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1. 发明专利

JP6645758B2 直流遮断器の試験方法有权
公开(公告)号：JP6645758B2
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：JP2015128419
申请日：2015-06-26
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：橋本優平 , 宮崎健作 , 種子田賢宏 , 乙幡将吾 , 工藤喜悦 , 小山博
IPC分类号： G01R31/333

2. 发明专利

JP6363442B2 トリガギャップ审中-公开
公开(公告)号：JP6363442B2
公开(公告)日：2018-07-25
申请号：JP2014186001
申请日：2014-09-12
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：種子田賢宏 , 宮崎健作 , 工藤喜悦 , 橋本優平
IPC分类号： H01H33/00 , H01H33/66 , G01R31/327 , G01R31/333 , H05H1/48 , H01T2/02

3. 发明专利

JP2016058340A トリガギャップ审中-公开
标题翻译：触发器GAP
公开(公告)号：JP2016058340A
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：JP2014186001
申请日：2014-09-12
申请人：株式会社東芝
发明人：種子田賢宏 , 宮崎健作 , 工藤喜悦 , 橋本優平
IPC分类号： G01R31/327 , G01R31/333 , H01H33/00 , H01H33/66 , H05H1/48 , H01T2/02
摘要：【課題】ギャップ間の耐電圧性能を向上させ、トリガギャップ一台で合成投入試験可能なトリガギャップを提供する。【解決手段】一対の対向電極1及びトリガ付電極2がギャップ8を介して対向するように設けられたトリガギャップTGであって、トリガ付電極2は、アークプラズマ6を発生させるものであり、内部に設けられた蓄圧室4と、蓄圧室4内に設けられ、蓄圧室4内壁との間でアーク放電を発生させるためのトリガ電極5と、蓄圧室4とギャップ8とを連通させるノズル3と、を備え、アーク放電により蓄圧室4内で発生したアークプラズマ6を、蓄圧室4内で圧力上昇させノズル3を通じて対向する対向電極1に放出する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供触发间隙，通过提高间隙之间的耐压性能，提供一个触发间隙的合成输入测试。解决方案：在触发间隙TG中，一对对电极1和电极2具有触发器经由间隙8彼此相对地设置，具有触发器的电极2产生电弧等离子体6，并且包括设置在内部的压力积聚室4，设置在压力积聚室4中的触发电极5，压力积聚室4的内壁和用于将压力积聚室4和间隙8互连的喷嘴3，并且通过电弧放电将在压力积聚室4中产生的电弧等离子体6通过喷嘴3喷射到对电极1，增加压力积聚室4中的压力。选择图：图1

4. 发明专利

JP5872184B2 耐雷性能試験装置及び試験方法有权
标题翻译：闪电测试设备和测试方法
公开(公告)号：JP5872184B2
公开(公告)日：2016-03-01
申请号：JP2011095105
申请日：2011-04-21
申请人：株式会社東芝
发明人：宮崎健作 , 工藤喜悦 , 種子田賢宏
IPC分类号： G01R31/333 , G01R31/00 , G01R31/327

5. 发明专利

JP2017009552A 直流遮断器の試験方法审中-公开
标题翻译：测试直流断路器的方法
公开(公告)号：JP2017009552A
公开(公告)日：2017-01-12
申请号：JP2015128419
申请日：2015-06-26
申请人：株式会社東芝
发明人：橋本優平 , 宮崎健作 , 種子田賢宏 , 乙幡将吾 , 工藤喜悦 , 小山博
IPC分类号： G01R31/333 , G01R31/327
CPC分类号： G01R31/327 , G01R31/333
摘要：【課題】交流遮断器の合成試験法に用いる試験装置で、直流遮断器の遮断性能を検証する直流遮断器の試験方法を提供する。【解決手段】電流源回路Aと電圧源回路Bとを備える試験装置を用いて遮断性能を検証するための直流遮断器1の試験方法であって、直流遮断器1に、少なくとも電流源回路Aから交流の電流を供給し、当該電流が直流系統の系統事故による事故電流相当となった時点で、直流遮断器1により当該電流を遮断し、前記遮断以前に、電圧源回路Bを直流遮断器1に接続することにより直流遮断器1に電圧を印加し、前記遮断と同時に電圧源回路Bから回復電圧を印加する。【選択図】図1
摘要翻译：甲在用于交流断路器的合成测试方法的测试装置，用于测试所述直流断路器的方法，以验证直流断路器的断路性能。解决方案：将电流源电路A和电压供应电路B和测试DC断路器1为使用测试装置，其包括，一个DC断路器1，至少所述电流源电路A验证所述断路性能的方法供给交流电流从，当电流达到的故障电流由所述直流系统的系统故障对应，并中断电流由DC断路器1，截止先前，直流断路器电压源电路乙通过连接到一个通过将电压施加到所述DC电路断路器1，在从所述电压源电路B和截止的同时施加恢复电压。 1点域

6. 发明专利

JP2019211260A 真空遮断器の投入試験装置およびその試験方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019211260A
公开(公告)日：2019-12-12
申请号：JP2018105775
申请日：2018-06-01
申请人：株式会社東芝 , 東芝インフラシステムズ株式会社
发明人：乙幡将吾 , 宮崎健作 , 種子田賢宏 , 橋本優平 , 小山博
IPC分类号： H01H33/00 , G01R31/333
摘要：【課題】短時間の間にプレアークが消弧されてしまう場合のある真空遮断器の閉路試験を、より確実に行うことができる真空遮断器の投入試験装置およびその試験方法を提供する。【解決手段】真空遮断器の試験装置1は、被試験装置である真空遮断器8の投入時に、真空遮断器8に電圧を供給する電圧発生部2と、電圧発生部2から真空遮断器8に供給された電流を検出する検出部4と、検出部4により、電圧発生部2から真空遮断器8に電流が供給されたことが検出されたときに、真空遮断器8に電流を供給する電流発生部3と、を有し、電圧発生部2は、検出部4により電流が検出されたときから最大電流を発生するまでのピーク時間が異なる電流を発生する複数の電圧回路20a、20b、20cを有する。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2016213123A 直流遮断器の試験装置及びその試験方法审中-公开
标题翻译：直流断路器的测试设备和测试方法
公开(公告)号：JP2016213123A
公开(公告)日：2016-12-15
申请号：JP2015097664
申请日：2015-05-12
申请人：株式会社東芝
发明人：橋本優平 , 宮崎健作 , 種子田賢宏 , 工藤喜悦 , 乙幡将吾 , 小山博
IPC分类号： H01H33/59 , H01H9/54 , G01R31/327 , G01R31/333 , H01H33/00
摘要：【課題】直流遮断器に対して継続的な直流回復電圧を印加することのできる直流遮断器の試験装置及びその試験方法を提供する。【解決手段】直流電流を遮断するための直流遮断器1の試験装置において、直流遮断器1に対して、直流電流を供給する直流電流供給電源回路Aと、直流遮断器1に対して、故障電流を供給する故障電流供給電源回路Bと、直流遮断器1に対して、回復電圧を印加するための回復電圧用電源回路Cと、を備える。【選択図】図1
摘要翻译：为了提供能够施加DC恢复电压和测试方法相对于所述直流断路器的直流断路器的连续测试装置。用于测试DC断路器1用于中断的直流对直流断路器1，用于将DC断路器1供给直流电流的直流电源电路A，故障的装置包括：用于提供电流的DC电路断路器1，以及用于将恢复电压的电源电路C的恢复电压的故障电流供给电路B. 点域1

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