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    • 6. 发明专利
    • バイアス推定装置及び方法、並びに故障診断装置及び方法
    • 偏差估计装置和方法,以及故障诊断装置和方法
    • JP2016061658A
    • 2016-04-25
    • JP2014189355
    • 2014-09-17
    • 株式会社東芝
    • 森山 拓郎愛須 英之波田野 寿昭藤原 健一
    • G05B23/02G01D3/028
    • G05B13/04G05B17/02
    • 【課題】バイアスを精度よく推定することができるバイアス推定装置及び方法、並びに故障診断装置及び方法を提供する。 【解決手段】一実施形態に係るバイアス推定装置は、センサの計測値に含まれるバイアスを推定する。バイアス推定装置は、基準モデル構築部と、暫定バイアス生成部と、補正計測値算出部と、類似度算出部と、類似度選択部と、スコア算出部と、推定バイアス決定部と、を備える。基準モデル構築部は、計測値の基準モデルを構築する。暫定バイアス生成部は、暫定バイアスを生成する。補正計測値算出部は、補正計測値を算出する。類似度算出部は、類似度をデータごとに算出する。類似度選択部は、複数の類似度の中から、値の大きさに応じて一部の類似度を選択する。スコア算出部は、選択された類似度に基づいて、スコアを算出する。推定バイアス決定部は、スコアに基づいて、バイアスの推定値である推定バイアスを決定する。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种可以以高精度估计偏差的偏差估计装置和方法,以及故障诊断装置和方法。根据一个实施例的偏置估计装置估计包括在 传感器的测量值。 偏置估计装置包括参考模型构造单元,临时偏置生成单元,校正测量值计算单元,相似度计算单元,相似性选择单元,分数计算单元和估计偏差确定单元。 参考模型构建单元构建测量值参考模型。 临时偏置产生单元产生临时偏置。 校正测量值计算单元计算校正测量值。 相似度计算单元计算每条数据的相似度。 相似性选择单元根据值的大小从多个相似度中选择一些相似度。 分数计算单元基于所选择的相似度来计算分数。 估计偏差确定单元基于评分来确定作为偏差的估计值的估计偏差。选择的图示:图1