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    • 6. 发明专利
    • 光学分析装置
    • 光学分析仪
    • JP2016145770A
    • 2016-08-12
    • JP2015023173
    • 2015-02-09
    • 株式会社島津製作所
    • 長井 悠佑小川 佳祐渡邉 真人神宮 句実子藤原 理悟山崎 智之
    • G01N21/27G01N21/01
    • H05B33/0851G01N21/33G01N2201/0621G01N2201/0638G01N2201/0692G01N2201/0695
    • 【課題】光源であるLEDの発光光量のフィードバック制御を行う光学分析装置において、光学系の構成を簡単にするとともに光学系部品の配置の自由度を確保する。 【解決手段】光照射部1から試料セル3に至る光路上に、大部分の光を集束しつつ一部の光を非集束光として放出する光学部材2を設ける。光学部材2は例えば所定距離離した二個のボールレンズなど、簡単な構成で実現可能である。光学部材2で集束した光は測定光として試料セル3に照射される。一方、非集束光が到達する位置には第2光検出器5を配置する。第2光検出器5はモニタ光として入射した光の光量に応じた検出信号を生成し、駆動電流制御部6、電流源7を通して、光量が一定に維持されるようにLEDに供給する駆動電流を制御する。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:为了简化光学系统的配置并且确保光学分析仪的光学系统部件的布置的灵活性,该分析仪反馈控制作为光源的LED的发射强度。解决方案:在来自光照射的光路中 单元1到样本单元3,设置光学构件2,其将大部分光聚焦,同时释放一部分光作为未聚焦的光。 光学构件2可以被实现为诸如间隔开预定距离的两个球透镜的简单配置。 由光学构件2聚焦的光作为测量光照射在样品池3上。 同时,第二光电检测器5设置在未聚焦的光到达的位置。 第二光电检测器5产生对应于入射到其上的光的强度的检测信号作为监控光,并且通过驱动电流控制器6和电流源7控制提供给LED的驱动电流以保持光强度不变。选择图示: 图1