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1. 发明专利

JP2021135435A 全方向プリズム装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021135435A
公开(公告)日：2021-09-13
申请号：JP2020032955
申请日：2020-02-28
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸 , ▲配▼島康仁 , 田中康司 , 大保慶征
IPC分类号： G01C15/06 , G02B5/04 , G02B5/122
摘要：【課題】再帰反射の方向に対して制約がなく、水平全方向、鉛直全方向の全ての方向からの光線を再帰反射可能な全方向プリズム装置を提供する。【解決手段】全方向プリズム装置1は、保持部材2と、全方向プリズム3とを具備し、保持部材は、基板と該基板に連結されたネック部と、ネック部の先端に設けられた固着部9とを有し、全方向プリズムは3角プリズム5から構成される複数のプリズムユニット4を有し、プリズムユニットは基板の両面に貼合され、全方向プリズムは8面体に構成される。【選択図】図1

2. 发明专利

JP6884003B2 無人航空機の追跡装置、無人航空機の追跡方法、無人航空機の追跡システムおよびプログラム有权
公开(公告)号：JP6884003B2
公开(公告)日：2021-06-09
申请号：JP2017029066
申请日：2017-02-20
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： B64F1/36 , G01C15/00

3. 发明专利

JP6826888B2 測量装置、無人航空機の探索方法、測量システムおよびプログラム有权
公开(公告)号：JP6826888B2
公开(公告)日：2021-02-10
申请号：JP2017002419
申请日：2017-01-11
申请人：株式会社トプコン
发明人：小川満 , 篠崎元 , 西田信幸
IPC分类号： G01C15/00

4. 发明专利

JP6778044B2 ターゲットポール及び測量システム有权
公开(公告)号：JP6778044B2
公开(公告)日：2020-10-28
申请号：JP2016154523
申请日：2016-08-05
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/00 , G01C15/06

5. 发明专利

JP6761715B2 測量装置有权
公开(公告)号：JP6761715B2
公开(公告)日：2020-09-30
申请号：JP2016189365
申请日：2016-09-28
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/00

6. 发明专利

JP2020052035A 測定装置及び測定装置の制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020052035A
公开(公告)日：2020-04-02
申请号：JP2019149697
申请日：2019-08-19
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/00
摘要：【課題】線状、棒状および柱状の少なくともいずれかに形成される測定対象物の全体を簡易かつ効率良く測定することが可能な測定装置を提供すること。【解決手段】受光素子33からの受光信号に基づき測定対象物100の測距を行う測距部3Aと、測定光23の射出方向を基準光軸Oに対して偏向するとともに所定の中止に対して周方向に測定光23を走査可能な偏向部35と、測距部3Aおよび偏向部35を制御する演算制御部19と、を備え、演算制御部19は、測距部3Aの測距結果と偏向部35により偏向される射出方向とに基づいて電線100と測定光23の走査軌跡との一対の交点の座標を検出し、測定光23の走査軌跡と電線100とが交差するように一対の交点の座標に基づいて射出方向を変更するよう偏向部35の偏向作動を制御する測定装置1を提供する。【選択図】図2

7. 发明专利

JP2020012645A ターゲット装置及び測量システム审中-公开
公开(公告)号：JP2020012645A
公开(公告)日：2020-01-23
申请号：JP2018132983
申请日：2018-07-13
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/00 , G01C15/06
摘要：【課題】レーザスキャナによりオフセット観測を可能としたターゲット装置及び測量システムを提供する。【解決手段】測距光15をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナ3と、測距光を反射するターゲット6を有するターゲット装置2とを具備し、レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部12と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部13と、測距光偏向部を制御する演算制御部11とを具備し、演算制御部は、測距光偏向部によりターゲットの表面を通過する様測距光をスキャンし、スキャンで得られる点群データに基づきターゲット表面の曲面を演算し、曲面に基づき基準点を求め、基準点を測距する様構成された。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2020003409A 測量システムおよびターゲット特定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020003409A
公开(公告)日：2020-01-09
申请号：JP2018124860
申请日：2018-06-29
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/06 , G01C15/00
摘要：【課題】ターゲットが測量機の正対位置から水平方向に大きく離れている場合であってもターゲット像を迅速に特定する。【解決手段】測量機と、ターゲットとを備え、測量機は、鉛直軸を中心に回転可能な本体と、本体に支持されるとともに水平軸を中心に回転可能な望遠鏡と、望遠鏡が有する第1画角よりも広い第2画角を有する広角撮像部と、広角撮像部が撮像した画像に基づいて画像中のターゲット像を特定するターゲット特定部と、を有し、ターゲットは、レーザ光を射出する射出部を有し、ターゲット特定部は、射出部からレーザ光が射出されるオン期間に広角撮像部が撮像した第1画像と射出部からレーザ光が射出されないオフ期間に広角撮像部が撮像した第2画像との第1差分画像に基づいてターゲット像を特定する測量システムを提供する。【選択図】図6

9. 发明专利

JP2019128196A 測量装置および測量方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019128196A
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：JP2018008881
申请日：2018-01-23
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/00
摘要：【課題】レーザー測位の対象となるターゲットの地面や天井面からの距離をより簡便に計測できる技術を提供する。【解決手段】レーザースキャナ部300を備えたトータルステーションを複合化した測量装置400であって、レーザー測位により反射プリズム100の測位を行うTS機能部200と、反射プリズム100と前記レーザー測位の光軸を含む鉛直面に沿った地面に対するレーザースキャンを行うレーザースキャナ部300と、前記レーザースキャンにより得られた前記地面におけるレーザースキャン点群から抽出された反射プリズム100から前記特定の面への直線に近接する一または複数の点に基づき、地面と反射プリズム100との間の距離を算出する距離算出部とを備える測量装置400。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2019113491A ターゲット装置、測量方法、測量装置および測量用プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2019113491A
公开(公告)日：2019-07-11
申请号：JP2017249222
申请日：2017-12-26
申请人：株式会社トプコン
发明人：西田信幸
IPC分类号： G01C15/00 , G01C15/06
摘要：【課題】レーザー光を用いて測量対象物の姿勢を計測できる技術を得る。【解決手段】螺旋模様の表面を備えた螺旋表示ターゲット120を備えたターゲット装置130であって、螺旋模様の境の位置Bと下端の位置B 0 との間の距離Lに基づき、螺旋表示ターゲット130の螺旋軸回りの回転位置の検出が行われるターゲット装置130。【選択図】図4

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