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1. 发明专利

JP6186568B2 電気化学デバイス電極材料用一次元ナノ構造体、エレクトロスピニング法による製造方法有权
公开(公告)号：JP6186568B2
公开(公告)日：2017-08-30
申请号：JP2013174456
申请日：2013-08-26
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：梶山智司 , 大久保将史 , 細野英司
IPC分类号： H01M4/36 , C01B25/45 , H01M4/58

2. 发明专利

JP5939623B2 高結晶性のaLi2MnO3−(1−a)Li(Nix,Coy,Mnz)O2系ナノ構造電極材料、および、エレクトロスピニング法によるその製造方法有权
标题翻译：高度结晶aLi2MnO3-（1-a）中的Li（尼克斯，大队，MNZ）O2组合的纳米结构的电极材料，其根据制造方法电纺丝
公开(公告)号：JP5939623B2
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2012073836
申请日：2012-03-28
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：細野英司 , 齋藤達也 , 周豪慎
IPC分类号： H01M4/525 , H01M4/131 , H01M4/1391 , C01G53/00 , H01M4/505
CPC分类号： Y02P70/54

3. 发明专利

JP2021139713A 光学及び放射光顕微分光装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021139713A
公开(公告)日：2021-09-16
申请号：JP2020036888
申请日：2020-03-04
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：細野英司 , 朝倉大輔 , 原田慈久
IPC分类号： G01N23/227 , G02B21/00 , G21K7/00
摘要：【課題】測定全体の迅速化を図り、さらに顕微分光と同時に試料を視覚的に観察することが可能な光学及び放射光顕微分光装置を提供する。【解決手段】本発明の一態様の光学及び放射光顕微分光装置は、(a)真空容器と、(b)真空容器内に置かれ、X−Y−Z方向に移動可能な測定試料を載せるためのステージと、(c)真空容器内に置かれ、真空容器外からの放射光を集光して、ステージ上の測定試料の表面に略垂直方向から照射するための放射光集光素子と、(d)真空容器内において測定試料の表面に対して略45度の方向に少なくとも受光端面が置かれ、測定試料の表面からの光電子を検出するための検出器と、(e)真空容器内において測定試料の表面に対して検出器とは反対側の略45度の方向に少なくとも受光端面が置かれ、測定試料の表面を観察するための光学顕微鏡と、を備える。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2018170112A 電極の作製方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018170112A
公开(公告)日：2018-11-01
申请号：JP2017065336
申请日：2017-03-29
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：北浦弘和 , 細野英司 , 周豪慎
IPC分类号： H01M10/0585 , H01M4/1395 , H01M12/08 , H01G11/84 , H01G11/56 , H01G11/22 , H01M10/0562
摘要：【課題】簡単な操作で、金属または合金系電極を固体電解質に密着させる手法を提供すること。【解決手段】電極材料を固体電解質上に熱融着させる際に、同時に超音波を照射する。これにより、固体電解質上に密着性の高い金属または合金系電極を作製することができる。このようにして作製された電極−固体電解質構造体を用いて構成した電気化学セルにおいては、電極−固体電解質界面の内部抵抗が小さく、また、良好な電気化学特性が得られる。【選択図】図3

5. 发明专利

JP6831517B2 電極の作製方法有权
公开(公告)号：JP6831517B2
公开(公告)日：2021-02-17
申请号：JP2017065336
申请日：2017-03-29
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：北浦弘和 , 細野英司 , 周豪慎
IPC分类号： H01M10/0585 , H01M4/1395 , H01M12/08 , H01G11/84 , H01G11/56 , H01G11/22 , H01M10/0562

6. 发明专利

JP6182727B2 電極材料、電極及び発光型エレクトロクロミック素子有权
公开(公告)号：JP6182727B2
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：JP2013189096
申请日：2013-09-12
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所 , 学校法人慶應義塾
发明人：大久保将史 , 細野英司 , 水野善文 , 藤原忍
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/14 , G02B5/20 , G02F1/15

7. 发明专利

JP2016040763A 軟X線を用いた二次電池オペランド測定用電極有权
标题翻译：用于二次电池的电极用软X射线测量
公开(公告)号：JP2016040763A
公开(公告)日：2016-03-24
申请号：JP2014164810
申请日：2014-08-13
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：朝倉大輔 , 細野英司 , 松田弘文
IPC分类号： H01M10/04 , H01M4/139 , H01M4/13 , G01N23/06 , H01M4/66
摘要：【課題】リチウムイオン二次電池電極の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光の実現を可能とする、Si 3 N 4 薄膜を用いた薄膜電極を提供する。【解決手段】Siウェハ/Si 3 N 4 薄膜上にAl 2 O 3 /Ti/Auという三層構造を有する薄膜集電体層を形成し、当該集電体層上に直接、遷移金属酸化物等の電極活物質を、熱処理を伴う成膜によって形成することで薄膜電極を作成する。その後、薄膜電極のSi側表面の窓体形成部位を除く部分を保護しながら、当該窓体形成部位のSiウェハをSi 3 N 4 層が露出するまでエッチングすることによって、軟X線透過性の窓部を形成する電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光用電極の作成方法。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种包括能够在锂离子二次电池电极的电化学操作数上实现软X射线吸收/发射光谱的SiN膜的膜电极。解决方案：一种用于制造软X射线电极的方法，在电化学操作数上的射线吸收/发射光谱学包括以下步骤：通过在Si晶片/ SiN膜上形成具有AlO / Ti / Au三层结构的薄膜集电体层，并直接形成通过涉及热处理的膜生长在集电体层上形成过渡金属氧化物等电极活性物质; 然后通过蚀刻窗体形成部分的Si晶片形成软X射线透射窗部分，直到SiN层暴露，同时保护除了窗体形成部分之外的膜电极的Si侧表面。选择的图：图1

8. 发明专利

JP2020107427A オペランド測定用二次電池電極审中-公开
公开(公告)号：JP2020107427A
公开(公告)日：2020-07-09
申请号：JP2018243111
申请日：2018-12-26
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：細野英司 , 松田弘文 , 朝倉大輔 , 三石雄悟 , 原田慈久
IPC分类号： H01M4/13 , H01M4/139 , H01M10/04 , H01M10/058 , H01M10/0568 , H01M4/02 , H01M4/04 , G01N23/083 , G01N23/223 , H01M4/66
摘要：【課題】酸素を含まず、かつ、電極活物質を膜形成させる際の高温処理により劣化することのない集電体薄膜の提供。また、軟X線及び真空紫外線が透過可能な基材上に酸素を含まない集電体薄膜と電極活物質薄膜を積層してなる、電極活物質中の遷移金属の電子状態に加えて、酸素の電子状態をもオペランド測定することが可能な電極構造体の提供。【解決手段】Si基板上にSi 3 N 4 またはSiCの薄膜を有し、当該薄膜上に、TiNまたはZrNの薄膜及び当該TiNまたはZrNの薄膜上のAuの薄膜からなる二層構造の薄膜を有する薄膜集電体。当該薄膜集電体は、さらに電極活物質を高温で成膜しても、その構成成分が酸化されることはなく、また、オペランド測定に必要な低い抵抗を維持する。このため、当該薄膜集電体を用いた作用極で、電極活物質中の遷移金属の電子状態に加えて、酸素の電子状態をもオペランド測定することができる。【選択図】図4

9. 发明专利

JP2020071903A 漏洩検査装置及び漏洩検査システム审中-公开
公开(公告)号：JP2020071903A
公开(公告)日：2020-05-07
申请号：JP2018202612
申请日：2018-10-29
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所 , 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 , 国立大学法人長岡技術科学大学
发明人：細野英司 , 北浦弘和 , 朝倉大輔 , 松田弘文 , 曽根理嗣 , オマールサミュエルメンドーサエルナンデス , 梅田実
IPC分类号： G01M3/38 , H01M10/48
摘要：【課題】電池又はキャパシタの電解液又は固体電解質から発生するガスを効率良く検出することにより電池又はキャパシタからの電解液又は固体電解質の漏洩の検査の精度を向上できる漏洩検査装置を提供する。【解決手段】漏洩検査装置は、電解液又は固体電解質の漏洩があり得る電池50(又はキャパシタ)を含む閉空間を形成する閉空間形成部11と、閉空間形成部11に設けられる雰囲気排出口115であって、電池50から電解液又は固体電解質の漏洩がある場合に、当該漏洩を促進するため又は漏洩箇所を明確にするために、閉空間の内部の雰囲気を減圧するための雰囲気排出口と、閉空間形成部11に設けられる光学窓113,114であって、電池50から発生するガスの測定に用いられる光学窓と、を備え、前記漏洩がある場合に、当該漏洩を促進し又は漏洩箇所を明確にした状態において、光学窓113,114に検査用の光を透過させる。【選択図】図1

10. 发明专利

JP6323873B2 軟X線を用いた二次電池オペランド測定用電極有权
公开(公告)号：JP6323873B2
公开(公告)日：2018-05-16
申请号：JP2014164810
申请日：2014-08-13
申请人：国立研究開発法人産業技術総合研究所
发明人：朝倉大輔 , 細野英司 , 松田弘文
IPC分类号： H01M4/139 , H01M10/04 , G01N23/06 , H01M4/66

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