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1. 发明专利

JP2020046259A 電子スピン共鳴測定装置及びその調整方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020046259A
公开(公告)日：2020-03-26
申请号：JP2018173866
申请日：2018-09-18
申请人：日本電子株式会社
发明人：鈴木貴之 , 北澤正広
IPC分类号： G01N24/10
摘要：【課題】静磁場方向に対する高周波磁場方向のずれを解消又は軽減する。【解決手段】フレキシブル導波管76によりキャビティ52の姿勢変化が許容されている。ネジ90,92の操作により、符号100で示す方向の角度βが変更される。間隔調整器96,98の操作により、符号102で示す方向の角度αが変更される。各角度を変化させながら、許容遷移ピーク(又は禁制遷移ピーク)を観測することにより、補正角度Δα,Δβが特定される。それらに基づいてキャビティ52の姿勢が調整され、すなわち、静磁場方向に対して高周波磁場方向が調整される。【選択図】図13

2. 发明专利

JP6379423B2 磁気共鳴測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP6379423B2
公开(公告)日：2018-08-29
申请号：JP2014149678
申请日：2014-07-23
申请人：日本電子株式会社
发明人：蜂谷健一 , 塚田剛 , 杉田哲朗 , 鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/00

3. 发明专利

JP6268402B2 磁気共鳴測定装置有权
公开(公告)号：JP6268402B2
公开(公告)日：2018-01-31
申请号：JP2014150826
申请日：2014-07-24
申请人：日本電子株式会社
发明人：蜂谷健一 , 泉顕也 , 西村幸夫 , 鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/10 , H03K3/78 , G01N24/08
CPC分类号： G01R33/4608 , G01R33/3614 , G01R33/4625 , G01R33/543

4. 发明专利

JP6660842B2 緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置有权
公开(公告)号：JP6660842B2
公开(公告)日：2020-03-11
申请号：JP2016148814
申请日：2016-07-28
申请人：国立大学法人京都大学 , 日本電子株式会社
发明人：武田和行 , 鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/10 , G01N24/08

5. 发明专利

JP2019082430A 電子スピン共鳴測定装置及び方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019082430A
公开(公告)日：2019-05-30
申请号：JP2017210660
申请日：2017-10-31
申请人：日本電子株式会社
发明人：鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/00 , G01N24/10
摘要：【課題】逆変換に先立って、ゆらぎノイズが抑圧されたESRデータセットが得られるようにする。【解決手段】取得工程102はN個のデータセット取得工程により構成され、各データセット取得工程は、静磁場強度Bのr段階変化に対応したr個の部分工程により構成される。各部分工程は1つのパルスシーケンスに対応する。パルスシーケンスはパラメータTのm段階変化に対応したm個のサブパルスシーケンスにより構成される。各サブパルスシーケンスにおいて測定条件(静磁場強度BとパラメータTの組み合わせ)ごとにn個のデータが取得される。取得工程102の実行によりn×N個のデータセットが得られ、それらに対して積算処理が施される。【選択図】図18

6. 发明专利

JP6283868B2 磁気共鳴測定装置有权
公开(公告)号：JP6283868B2
公开(公告)日：2018-02-28
申请号：JP2014149863
申请日：2014-07-23
申请人：日本電子株式会社
发明人：蜂谷健一 , 塚田剛 , 杉田哲朗 , 鈴木貴之
IPC分类号： A61B5/055 , H03B15/00 , G01R33/44 , G01N24/00
CPC分类号： G01R33/4625 , G01R33/36 , G01R33/3621

7. 发明专利

JP2020034434A 電子スピン共鳴測定装置及び方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020034434A
公开(公告)日：2020-03-05
申请号：JP2018161570
申请日：2018-08-30
申请人：日本電子株式会社
发明人：鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/10
摘要：【課題】電子スピン共鳴(ESR)を複数の測定方法で測定する際、個々の測定方法ごとに良好な測定条件を定められるようにする。【解決手段】静磁場の掃引過程において、基準信号90の周期ごとに、前半区間でEDMR測定が実行され、後半区間でESR測定(横磁化測定)が実行される。それらの測定を行うため、マイクロ波処理器100が前半区間でマイクロ波を強度変調し、後半区間でマイクロ波の強度を抑制する。後半区間では磁場変調が行われる。EDMR検出信号に基づいてEDMRスペクトル138が生成される。キャビティ72からの反射波信号に基づいてESRスペクトル124が生成される。【選択図】図7

8. 发明专利

JP2016075665A 電子スピン共鳴装置有权
标题翻译：电子旋转谐振器件
公开(公告)号：JP2016075665A
公开(公告)日：2016-05-12
申请号：JP2015165654
申请日：2015-08-25
申请人：日本電子株式会社
发明人：鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/10 , G01N21/31 , G01R33/60
摘要：【課題】パルスシーケンスの繰り返し周波数が変更された場合であっても、ロックイン検波に用いられる周波数を変更せずにロックイン検波を可能な、あるいは、パルスシーケンスが正確に繰り返される、電子スピン共鳴装置を提供する。【解決手段】パルスシーケンスを構成するパルスパターン70が、繰り返し周波数Fpに従って繰り返し生成される。これにより原パルス列26が生成される。変調周波数Fmでオン及びオフを繰り返す変調信号32が生成される。Fp,FmはFp=2n×Fm(nは1以上の整数)の関係を満たす。原パルス列26は変調周波数Fmに従って変調され、これによりパルス列信号36が生成される。マイクロ波信号がパルス列信号36によって変調されて電子スピン共鳴室に供給される。電子スピン共鳴が反映された検出信号に対して変調周波数Fmを用いてロックイン検波することにより、ESR信号が得られる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种电子自旋共振装置，其可以在不改变用于锁定检测的频率或精确地重复脉冲序列的情况下进行锁定检测，如果脉冲序列的重复频率已经改变。解决方案：根据重复频率Fp重复地生成形成脉冲序列的脉冲图形70，并且形成原始脉冲序列26.此外，产生根据调制频率Fm重复导通或关断的调制信号32。频率Fp和Fm满足Fp = 2n×Fm（n是不小于1的整数）的关系。根据调制频率Fm对原始脉冲序列26进行调制，生成脉冲序列信号36。微波信号由脉冲序列信号36调制并被提供给电子自旋共振腔。通过对反射电子自旋谐振的检测信号进行锁定检测，使用调制频率Fm可以获得ESR信号。图2

9. 发明专利

JP2018017630A 緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018017630A
公开(公告)日：2018-02-01
申请号：JP2016148814
申请日：2016-07-28
申请人：国立大学法人京都大学 , 日本電子株式会社
发明人：武田和行 , 鈴木貴之
IPC分类号： G01N24/10 , G01N24/08
CPC分类号： G01R33/50 , G01R33/30 , G01R33/345 , G01R33/44 , G01R33/448 , G01R33/54 , G01R33/5602 , G01R33/60
摘要：【課題】スピン−キャビティ結合の影響が大きい条件下においても、サンプルの正確な緩和時間が得られるようにする。【解決手段】サンプル10を収容するキャビティ12とサンプル10のスピンとの間で、互いに結合状態が異なるN個のスピン−キャビティ結合状態を形成し、N個のスピン−キャビティ結合定数を演算する。また、サンプル10に対する磁気共鳴測定によってN個の見かけ上の緩和時間を測定する。N個のスピン−キャビティ結合定数とN個の見かけ上の緩和時間との関係に基づいて、特定のスピン−キャビティ結合定数に対する緩和時間を演算する。【選択図】図1

10. 发明专利

JP6194552B2 ESR用マイクロ波共振器有权
公开(公告)号：JP6194552B2
公开(公告)日：2017-09-13
申请号：JP2013242660
申请日：2013-11-25
申请人：日本電子株式会社
发明人：鈴木貴之
IPC分类号： G01R33/345 , G01R33/32

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