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1. 发明专利

JP2018032561A X線装置およびX線装置の制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018032561A
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：JP2016165062
申请日：2016-08-25
申请人：株式会社ジョブ , 株式会社イシダ
发明人：小幡義治 , 花松茂 , 廣瀬修 , 株本隆司
IPC分类号： H05G1/54 , H05G1/26
CPC分类号： H05G1/66 , G03B42/02 , H05G1/34 , H05G1/52 , H05G1/54
摘要：【課題】フィラメントが破断する予兆を検知することができるX線装置およびX線装置の制御方法を提供する。【解決手段】陰極部5のフィラメント4に流れるフィラメント電流を制御することにより、ターゲット6を有する陽極部7と陰極部5との間を流れる管電流を一定に維持する制御を行なうX線装置1の制御方法において、フィラメント電流または管電流の少なくとも一方における電流値を監視して、この電流値の変動具合を検知して、電流値の変動具合に基づきフィラメント4の破断予兆ありまたは破断予兆なしを判定して、この判定に基づき警告を発する。【選択図】図1

2. 发明专利

JP6615719B2 X線装置およびX線装置の制御方法有权
公开(公告)号：JP6615719B2
公开(公告)日：2019-12-04
申请号：JP2016165062
申请日：2016-08-25
申请人：株式会社ジョブ , 株式会社イシダ
发明人：小幡義治 , 花松茂 , 廣瀬修 , 株本隆司
IPC分类号： H05G1/34 , H05G1/54 , H05G1/26

3. 发明专利

JP2016145778A X線検査装置及びX線検査方法有权
标题翻译： X射线检测装置和X射线检查方法
公开(公告)号：JP2016145778A
公开(公告)日：2016-08-12
申请号：JP2015023446
申请日：2015-02-09
申请人：株式会社ジョブ
发明人：山河勉 , 山本修一郎 , 小幡義治 , 山崎雅志
IPC分类号： G01N23/04
摘要：【課題】対象物(異物等)の少なくとも種類又は性状を、その厚さに無関係に且つより高精度に同定するX線検出装置を提供する。【解決手段】X線管31とX線検出装置22との間の空間に設定された、スキャン方向に平行な複数の断層面のフレームデータが、検出フレームデータに基づき作成される。この作成は、X線ビームのファン状の広がりと複数の断層像の高さ方向の位置の相違とに応じて行われる。複数の断層面のフレームデータからラミノグラフィー法に準じて断層像がそれぞれ作成される。その複数の断層面の断層像に基づいて検査対象に交差する面の画像が代表像として設定される。この代表像上で関心領域(例えば異物の領域)が設定される。代表像上で関心領域により指示された画素それぞれにて、異なる2つのX線エネルギー領域夫々のX線光子の計数値に基づく透過情報の差異情報から、関心領域の位置に在る物質の種類又は性状が同定される。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够更高精度地识别物体（异物等）的至少类型或性质的X射线检测装置，而与其厚度无关。解决方案：多个基于检测到的帧数据，创建设置在X射线管31和X射线检测装置22之间并平行于扫描方向的空间中的故障表面。根据X射线束的风扇状扩展与高度方向上的多个故障图像的位置之间的差异进行该创建。通过层析法从多个故障表面的帧数据创建每个故障图像。基于多个故障表面的故障图像将与检查对象相交的表面的图像设置为代表图像。在该代表图像上设置兴趣区域（例如，异物区域）。在感兴趣区域对代表图像指示的每个像素中，根据X射线光子的计数值从发送信息的差异信息中识别在感兴趣区域中的位置处设置的物质的类型或性质的两个不同的X射线能量区域。选择图：图2

4. 发明专利

JP6740216B2 X線検査用のデータ処理装置及びデータ処理方法、並びに、その装置を搭載したX線検査装置有权
公开(公告)号：JP6740216B2
公开(公告)日：2020-08-12
申请号：JP2017514170
申请日：2016-04-20
申请人：株式会社ジョブ
发明人：山河勉 , 山本修一郎 , 小幡義治 , 山▲さき▼ 雅志 , 岡田雅宏
IPC分类号： G01N23/044 , G01N23/18 , A61B6/12 , A61B6/14 , G01N23/087

5. 发明专利

JP6487703B2 X線検査装置及びX線検査方法有权
公开(公告)号：JP6487703B2
公开(公告)日：2019-03-20
申请号：JP2015023446
申请日：2015-02-09
申请人：株式会社ジョブ
发明人：山河勉 , 山本修一郎 , 小幡義治 , 山崎雅志
IPC分类号： G01N23/044

6. 发明专利

JPWO2016171186A1 Ｘ線検査用のデータ処理装置及びデータ処理方法、並びに、その装置を搭載したＸ線検査装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016171186A1
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：JP2017514170
申请日：2016-04-20
申请人：株式会社ジョブ
发明人：山河勉 , 山本修一郎 , 小幡義治 , 山▲さき▼ 雅志 , 岡田雅宏
IPC分类号： G01N23/046 , A61B6/12 , A61B6/14 , G01N23/18
CPC分类号： A61B6/00 , A61B6/12 , A61B6/14 , G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/18
摘要：物質の種類や性状を、厚さに無関係に、且つより高精度に同定可能にする。データ処理装置(12)は、X線管(21)から照射されて対象物を透過し且つ光子計数型検出ユニット(26)により検出されたX線のエネルギー領域毎且つ画素毎の計数値が処理する。この装置(12)は、計数値に基づいて対象物(OB)の画像を演算する手段(35)と、画像上に関心領域を設定する手段(35)とを備える。更に、この装置(12)は、画像から関心領域に存在する物質の背景となる画素情報を除去する手段(35)と、関心領域におけるX線のエネルギー領域毎且つ画素毎の計数値に基づいて、当該画素毎に物質のX線に対する固有の透過特性を固有情報として演算する手段(35)とを備える。

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