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    • 3. 发明专利
    • 磁化観察方法および磁化観察装置
    • JPWO2005001495A1
    • 2006-07-27
    • JP2005503214
    • 2003-06-26
    • 富士通株式会社
    • 永井 利明利明 永井
    • G01R33/12G01N21/21G01R33/032
    • G01R33/1215
    • 磁化観察装置では、指定の磁界強度、指定の磁界強度よりも小さい第1磁界強度、並びに、指定の磁界強度よりも大きい第2磁界強度で磁界が磁性体に作用する。磁界強度ごとに第1、第2および第3検出値は測定される。磁性体では磁界の増減に応じて磁壁(42、42a)は移動する。2:−1:−1の重み付けで第1、第2および第3検出値が加算されると、磁壁の移動範囲では磁化ベクトルは残存する。第1、第2および第3検出値には均等にノイズが含まれることが想定されることから、重み付けに基づきノイズは相殺される。磁壁の移動範囲から外れた領域では検出値で磁化は打ち消される。磁壁のみが際立たせられる。磁性体の表面状態に拘わらず明瞭な磁区構造は視覚化されることができる。磁壁を挟んで磁区同士の間では磁化の向きは区別される。こうした磁化の向きが視覚化されれば、磁区内で磁化の向きは比較的に簡単に特定されることができる。