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1. 发明专利

JP2020021427A 変更影響分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020021427A
公开(公告)日：2020-02-06
申请号：JP2018147082
申请日：2018-08-03
申请人：三菱電機株式会社
发明人：中山薫 , 金井健太郎 , 岩橋正実
IPC分类号： G06F11/36
摘要：【課題】特定の機能の変更がソフトウェア全体に及ぼす影響を適切に分析する、変更影響分析装置を提供する。【解決手段】変更影響分析装置10は、ソースコードに含まれる各関数が記述されるオブジェクトリストを生成する第1ソースコードリバース部と、各関数により実現される各プロセスの入力、処理、および出力が記述されるプロセス仕様書を生成する第2ソースコードリバース部と、変更対象の機能を実現する変更対象のプロセスの処理が記述される機能仕様書を生成するマッピング部と、変更対象の関数から影響を受ける他の関数が記述される、被影響関数情報を生成する関数指定部と、変更対象の機能がソフトウェア全体に与える影響を示す情報が記述される、ソフトウェア影響を示す情報を出力する変更影響分析部と、を有する。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2020135292A テスト装置及びテスト方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020135292A
公开(公告)日：2020-08-31
申请号：JP2019026589
申请日：2019-02-18
申请人：三菱電機株式会社
发明人：中山薫 , 鴨木厚志
IPC分类号： G06F11/36
摘要：【課題】対象システムにおける複数の機種に対するテストや、対象システムの仕様変更時に行うテストを行うに当たって、テストシナリオを変更する必要が無いテスト装置を提供する。【解決手段】テスト装置10は、画面仕様の情報を含む第1の設計情報60に基づいて作成される画面データ構造70を入力として、テストシナリオを出力するテストシナリオ生成部20と、製品の画面構成の情報を含む第2の設計情報80を入力とし、テスト情報を出力するテスト情報抽出部30と、テスト情報を入力とし、テスト観点に基づいてテストデータを出力するテストデータ生成部40と、テストシナリオ、テストデータ、及び、テスト対象である画面部品を入力として、テストを実行して、テスト結果を出力するテスト実行部50とにより構成される。【選択図】図1

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