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1. 发明专利

JP5944719B2 配光特性測定装置および配光特性測定方法有权
标题翻译：配光特性测量装置和所述光分布特性的测量方法
公开(公告)号：JP5944719B2
公开(公告)日：2016-07-05
申请号：JP2012085508
申请日：2012-04-04
申请人：大塚電子株式会社
发明人：江南世志
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/4257 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J1/0403 , G01J1/4228 , G01J3/505 , G01J3/51 , G01J1/0488 , G01J2001/4247

2. 发明专利

JP6486136B2 配光特性測定装置および配光特性測定方法有权
公开(公告)号：JP6486136B2
公开(公告)日：2019-03-20
申请号：JP2015027748
申请日：2015-02-16
申请人：大塚電子株式会社
发明人：江南世志 , 西田吉彦
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00

3. 发明专利

JP2016151437A 配光特性測定装置および配光特性測定方法审中-公开
标题翻译：光分布特性测量装置和光分布特性测量方法
公开(公告)号：JP2016151437A
公开(公告)日：2016-08-22
申请号：JP2015027747
申请日：2015-02-16
申请人：大塚電子株式会社
发明人：江南世志 , 西田吉彦
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00
CPC分类号： G06K9/4661 , G01J1/42 , G06K9/52 , G06T7/0004 , G01J2001/4247 , G06T2207/10016 , G06T2207/10144
摘要：【課題】指向性の強い光源であっても、より高い精度で配光特性を測定可能な配光特性測定装置およびそれに向けられた配光特性測定方法を提供する。【解決手段】配光特性測定装置は、光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、光源と撮像部との間の距離を維持したまま、光源に対する撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構と、光源の配光特性を算出する処理手段とを含む。処理手段は、第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するとともに、第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する。【選択図】図8
摘要翻译：要解决的问题：提供一种配光特性测量装置和配光特性测量方法，其可以对于具有高方向性的光源可以高精度地测量光分布特性。解决方案：光分布特性测量装置包括：与光源隔开预定距离的图像捕获单元，用于使图像捕获单元相对于光源的位置的连续变化的移动机构连续地改变，同时保持光源和图像捕获单元之间的距离，捕获单元和用于计算光源的光分布特性的处理装置。处理装置获取在第一图像拍摄条件下捕获的多个图像数据和在与第一图像拍摄条件不同的第二图像拍摄条件下捕获的多个图像数据，并且确定对应于校正后的图像信息涉及与第一图像信息相对应的第一图像信息的相关位置，该第一图像信息包括在第一图像捕获条件下捕获的图像数据中的相关感兴趣位置，以及与在第二图像捕获条件下捕获的图像数据中包含的感兴趣相对位置相对应的第二图像信息图像捕获条件。图8

4. 发明专利

JP6001960B2 配光特性測定装置および配光特性測定方法有权
公开(公告)号：JP6001960B2
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：JP2012184255
申请日：2012-08-23
申请人：大塚電子株式会社
发明人：江南世志
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00
CPC分类号： G01J1/4257 , G01J1/0242 , G01J2001/4247

5. 发明专利

JP6717564B2 配光特性測定装置および配光特性測定方法有权
公开(公告)号：JP6717564B2
公开(公告)日：2020-07-01
申请号：JP2015027747
申请日：2015-02-16
申请人：大塚電子株式会社
发明人：江南世志 , 西田吉彦
IPC分类号： G01M11/00 , G01M11/06 , G01J1/00

6. 发明专利

JP2016151438A 配光特性測定装置および配光特性測定方法有权
标题翻译：光分布特性测量装置和光分布特性测量方法
公开(公告)号：JP2016151438A
公开(公告)日：2016-08-22
申请号：JP2015027748
申请日：2015-02-16
申请人：大塚電子株式会社
发明人：江南世志 , 西田吉彦
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00
摘要：【課題】撮像部で光源を撮像することで配光特性を測定する配光特性測定装置およびそれに向けられた配光特性測定方法において、暗部をより正確に測定および評価する。【解決手段】配光特性測定装置は、処理手段と、光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、光源からの光が撮像部の受像面に入射することを阻害する阻害部材と、光源と撮像部との間の距離を維持したまま、光源に対する撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構とを含む。処理手段は、撮像部による撮像された画像データの阻害部材に対応する領域の画素値から補正量を算出し、算出した補正量で画像データを補正することで得られる補正後の画像データと、補正後の画像データが撮像されたときの光源に対する撮像部の相対位置とに基づいて、光源の配光特性を算出する。【選択図】図5
摘要翻译：要解决的问题：通过用图像捕获单元对光源进行图像捕获来测量和分析用于测量光分布的光分布特性测量装置中的暗空间，以及针对其的光分布特性测量方法。解决方案：光分布特性测量装置包括处理装置，与光源隔开预定距离的图像捕获单元，用于阻挡来自光源的光进入图像捕获单元的图像接收平面的阻挡构件，以及用于使得图像拍摄单元相对于光源的位置的运动机构连续地改变，同时保持光源和图像捕获单元之间的距离。处理装置根据由图像拍摄单元捕获的图像数据中的与障碍物对应的区域的像素值计算校正量，并且根据由校正后的图像数据计算光源的光分布特性，当捕获校正后的图像数据时，利用所计算的校正量和图像捕获单元相对于光源的位置校正图像数据。图5

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