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1. 发明专利

JP2015096643A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015096643A
公开(公告)日：2015-05-21
申请号：JP2013237307
申请日：2013-11-15
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰 , 佐藤秀勝 , 菊池昌宏 , 木村昌弘
IPC分类号： C22C9/00
摘要：【課題】チタン銅の強度及び曲げ加工性のバランスを向上する。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、電子線回折におけるサテライトの回折斑点の輝度が0.05〜0.35であるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提高钛铜的强度和弯曲性的平衡。解决方案：提供含有2.0〜4.0质量％的Ti的电子部件用的钛铜和选自Fe，Co的一种以上，Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P的总和为0〜0.5质量％，余量为铜与不可避免的杂质，并具有卫星衍射点的亮度在电子束衍射中为0.05〜0.35。

2. 发明专利

JP2015140476A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015140476A
公开(公告)日：2015-08-03
申请号：JP2014015874
申请日：2014-01-30
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： H01B1/02 , H01B5/02 , C22C9/00
摘要：【課題】粒界反応相の制御によってチタン銅に対する強度と延性の優れたバランスを得る。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面の組織観察において、各結晶粒中で粒界反応相の占める最大の面積率が5〜30%であるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：通过控制晶界反应相来获得对钛铜的强度和延展性的优异平衡。解决方案：提供含有2.0至4.0质量％的Ti的电子部件的钛铜，其中选自由Fe，Co，Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P组成的组合，作为总计为0〜0.5质量％的第三元素，余量为铜与不可避免的杂质，通过平行于轧制方向的横截面的结构观察，每个晶粒中的晶界反应相占据的面积百分比为5〜30％。

3. 发明专利

JP2015127440A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015127440A
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：JP2013272861
申请日：2013-12-27
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： C22F1/08 , C22C9/00
摘要：【課題】チタン銅において、Ti濃度のゆらぎを従来とは別の観点で制御し、強度及び曲げ加工性の向上を図る。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度ゆらぎ曲線において、隣り合う山部の山頂と谷部の谷底を直線で結んだときの傾きの絶対値の平均が0.30〜1.00質量%/nmであり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm 2 当たりの個数が35個以下であるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：通过从常规方法不同的角度控制Ti浓度的波动来提高钛铜的强度和弯曲性。解决方案：提供一种含有2.0至4.0质量％的Ti的电子部件用钛钢，总计 0〜0.5质量％的由Fe，Co，Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P组成的组中的一种或多种，作为第三元素，余量为具有不可避免的杂质，并且在T浓度的波动曲线中连接在0.30〜1.00质量％/ nm的直线上的谷部的峰部和相邻的底部的峰值时的平均绝对值的平均值在通过EDX对母相中的Ti进行线分析时，关于在平行于轧制方向的截面上的<100>取向的晶粒和具有在横截面的结构观察时的尺寸平行的第二相粒子的数量滚滚的可怕每个观察场10000μm的3μm以上，35或更小的3次。

4. 发明专利

JP2015127437A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015127437A
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：JP2013272845
申请日：2013-12-27
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： H01B1/02 , H01B5/02 , C22C9/00
CPC分类号： C22C9/00 , C22F1/08 , H01B1/026 , C22F1/00
摘要：【課題】チタン銅において、Ti濃度のゆらぎを従来とは別の観点で制御し、強度及び曲げ加工性の向上を図る。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2〜0.8であり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm 2 当たりの個数が35個以下であるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：通过从常规方法不同的角度控制Ti浓度的波动来提高钛铜的强度和弯曲性。解决方案：提供一种含有2.0至4.0质量％的Ti的电子部件用钛钢，总计 0〜0.5质量％的由Fe，Co，Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P组成的组中的一种或多种，作为第三元素，余量为在通过EDX对母相中的Ti的线分析与平行于轧制的截面的<100>取向的结晶粒子进行的线性分析时，获得的T浓度的波动曲线中的不可避免的杂质变化系数为0.2〜0.8 方向和具有与轧制方向平行的横截面的结构观察的尺寸为3μm以上的第二相粒子的数量为每10000观察场的35以下。

5. 发明专利

JP2015098622A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015098622A
公开(公告)日：2015-05-28
申请号：JP2013238335
申请日：2013-11-18
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： H01B1/02 , C22C9/00
CPC分类号： C22C9/00 , B22D27/003 , B22D27/15 , B22D7/005 , C22C1/02 , C22F1/08 , H01B1/026 , H01R13/03 , C22F1/00
摘要：【課題】大きなTi濃度のゆらぎをもつチタン銅を提供する。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における方位の結晶粒について母相中のTi濃度を面分析したときのTi濃度の最大最小差が5〜16質量%であるチタン銅。【選択図】なし
摘要翻译：要解决的问题：提供具有大的Ti浓度波动的钛铜。解决方案：提供含有2.0〜4.0质量％的Ti的电子部件的钛铜，以及选自Fe，Co， Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P为总量为0〜0.5质量％的第三元素，余量为铜与不可避免的杂质，Ti浓度的最大和最小差为5 在与轧制方向平行的截面上以<100>取向的结晶粒子的基材中的Ti浓度的平面分析，为16质量％。

6. 发明专利

JP2015096642A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015096642A
公开(公告)日：2015-05-21
申请号：JP2013237295
申请日：2013-11-15
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： C22F1/08 , H01B1/02 , H01B5/02 , H01B13/00 , C22C9/00
摘要：【課題】大きなTi濃度のゆらぎをもつチタン銅を提供する。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における方位の結晶粒について母相中のEDXによるTi検出強度をライン分析したときのTi検出強度の波高が35〜180cpsであるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供具有大的Ti浓度波动的钛铜。溶液：提供含有2.0〜4.0质量％的Ti的电子成分的钛铜，以及选自Fe，Co， Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P的总和为0〜0.5质量％，余量铜为不可避免的杂质，其波高Ti检测强度为35 在平行于轧制方向的横截面上沿着<100>方向的晶体颗粒的母相中的EDX的Ti检测强度的线分析为180cps。

7. 发明专利

JP2015140477A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015140477A
公开(公告)日：2015-08-03
申请号：JP2014015891
申请日：2014-01-30
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： H01B1/02 , H01B5/02 , H01B1/00 , H01B5/00 , C22C9/00
摘要：【課題】粒界反応相の制御によってチタン銅に対する強度と延性の優れたバランスを得る。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面の組織観察において、全粒界長さに対して粒界反応相が粒界を占める長さの割合が5〜40%であり、且つ、個々の粒界反応相について粒界に沿った長さをaとし、粒内方向への長さをbとして、b/aで表される粒界反応相のアスペクト比の平均値が0.1〜0.8であるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：通过控制晶界反应相来获得对钛铜的强度和延展性的优异平衡。解决方案：提供含有2.0至4.0质量％的Ti的电子部件的钛铜，其中选自由Fe，Co，Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P组成的组合，作为总计为0〜0.5质量％的第三元素，余量为铜与不可避免的杂质，晶界反应相占晶界长度为5〜40％，晶界反应相的纵横比的平均值为b / a，其中a为沿着晶粒的长度边界b是通过与轧制方向平行的剖面的结构观察，在每个晶界反应相中的晶粒内方向上的长度为0.1〜0.8。

8. 发明专利

JP2015127438A 電子部品用チタン銅有权
标题翻译：电子元器件用铜
公开(公告)号：JP2015127438A
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：JP2013272854
申请日：2013-12-27
申请人： JX日鉱日石金属株式会社
发明人：堀江弘泰
IPC分类号： H01B1/02 , C22C9/00
摘要：【課題】チタン銅において、Ti濃度のゆらぎを従来とは別の観点で制御し、強度及び曲げ加工性の向上を図る。【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度ゆらぎ曲線及びTi濃度平均線が、Ti濃度平均線に占めるTi濃度ゆらぎ曲線の各山部の長さの平均が5〜20nmとなる関係を満たし、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm 2 当たりの個数が35個以下であるチタン銅。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：通过从常规方法不同的角度控制Ti浓度的波动来提高钛铜的强度和弯曲性。解决方案：提供一种含有2.0〜4.0质量％的Ti的电子部件用钛钢，总计 0〜0.5质量％的由Fe，Co，Mg，Si，Ni，Cr，Zr，Mo，V，Nb，Mn，B和P组成的组中的一种或多种，作为第三元素，余量为具有不可避免的杂质，并且当通过EDX对母相中的Ti进行线分析时，在与方向平行的横截面上的<100>取向的晶粒和Ti浓度平均线上获得的T浓度的波动曲线满足关系，使得Ti浓度平均线中的T浓度的波动曲线的每个波峰部分的长度的平均值为5至20nm，并且具有在结构观察中的尺寸的第二相颗粒的数量平行于轧制方向的3段或3层以上，每10000观察场为35以下。

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