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1. 发明专利

JP2017213510A 光励起材料审中-公开
公开(公告)号：JP2017213510A
公开(公告)日：2017-12-07
申请号：JP2016108751
申请日：2016-05-31
申请人：富士通株式会社
发明人：穴澤俊久 , 今中佳彦 , 眞鍋敏夫 , 天田英之 , 井土幸夫 , 熊坂文明 , 淡路直樹
IPC分类号： B01J27/24 , B01J35/02
CPC分类号： B01J27/24 , B01J35/0033 , B01J35/004 , B01J37/0238 , C01B3/042 , C25B1/003 , H01L31/032 , H01L31/0328 , H01L31/1828 , H01L31/1856 , H01L31/0296 , H01L31/03044
摘要：【課題】光エネルギーを高い効率で利用可能な、狭禁制帯幅の光励起材料の提供。【解決手段】ガリウムと、亜鉛と、窒素と、酸素とを含有するウルツ鉱型の固溶体結晶である光励起材料であって、広域X線吸収微細構造分析から得られる、前記光励起材料におけるガリウム又は亜鉛の近接原子の距離と存在率との関係において、前記ガリウム又は前記亜鉛の第1近接原子である窒素又は酸素の存在率のピークAと、前記ガリウム又は前記亜鉛の第2近接原子であるガリウム又は亜鉛の存在率のピークBとが、下記関係式(1)を満たすことを特徴とする光励起材料。 A>B ・・・関係式(1) 【選択図】図6A

2. 发明专利

JP2019158605A X線分析装置、X線分析方法及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2019158605A
公开(公告)日：2019-09-19
申请号：JP2018045795
申请日：2018-03-13
申请人：富士通株式会社
发明人：淡路直樹
IPC分类号： G01B15/08 , G01N23/20
摘要：【課題】簡易に試料の平均密度及び平均表面ラフネスを取得することができるX線分析装置、X線分析方法及びプログラムを提供する。【解決手段】X線分析装置は、試料からの反射X線の第1の強度プロファイルを取得する第1の強度プロファイル取得部と、第1の強度プロファイルから試料へのX線の入射強度を取得する入射強度取得と、入射強度から試料の平均密度を取得する平均密度取得と、第1の強度プロファイルから反射X線のバックグラウンド強度を取得するバックグラウンド強度取得部と、入射強度、バックグラウンド強度及び平均密度を用いて、単一の層からなる仮想試料から得られる反射X線の第2の強度プロファイルのうちで、第1の強度プロファイルに最もフィットする最適解を近似強度プロファイルとして取得する近似強度プロファイル取得部と、近似強度プロファイルを与える仮想試料の表面ラフネスを取得する表面ラフネス取得部と、を有する。【選択図】図4

4. 发明专利

JP2017197832A 光化学電極审中-公开
公开(公告)号：JP2017197832A
公开(公告)日：2017-11-02
申请号：JP2016091277
申请日：2016-04-28
申请人：富士通株式会社
发明人：今中佳彦 , 天田英之 , 眞鍋敏夫 , 穴澤俊久 , 井土幸夫 , 淡路直樹
IPC分类号： C25B1/04 , B01J35/02 , B01J27/24 , H01G9/20 , C25B11/06
CPC分类号： H01G9/2009 , H01G9/204 , H01G9/205
摘要：【課題】高い光電流が得られる光化学電極の提供。【解決手段】導電層と、前記導電層上に光励起材料を含有する光励起材料層とを有し、前記光励起材料層が、以下の条件(A)及び条件(B)の少なくともいずれかを満たす光化学電極である。条件(A):前記導電層側の面と反対側の面から前記導電層側の面に向かうにしたがって、伝導帯の下端の電位が小さくなる。条件(B):前記導電層側の面と反対側の面から前記導電層側の面に向かうにしたがって、価電子帯の上端の電位が小さくなる。【選択図】図1

6. 发明专利

JP2019109123A X線分析装置及び分析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019109123A
公开(公告)日：2019-07-04
申请号：JP2017241855
申请日：2017-12-18
申请人：富士通株式会社
发明人：野村健二 , 淡路直樹
IPC分类号： G01N23/2055
摘要：【課題】装置規模の増大を抑制しつつ2次元検出器と試料との間の距離である検出距離を正確に導出する。【解決手段】X線分析装置は、試料に照射され回折を生じたX線の強度を検出する複数の検出素子が単一の面内に配列された2次元検出器と、2次元検出器と前記試料との間の距離である検出距離を変化させる距離可変機構と、2次元検出器によって検出されたX線の強度に基づいて、検出距離を導出する検出距離導出部と、を含む。【選択図】図2

7. 发明专利

JP2017197833A 光化学電極审中-公开
公开(公告)号：JP2017197833A
公开(公告)日：2017-11-02
申请号：JP2016091299
申请日：2016-04-28
申请人：富士通株式会社
发明人：今中佳彦 , 天田英之 , 眞鍋敏夫 , 穴澤俊久 , 井土幸夫 , 淡路直樹
IPC分类号： C25B11/04
CPC分类号： C25B11/0405 , C25B1/003 , C25B11/0452 , H01G9/2027
摘要：【課題】高い光電流が得られる光化学電極の提供。【解決手段】導電層と、前記導電層上に光励起材料を含有する光励起材料層とを有し、前記光励起材料層の表面において、前記光励起材料の結晶構造中において最も原子密度が高い格子面が、前記光励起材料層の表面の面方向に配向している光化学電極である。【選択図】図2

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