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1. 发明专利

JP2016045215A 半導体装置及びその故障検出方法有权
标题翻译：用于检测设备故障的半导体器件和方法
公开(公告)号：JP2016045215A
公开(公告)日：2016-04-04
申请号：JP2014166781
申请日：2014-08-19
申请人：ルネサスエレクトロニクス株式会社
发明人：伊藤博彦
IPC分类号： G06F3/16 , G01R31/28 , G10L19/00
CPC分类号： G06F11/3037 , G06F11/221 , G06F11/2226 , G06F11/3027 , G06F13/4022 , G06F3/16 , H04R29/001
摘要：【課題】従来の半導体装置は、故障した経路を特定できない問題があった。【解決手段】一実施の形態によれば、半導体装置は、メモリ2とサウンドユニット211〜215との間のデータ転送を制御するメモリ転送制御ユニット101〜105を有し、1つのメモリ転送制御ユニットと1つのサウンドユニットとにより音声データ転送経路を複数構成し、少なくとも1つの音声データ転送経路を介して再生音声データを出力し、かつ、少なくとも2つの音声データ転送経路により1つの再生音声データに起因して生じる少なくとも2つの録音音声データを取得する。【選択図】図5
摘要翻译：要解决的问题：解决现有的半导体器件所面临的问题，这是无法指定故障路径。解决方案：根据实施例的半导体器件包括：存储器传送控制单元101至105，其控制存储器2之间的数据传输以及声音单元211至215，存储器传送控制单元之一和声音单元中的一个形成多个声音数据传送路径，其中至少一个用于输出再现的声音数据，其中至少两个用于在由一个再现的声音数据引起的至少两个记录的声音数据。选择图：图5

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