPC分类号： G01R35/00 , G01R27/28
CPC分类号： G01R35/00 , G01R27/28 , G01R35/007
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a means that is not more complex and accurately calibrates a vector network analyzer. SOLUTION: In one embodiment, a method comprises applying a stimulus signal to a reference frequency translation device (FTD) 108 by a vector network analyzer 500 during a calibration mode, wherein the reference FTD possesses equal conversion efficiency in forward and reverse directions and the reference FTD possesses unknown input and output reflection characteristics; measuring a response of the reference FTD; and determining forward and reverse transmission tracking error terms 505 using data from the measured response and single-port error calibration terms. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供不复杂和精确校准矢量网络分析仪的手段。解决方案：在一个实施例中，一种方法包括在校准模式期间由矢量网络分析器500将刺激信号施加到参考频率转换装置（FTD）108，其中参考FTD在正向和反向方向具有相等的转换效率参考FTD具有未知的输入和输出反射特性; 测量参考FTD的响应; 以及使用来自测量响应和单端口错误校准项的数据来确定正向和反向传输跟踪误差项505。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

10. 发明专利

JP2005331298A Method for measuring characteristics of high-frequency circuit, pattern for calibration, and fixture for calibration 审中-公开
标题翻译：用于测量高频电路特性的方法，用于校准的图案和校准用的标准
公开(公告)号：JP2005331298A
公开(公告)日：2005-12-02
申请号：JP2004148309
申请日：2004-05-18
申请人： Mitsubishi Electric Corp , 三菱電機株式会社
发明人： HOSHI HIROYUKI , KURUSU HITOSHI
IPC分类号： G01R23/04 , G01R27/04 , G01R27/32 , G01R31/28 , G01R35/00 , H01L23/544 , H01L23/64 , H01L49/00 , H05K1/02
CPC分类号： G01R35/007 , G01R31/2822 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for measuring the characteristics of high-frequency circuits in such a way that RF signals may not be affected by measured values. SOLUTION: Prior to the measurement of the characteristics of high-frequency circuits with probe heads 30 and 32 for RF measurement, the probe heads 30 and 32 for RF measurement are calibrated through the use of an extended line 14 for signals arranged on a dielectric substrate 12 and having one characteristic impedance; a first GND pad 16 having one end arranged in the vicinity of a first end part 14a of the line 14 for signals at a prescribed interval; a second GND pad 24 having one end arranged in the vicinity of a second end part of the line for signals at a prescribed interval; and a calibration pattern 10 provided with a through hole electrode 18, a via hole 20, and a back metal layer 22 as conductors for connecting the first GND pad 16 to the second GND pad 24. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于测量高频电路的特性的方法，使得RF信号可能不受测量值的影响。
解决方案：在测量具有用于RF测量的探针头30和32的高频电路的特性之前，用于RF测量的探针头30和32通过使用延伸线14来校准，所述探针头30和32布置在电介质基板12，具有一个特征阻抗; 第一GND焊盘16，其一端布置在线路14的第一端部14a附近，用于以规定间隔的信号; 第二GND焊盘24，其一端以规定的间隔布置在用于信号的线的第二端部附近; 以及设置有用于将第一GND焊盘16连接到第二GND焊盘24的导体的通孔电极18，通孔20和背面金属层22的校准图案10。（C）2006， JPO＆NCIPI

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