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1. 发明专利

JP6420630B2 変位計測装置および変位計測方法审中-公开
公开(公告)号：JP6420630B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2014226615
申请日：2014-11-07
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：小山勝弘 , 宮澤冬樹 , 萩原康仁 , 浜本貴樹 , 松田勲
IPC分类号： G11B7/135 , G01D5/38 , G01B11/00

2. 发明专利

JP2017067715A 光学センサおよび速度センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2017067715A
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：JP2015196512
申请日：2015-10-02
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：松田勲 , 小山勝弘 , 萩原康仁 , 浜本貴樹 , 宮澤冬樹
IPC分类号： G01P3/486 , G01B11/00
摘要：【課題】計測対象物の正確な変位量を計測するための信号を出力可能な光学センサを提供すること。【解決手段】光学センサ100において、第1回折格子21には、光源11からの光が入射する。第2回折格子22には、第1回折格子21から出射した光が入射する。検出部17は、第2回折格子22から発生する干渉光を検出する。第1支持部としてのスライダ31は、第1回折格子21を支持する。第2支持部としての筐体10は、スライダ31に相対的に移動可能に設けられ、第2回折格子22および検出部17を一体的に支持する。接触部材としてのシャフト33は、スライダ31に一体的に設けられ、計測対象物に接触可能である。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2015161593A 欠陥検出装置、処理装置、および欠陥検出方法审中-公开
标题翻译：缺陷检测器，处理装置和缺陷检测方法
公开(公告)号：JP2015161593A
公开(公告)日：2015-09-07
申请号：JP2014037088
申请日：2014-02-27
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：松田勲 , 小山勝弘
IPC分类号： G01N21/958
摘要：【課題】使用する光学部品点数を少なくして簡易な構成により対象物の欠陥を検出することができる欠陥検出装置、処理装置、および欠陥検出方法を提供すること。【解決手段】欠陥検出装置100は、光源11と、対象物Pを支持する支持部12と、受光部13と、処理部20とを備える。処理部20において、微分回路21は、受光部13からの信号を微分し、バンドパスフィルタ22は、微分回路21からの信号のうち特定の周波数帯域の信号を通過させる。その結果、欠陥成分の信号を抽出することができる。これにより、使用する光学部品点数を減らして簡易な構成で対象物の欠陥を検出することができる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够以所使用的光学部件的数量减少的简单结构检测物体中的缺陷的缺陷检测器，处理装置和缺陷检测方法。解决方案：缺陷检测器100包括：光源11，用于支撑物体P的支撑部12，光接收部13和处理单元20.处理单元20包括：差分电路21，其对来自光接收部13的信号进行微分; 以及在来自差分电路21的信号之间通过指定频带中的信号的带通滤波器22.结果，可以提取具有缺陷分量的信号。因此，能够以减少使用的光学部件的数量的简单结构来检测物体的缺陷。

4. 发明专利

JP6959074B2 自転車または自動二輪車用表示装置有权
公开(公告)号：JP6959074B2
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：JP2017165952
申请日：2017-08-30
申请人：太陽誘電株式会社 , ブリヂストンサイクル株式会社
发明人：大宮永伸 , 石関智房 , 小山勝弘 , 森口憲和
IPC分类号： B60K35/00 , G09F13/08 , G09F13/04 , G01D7/00

5. 发明专利

JP2017211248A 光変位センサキット、及び光変位センサの取付方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017211248A
公开(公告)日：2017-11-30
申请号：JP2016103656
申请日：2016-05-24
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：松田勲 , 小山勝弘 , 萩原康仁 , 浜本貴樹 , 宮澤冬樹
IPC分类号： G01B11/16 , G01B11/00
摘要：【課題】測定対象物によらずに光変位センサを取付可能な技術を提供する。【解決手段】ネジ部材によって台座部を第1保持部材のZ軸方向下面に装着するステップS01と、第1保持部材に装着された台座部を測定対象物に接着剤によって接着するステップS02と、ネジ部材を取り外すことにより、測定対象物に接着された台座部から第1保持部材を取り外すステップS03と、本体部を第2保持部材に装着するステップS04と、第2保持部材に装着された本体部を台座部にネジ部材によって固定するステップS05と、ネジ部材を取り外すことにより、台座部に固定された本体部から第2保持部材を取り外すステップS06より構成される。【選択図】図5

6. 发明专利

JP6196830B2 変位計測装置及び変位計測方法有权
公开(公告)号：JP6196830B2
公开(公告)日：2017-09-13
申请号：JP2013151577
申请日：2013-07-22
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：宮澤冬樹 , 萩原康仁 , 浜本貴樹 , 小山勝弘
IPC分类号： G01D5/38 , G01B11/00
CPC分类号： G01D5/266 , G01D5/38 , G01M11/08

7. 发明专利

JP2017106769A 建築物の変位量計測方法、変位量計測装置、および取付冶具审中-公开
公开(公告)号：JP2017106769A
公开(公告)日：2017-06-15
申请号：JP2015239240
申请日：2015-12-08
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：小山勝弘 , 宮澤冬樹 , 萩原康仁 , 浜本貴樹 , 松田勲 , 井川泉
IPC分类号： G01B11/16
摘要：【課題】大がかりな施工を要することなく、建築物の高精度な変位量の計測を行うことができる変位量計測方法、これに用いられる変位量計測装置および取付冶具を提供する。【解決手段】光センサ100を建築物に取り付け、光センサ100により得られる変位量のデータを取得することを含む。光センサ100は、光源11と、光源11からの光が入射する第1回折格子21と、第1回折格子21に対向して設けられ、第1回折格子21と相対移動可能に設けられた第2回折格子22と、第2回折格子22から出射された光を検出器17で検出し、検出した光に基づき、第1回折格子21および第2回折格子22の相対移動に応じた変位量を出力する出力部と備える。【選択図】図1

8. 发明专利

JP6231297B2 変位計測装置及び変位計測方法有权
公开(公告)号：JP6231297B2
公开(公告)日：2017-11-15
申请号：JP2013110294
申请日：2013-05-24
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：宮澤冬樹 , 小山勝弘 , 浜本貴樹
IPC分类号： G01B11/26 , G01B11/00

9. 发明专利

JP2017161294A 変位計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017161294A
公开(公告)日：2017-09-14
申请号：JP2016044476
申请日：2016-03-08
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：小山勝弘 , 宮澤冬樹 , 松田勲 , 萩原康仁 , 浜本貴樹
IPC分类号： G01D5/38 , G01B11/00
摘要：【課題】回折格子の光軸周りのチルトが発生しても所望の計測精度を維持できる変位計測装置を提供すること。【解決手段】変位計測装置100は、光源12と、前記光源12からの光が入射する回折格子20と、前記光が前記回折格子を透過して得られる干渉光を受光するPD30と、前記PD30で得られる信号に基づき、前記回折格子20と前記PD30との相対的な変位を出力する出力部40とを具備する。回折格子20が1つのみ設けられるので、回折格子20とPD30とに相対的に、光軸周りのチルトが発生しても、変位の計測精度の低下が少ない。すなわち、所望の計測精度を維持できる。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2016038228A 変位計測装置、信号処理装置および信号処理方法审中-公开
标题翻译：位移测量装置，信号处理装置和信号处理方法
公开(公告)号：JP2016038228A
公开(公告)日：2016-03-22
申请号：JP2014160029
申请日：2014-08-06
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：松田勲 , 小山勝弘 , 萩原康仁 , 浜本貴樹 , 宮澤冬樹
IPC分类号： G01D5/244
摘要：【課題】できるだけ正確な信号を生成して計測精度を高めることができる変位計測装置、これに使用される信号処理装置および信号処理方法を提供すること。【解決手段】変位計測装置100は、エンコーダ部10および信号処理装置30を備える。信号処理装置30は、AD変換部31、規格化部33、逆三角関数演算部35、変化量演算部37、および変位演算部39を備える。エンコーダ部10で生成された正弦波信号を規格化部33で規格化することにより、信号の振幅値に関する演算を単純化することができる。また、逆三角関数演算部35の逆三角関数演算によりリニアな領域を含む三角波信号が得られる。変化量演算部37は、そのリニアな領域の信号の所定時間ごとの変化量を演算することにより、変位計測装置100は、正確な信号を生成して高精度な計測を行うことができる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够产生尽可能精确的信号并提高测量精度的位移测量装置，以及在其中使用的信号处理装置和信号处理方法。解决方案：位移测量装置100包括编码器单元10和信号处理装置30.信号处理装置30设置有AD转换单元31，标准化单元33，反三角函数计算单元35，变化量计算单元37和位移计算单元39。由编码器单元10生成的正弦信号由标准化单元33标准化，从而能够简化与信号的振幅值有关的计算。此外，通过反三角函数计算单元35的逆三角函数计算，可以获得包括线性区域的三角波信号。由于变化量计算单元37计算每个规定时间的变化量，线性区域，位移测量装置100可以产生精确的信号并执行高精度测量。选择图：图1

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