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1. 发明专利

JP2015170075A 情報処理装置及びソフトウェア設計支援方法审中-公开
标题翻译：信息处理器和软件设计支持方法
公开(公告)号：JP2015170075A
公开(公告)日：2015-09-28
申请号：JP2014043635
申请日：2014-03-06
申请人：株式会社東芝
发明人：大場聡司 , 岡本渉 , 神代剛典 , 砂田徹也 , 阿部由紀子
IPC分类号： G06F11/36
摘要：【課題】並行して行われる複数の処理を含むシーケンス図からデータフローの異常を精度良く検出できる情報処理装置を実現する。【解決手段】実施形態によれば、情報処理装置は、第1検出手段と第2検出手段とを具備する。第1検出手段は、複数のオブジェクト間でデータを送受信するメッセージとオブジェクト内でデータを使用するメッセージとを含む複数のメッセージの実行が並行して行われる複数の処理を含むシーケンス図を用いて、当該シーケンス図内の関連するメッセージで用いられるデータの流れを追跡することによって、異常があるメッセージの候補を検出する。第2検出手段は、前記シーケンス図を用いて、前記シーケンス図内の関連しないメッセージで用いられるデータの流れを追跡することによって、前記異常があるメッセージの候補の内の、異常があるメッセージを検出する。【選択図】図5
摘要翻译：要解决的问题：提供一种信息处理器，其可以从包括并行执行的多个处理的序列图精确地检测数据流的异常。解决方案：信息处理器包括第一检测装置和第二检测装置。第一检测装置通过使用包括多个处理的序列图来跟踪在序列图中的相关消息中使用的数据流来检测具有异常的消息的候选，其中多个消息包括在多个服务器之间发送/接收数据的消息对象和使用对象中的数据的消息并行执行。第二检测装置通过使用序列图通过跟踪序列图中的不相关消息中使用的数据流来检测具有异常的消息的候选的异常的消息。

2. 发明专利

JP2015094964A 悪影響検出装置审中-公开
标题翻译：不良效应检测器
公开(公告)号：JP2015094964A
公开(公告)日：2015-05-18
申请号：JP2013231992
申请日：2013-11-08
申请人：株式会社東芝
发明人：阿部由紀子 , 岡本渉 , 神代剛典 , 大場聡司 , 砂田徹也
IPC分类号： G06F9/44
摘要：【課題】ソフトウェアを設計変更する際、既存の機能に悪影響を与える可能性のある箇所を実装前に検出する。【解決手段】既存のソフトウェア設計書と変更後のソフトウェア設計書を入力して、変更後に新たに追加された機能を抽出し、追加された機能の中で既存モジュールの状態を変化させる可能性がある状態変化機能を抽出し、状態変化機能の情報と、既存のソフトウェアテスト仕様書の各テストケースと期待値を組合せて、既存モジュールの状態を変更させ得る操作を反映させた新規テスト仕様を作成し、新規テスト仕様を基にテストコードを生成し、既存のソースコードに前記テストコードを一緒に走らせて、新規テストを実行し、新規テストを実行した際の実行パスと既存テストを実行した結果の実行パスの期待値を照合して、悪影響が起こる可能性のある箇所を検出し、実行時のパスが未知である場合、追加機能が既存ソースコードに悪影響を与え得ると検出する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：在软件设计更改时检测可能对实现之前的现有功能产生不利影响的部分。解决方案：不利影响检测器接收输入现有软件规格并输入更改的软件规格; 在更改后提取新增功能; 提取可能在添加的功能之间改变现有模块的状态的状态改变功能; 创建新的测试规范，反映可能通过将状态更改功能和每个测试用例以及现有软件规范的每个预期值的信息相结合来更改现有模块的状态的操作; 根据新的测试规范创建测试代码; 在使测试代码与现有源代码一起运行时执行新的测试; 作为现有测试的结果，通过将执行新测试时的执行路径与执行路径的期望值进行对照来检测可能具有不利影响的部分; 并且如果执行中的路径未知，则检测附加功能可能对现有源代码具有不利影响。

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