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1. 发明专利

JP2017173291A 物質分析方法および分析装置有权
公开(公告)号：JP2017173291A
公开(公告)日：2017-09-28
申请号：JP2016226443
申请日：2016-11-22
申请人：株式会社東芝
发明人：麻柄隆 , 津村明 , 長谷川裕 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/39 , G01N21/3504
摘要：【課題】吸収率を高い精度で測定可能な物質分析方法および分析装置を提供する。【解決手段】物質分析方法は、測定試料に含まれる対象物質の少なくとも1つの吸収線を含む波数帯域内において、前記測定試料を透過した光の強度に対応したサンプル信号に基づいて、吸収率が低い区間のサンプル信号から暫定リファレンス信号を推定する第1ステップと、前記サンプル信号から前記暫定リファレンス信号を除算して暫定吸収率の分布を算出する第2ステップと、前記暫定吸収率が所定値以下となる波数区間を決定し、前記波数区間のサンプル信号に基づいてリファレンス信号を再推定する第3ステップと、前記サンプル信号から再推定された前記リファレンス信号を除算して吸収率の分布を算出する第4ステップと、を有する。【選択図】図3

2. 发明专利

JP2016017762A 光学遅延装置及び光コヒーレンストモグラフィー装置审中-公开
标题翻译：光学延迟器件和光学相干光学设备
公开(公告)号：JP2016017762A
公开(公告)日：2016-02-01
申请号：JP2014138728
申请日：2014-07-04
申请人：株式会社東芝
发明人：岡野英明 , 立田真一 , 長谷川裕 , 高峯英文
IPC分类号： G02B27/50 , G02B26/06 , G01N21/17
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02028 , G02B17/023 , G02B26/0816 , G02B13/22
摘要：【課題】大きな光路長を実現する小型の光学遅延装置を提供する。【解決手段】実施形態に係る光学遅延装置は、第1のリトロリフレクタ、第2のリトロリフレクタ、第3のリトロリフレクタ、及び第1の駆動機構を備える。第1のリトロリフレクタは、互いに略直交する第1反射面及び第2反射面を有する。第2のリトロリフレクタは、第1反射面に対向しかつ互いに略直交する第3反射面及び第4反射面を有する。第3のリトロリフレクタは、第2反射面に対向しかつ互いに略直交する第5反射面及び第6反射面を有する。第1の駆動機構は、第1のリトロリフレクタと第2のリトロリフレクタ及び第3のリトロリフレクタの組とを相対的に移動させる。第1反射面と第2反射面との第1交線は、第3反射面と第4反射面との第2交線と略垂直であり、第2交線は、第5反射面と第6反射面との第3交線と略平行であり、第2交線及び第3交線は、第1交線に沿った方向にずれて位置する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供实现大光路长度的紧凑型光延迟装置。解决方案：本实施例的光延迟装置包括第一后向反射器，第二后向反射器，第三后向反射器和第一驱动机构。第一后向反射器具有基本上彼此正交的第一反射面和第二反射面。第二后向反射器具有面向第一反射面并且基本上彼此正交的第三反射面和第四反射面。第三回射器具有面向第二反射面的第五反射面和第六反射面，并且基本上彼此正交。第一驱动机构相对地移动第一后向反射器和一组第二和第三后向反射器。第一和第二反射面的第一交点基本上垂直于第三和第四反射面的第二交点，第二交点基本上平行于第五和第六反射面的第三交点，第二和第二反射面的位置第三个十字路口沿着第一个十字路口方向移动。选择图：图1

3. 发明专利

JP2018077495A 画像表示装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018077495A
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：JP2017239867
申请日：2017-12-14
申请人：株式会社東芝
发明人：立田真一 , 岡野英明 , 高峯英文 , 長谷川裕
IPC分类号： H04N13/30 , G02B27/22
摘要：【課題】視域角を広げるとともに、クロストークを低減することが可能な画像表示装置を提供する。【解決手段】画像表示装置は、第1光線を投射する投射部を備える。また、前記第1光線を偏向して第2光線を出射するための第1の偏向部103Aと、前記第2光線を偏向する第2の偏向部103Bとを備える。前記第1の偏向部103Aは、前記第1光線が入射する凸状の第1のシリンドリカルレンズ1031Aが第1方向に複数配列する。前記第2の偏向部103Bは、前記第2光線が入射する凸状の第2のシリンドリカルレンズ1031Bが前記第1方向に複数配列し、その光軸が前記第1のシリンドリカルレンズ1031Aの光軸と前記第2方向に一致するように設けられる。前記第1のシリンドリカルレンズ1031Aの前記第1方向の幅は、前記第2のシリンドリカルレンズ1031Bの前記第1方向の幅よりも大きい。【選択図】図3

4. 发明专利

JP6240339B2 ガス分析装置及びガス処理装置有权
公开(公告)号：JP6240339B2
公开(公告)日：2017-11-29
申请号：JP2016549967
申请日：2015-03-16
申请人：株式会社東芝
发明人：高木茂行 , 角野努 , 長谷川裕 , 塩見康友 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/3504 , H01S5/14 , H01S5/0687 , H01S5/022 , G01N21/39
CPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/39 , H01S5/022

5. 发明专利

JP2017173162A ガス分析方法およびガス測定装置有权
公开(公告)号：JP2017173162A
公开(公告)日：2017-09-28
申请号：JP2016060397
申请日：2016-03-24
申请人：株式会社東芝
发明人：麻柄隆 , 津村明 , 長谷川裕 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/39
CPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/39
摘要：【課題】吸収率を高い精度で測定可能なガス分析方法を提供する。【解決手段】ガス分析方法は、サンプルガスに含まれる対象ガスの少なくとも1つの吸収線を含む波数帯域内で赤外線の波数を変化させ、前記サンプルガスを透過した前記赤外線の強度の変化を測定してサンプル信号とする第1ステップと、吸収率が低い区間のサンプル信号から暫定リファレンス信号を推定する第2ステップと、前記サンプル信号から前記暫定リファレンス信号を除算して暫定の吸収率の分布を算出する第3ステップと、前記暫定の吸収率が所定値以下となる波数区間を決定し、前記波数区間のサンプル信号に基づいてリファレンス信号を再推定する第4ステップと、前記サンプル信号から再推定された前記リファレンス信号を除算して吸収率の分布を算出する第5ステップと、を有する。【選択図】図3

6. 发明专利

JP6049930B1 ガス分析方法およびガス測定装置有权
标题翻译：气体分析方法和气体计量装置
公开(公告)号：JP6049930B1
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：JP2016060397
申请日：2016-03-24
申请人：株式会社東芝
发明人：麻柄隆 , 津村明 , 長谷川裕 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/39 , G01N21/3504
CPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/39
摘要：【課題】吸収率を高い精度で測定可能なガス分析方法を提供する。【解決手段】ガス分析方法は、サンプルガスに含まれる対象ガスの少なくとも1つの吸収線を含む波数帯域内で赤外線の波数を変化させ、前記サンプルガスを透過した前記赤外線の強度の変化を測定してサンプル信号とする第1ステップと、吸収率が低い区間のサンプル信号から暫定リファレンス信号を推定する第2ステップと、前記サンプル信号から前記暫定リファレンス信号を除算して暫定の吸収率の分布を算出する第3ステップと、前記暫定の吸収率が所定値以下となる波数区間を決定し、前記波数区間のサンプル信号に基づいてリファレンス信号を再推定する第4ステップと、前記サンプル信号から再推定された前記リファレンス信号を除算して吸収率の分布を算出する第5ステップと、を有する。【選択図】図3
摘要翻译：以提供具有高吸收率的精度可测量的气体分析方法。一种气体分析方法，在一个频带包括样品气体中的目标气体中的至少一个吸收线，通过改变红外线的波数来测量的红外光的通过样品气体发射的强度的变化取样信号的第一步骤，以及从所述样品信号来估计临时参考信号的第二步骤是低吸收部，临时的吸收率的由从所述分割的临时参考信号的分布采样信号计算特临时的吸收率的第三步骤确定的波数间隔大于预定值等于或更小，并且再估算基于所述波数间隔的采样信号的基准信号，从采样信号重新估计第四步骤且具有通过将参考信号计算的吸收率的分布的第五步骤。点域

7. 发明专利

JP2016061734A 分析装置审中-公开
标题翻译：分析仪
公开(公告)号：JP2016061734A
公开(公告)日：2016-04-25
申请号：JP2014191670
申请日：2014-09-19
申请人：株式会社東芝
发明人：長谷川裕 , 高木茂行 , 角野努 , 塩見康友 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/39
摘要：【課題】高精度の分析装置を提供する。【解決手段】実施形態によれば、分析装置は、セル部と、光源部と、モニタ部と、検出部と、演算部と、を含む。セル部には、対象物質を含む試料が導入される。光源部は、セル部に導入された試料に波長が可変の測定光を入射する。モニタ部は、セル部に入射する測定光の波長の変化と、セル部に入射する測定光の強度と、を検出し、波長の変化に応じた波長シフト信号と、強度に応じた強度信号と、を出力する。検出部は、セル部から出射した測定光を検出する。演算部は、検出部で検出された測定光の検出結果と、強度信号と、に基づいて、試料中に含まれる対象物質の濃度を算出する。光源部は、波長シフト信号に基づいて光源部から出射される測定光の波長を制御する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种高精度的分析器。解决方案：一种分析仪，包括单元部分，光源部分，监视部分，检测部分和运算部分。将含有目标物质的样品引入细胞部分。光源部使得具有可变波长的测量光入射到引入到单元部分的样本。监视器部分检测入射到单元部分的测量光的波长变化和入射到单元部分的测量光的强度，并输出与波长的变化相对应的波长移位信号和对应于强度。检测部检测从单元部发出的测量光。算术部根据由检测部检测出的测定光的检测结果和强度信号，计算检体内所含物质的浓度。光源部根据波长偏移信号，控制从光源部发出的测量光的波长。图1：

8. 发明专利

JP6293855B2 物質分析方法および分析装置有权
公开(公告)号：JP6293855B2
公开(公告)日：2018-03-14
申请号：JP2016226443
申请日：2016-11-22
申请人：株式会社東芝
发明人：麻柄隆 , 津村明 , 長谷川裕 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/39 , G01N21/3504

9. 发明专利

JP6283291B2 ガス分析装置及びガスセル有权
公开(公告)号：JP6283291B2
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：JP2014192249
申请日：2014-09-22
申请人：株式会社東芝
发明人：塩見康友 , 高木茂行 , 長谷川裕 , 角野努 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/61

10. 发明专利

JP2016061754A ガス分析装置及びガスセル有权
标题翻译：气体分析仪和气体细胞
公开(公告)号：JP2016061754A
公开(公告)日：2016-04-25
申请号：JP2014192249
申请日：2014-09-22
申请人：株式会社東芝
发明人：塩見康友 , 高木茂行 , 長谷川裕 , 角野努 , 前川陽 , 草場美幸
IPC分类号： G01N21/61
摘要：【課題】高精度のガス分析装置及びガスセルを提供する。【解決手段】実施形態によれば、ガス分析装置は、ガスセルと、光源部と、検出部と、第1反射部と、第2反射部と、を含む。ガスセルは、試料気体が導入される空間を含む。光源部は、空間に導入された試料気体に測定光を入射する。検出部は、空間から出射した測定光を検出する。前記空間は、前記第1反射部と前記第2反射部との間に配置される。前記第1状態において前記空間に入射して前記空間から出射するまでの前記測定光の第1光路長は、前記第2状態において前記空間に入射して前記空間から出射するまでの前記測定光の第2光路長とは異なる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供高精度的气体分析器和气室。解决方案：气体分析仪包括气室，光源部，检测部，第一反射部和第二反射部。气室包括引入样气的空间。光源部使得测量光入射到引入到该空间的样品气体。检测部检测从该空间发射的测量光。该空间设置在第一反射部和第二反射部之间。测量光的入射到空间的第一光路长度直到从第一状态从该空间发射，不同于测量光的入射到该空间的第二光程长度直到从空间处于第二状态。选择图：图1

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