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    • 10. 发明专利
    • 粒子測定装置
    • 颗粒测量装置
    • JP2016125821A
    • 2016-07-11
    • JP2014264041
    • 2014-12-26
    • 株式会社東芝
    • 中村 善昭
    • G01N15/12G01N27/02
    • G01N33/48721G01N33/48728
    • 【課題】ウイルス、タンパク質、DNAなどの測定対象粒子の測定に際し、浮遊容量の増加に伴う測定電流値の時間応答速度の低下または電流測定値のSN比の低下を解消して精度の高い測定が可能で、かつ簡素な構造を有する粒子測定装置を提供する。 【解決手段】第1のチャンバと、第2のチャンバと、前記第1のチャンバと前記第2のチャンバの間に設けられた隔壁と、前記隔壁に開口され、前記第1のチャンバと前記第2のチャンバとを連通する貫通孔と、前記第1のチャンバ側に設けられる第1の電極と、前記第2のチャンバ側に設けられる第2の電極と、を具備する粒子測定装置であって、前記第1、第2の電極は、少なくとも表面層が互いに異なる金属もしくは合金を含み、前記第1の電極に含まれる金属もしくは合金のイオン化傾向をIa、前記第2の電極に含まれる金属もしくは合金のイオン化傾向をIbとすると、Ia
      【選択図】図1
    • 要解决的问题:为了提供一种结构简单的粒子测量装置,通过消除测量电流值的时间响应速度的降低或由于电流测量值导致的当前测量值的SN比的降低,能够进行高精度的测量 当测量物体颗粒,例如病毒,蛋白质或DNA时,杂散电容的增加。微粒测量装置包括:第一室; 第二个房间 设置在所述第一室和所述第二室之间的隔板; 在所述隔板中敞开的通孔,并且在所述第一室和所述第二室之间连通; 设置在第一室侧的第一电极; 以及设置在第二室侧的第二电极。 第一和第二电极在至少表面层中含有相互不同的金属或合金。 保持关系Ia