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1. 发明专利

JP2020003504A 半導体装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020003504A
公开(公告)日：2020-01-09
申请号：JP2019165694
申请日：2019-09-11
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： H01M10/48 , H02J7/02 , H02J7/10 , G01R19/00
摘要：【課題】電池電圧の測定において発生する寄生容量による測定誤差を抑制することができる、半導体装置及び電池電圧の測定方法を提供する。【解決手段】バッファアンプBAMP1には、電池電圧を測定する電池セルVcの高電圧側の電圧が入力される。バッファアンプBAMP2には、最下段の電池セルVc1以外の、測定する電池セルVcの低電圧側の電圧が入力される。スイッチSW_Gは、電池セルVc1の電池電圧の測定を行う場合に、アンプAMP1に入力される電圧を、バッファアンプBAMP2から出力される電圧から基準電圧VSSに切り替える。スイッチSW0_1は、バッファアンプBAMP1に入力される電圧を、電池電圧を測定する電池セルVcの高電圧側の電圧から基準電圧VSSに切り替える。また、半導体装置10は、バッファアンプBAMP2に入力される電圧を、基準電圧VSSに切り替えるスイッチSW0_2を備える。【選択図】図1

2. 发明专利

JP6348925B2 半導体装置及び電池監視システム有权
公开(公告)号：JP6348925B2
公开(公告)日：2018-06-27
申请号：JP2016084726
申请日：2016-04-20
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： G01R31/36 , H02J7/00 , H01M10/48 , G01R19/165

3. 发明专利

JP2017120221A 半導体装置、電池監視システム、及び半導体装置の診断方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017120221A
公开(公告)日：2017-07-06
申请号：JP2015256910
申请日：2015-12-28
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：関口勝 , 菊池秀和 , 杉村直昭
IPC分类号： H01M10/48 , G01R19/165 , H02J7/02 , G01R19/00
CPC分类号： G01R31/3627 , G01R31/3658 , G01R31/3617 , G01R35/00
摘要：【課題】小型の回路で電池監視精度を向上させることができる半導体装置、電池監視システム、及び半導体装置の診断方法を提供する。【解決手段】電池監視IC10が、電池セルVcの電池電圧に応じた電荷が蓄積される容量素子Clpfに蓄積された電荷に応じた電圧が印加され端子Cと、第1経路を介して端子Cの電圧を測定する電圧測定回路30_1と、電池セルVcの電池電圧に応じた電圧が印加される、端子Cと異なる端子CBA及び端子CBBと、第1経路と異なる第2経路を介して端子CBA及び端子CBBの電圧を測定する電圧測定回路30_2と、を備える。電池監視IC10の診断を行う場合は、制御装置6は、電圧測定回路30_1の測定結果と電圧測定回路30_2の測定結果を比較して、両測定結果の差分が閾値以内の場合は正常であると判断し、差分が閾値を越える場合は異常であると判断する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2017026347A 半導体装置、電池監視装置および電池セルの電圧検出方法审中-公开
标题翻译：半导体装置，电池监视装置的电压检测方法和电池单元
公开(公告)号：JP2017026347A
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015142276
申请日：2015-07-16
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：大竹久雄 , 杉村直昭
IPC分类号： H02J7/02 , G01R19/165
CPC分类号： H02J7/0081 , H02J7/0026
摘要：【課題】セル電圧の検出精度を従来よりも高める。【解決手段】半導体装置は、直列に接続された複数の電池セルの各々に対応して設けられ、一端が、対応する電池セルに接続され、他端が、複数の電池セルの各々に対応して設けられ、且つ一方の電極が固定電位に接続された複数の電荷蓄積部のうちの対応する電荷蓄積部の他方の電極に接続される複数の第1のスイッチと、複数の第1のスイッチの各々に対応して設けられ、一端が対応する第1のスイッチの他端に接続された複数の第2のスイッチと、複数の第2のスイッチの各々の他端に接続され、第2のスイッチを介して供給される電圧を処理する処理部と、を含む。【選択図】図1
摘要翻译：比以前的电池电压增加的检测精度。一种半导体装置，设置对应于每个所述多个串联连接的电池单元的，一端连接到相应的电池单元，其另一端，对应于每个所述多个电池单元的提供碲，多个第一开关的是与一个电极连接到所述多个电荷存储部的连接到固定电势，多个第一开关的电荷存储部的对应的另一个电极每个提供相应的一个端部和多个连接到相应的第一开关的另一端的第二开关，连接到每个所述多个第二开关的另一端，所述第二包括处理单元，用于处理经由所述开关，所供给的电压。点域1

5. 发明专利

JP2021064801A 半導体装置、及び電池監視システム有权
公开(公告)号：JP2021064801A
公开(公告)日：2021-04-22
申请号：JP2020215654
申请日：2020-12-24
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： H01L27/04 , H02J7/00 , H01M10/44 , H01M10/48 , H01L21/822
摘要：【課題】容易な構成でより短時間に半導体装置の動作状態の診断が可能な半導体装置及び電池監視システムを提供する。【解決手段】電池セルを選択するためにの複数のスイッチ素子を含むスイッチ素子群と、第1の電圧を出力する第1の出力部と、複数の電圧を出力する第2の出力部と、スイッチ素子群及び第2の出力部の間に接続され、選択された電池セルの高電位側の電圧を供給するためにオンする第1のスイッチ素子と、スイッチ素子群及び第2の出力部の間に接続され、選択された電池セルの低電位側の電圧を供給するためにオンする第2のスイッチ素子と、第1の出力部及び第2の出力部の間に接続され、第1のスイッチ素子がオフする場合に第1の電圧を供給するためにオンする第3のスイッチ素子と、一端が第2の出力部に接続され第2のスイッチ素子がオフする場合に第1の電圧と異なる第2の電圧を供給するためにオンする第4のスイッチ素子とを備えた半導体装置。【選択図】図1

6. 发明专利

JP2020161644A 電圧クランプ回路及び集積回路。审中-公开
公开(公告)号：JP2020161644A
公开(公告)日：2020-10-01
申请号：JP2019059397
申请日：2019-03-26
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： H01L27/04 , H01L21/822
摘要：【課題】ツェナーダイオードを有する電圧クランプ回路において、比較的小さい回路規模で所望のクランプ電圧を得る。【解決手段】電圧クランプ回路は、第1のツェナーダイオードと、第1のツェナーダイオードのカソードに一端が接続された抵抗素子と、抵抗素子の他端にカソードが接続された第2のツェナーダイオードと、を含む。【選択図】図2

7. 发明专利

JP6695214B2 半導体装置、電池監視システムおよび診断方法有权
公开(公告)号：JP6695214B2
公开(公告)日：2020-05-20
申请号：JP2016101833
申请日：2016-05-20
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： G01R19/00

8. 发明专利

JP6602246B2 半導体装置、管理システムおよび特定方法有权
公开(公告)号：JP6602246B2
公开(公告)日：2019-11-06
申请号：JP2016058889
申请日：2016-03-23
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： H02J7/00 , H02J7/02 , H01M10/48 , G06F11/22

9. 发明专利

JP2017174121A 半導体装置、管理システムおよび特定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017174121A
公开(公告)日：2017-09-28
申请号：JP2016058889
申请日：2016-03-23
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： H02J7/00 , H02J7/02 , H01M10/48 , G06F11/22
摘要：【課題】各々が異常を検出する機能を備えた複数の半導体装置のうちの異常を検出した半導体装置の特定を可能とする。【解決手段】管理システムは、各々が自己の異常を検出する機能を備えた複数の半導体装置を含む。複数の半導体装置の各々は、複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる周波数のクロック信号を自己のクロック信号として生成するクロック生成部と、自己の半導体装置の異常を検出する異常検出部と、共通の出力線に接続され、自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に自己のクロック信号を出力線に伝達し、自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に自己のクロック信号の出力線への伝達を停止するスイッチング素子を含む出力部と、を含む。【選択図】図2

10. 发明专利

JP2020165846A 半導体装置及び電池電圧の測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020165846A
公开(公告)日：2020-10-08
申请号：JP2019067432
申请日：2019-03-29
申请人：ラピスセミコンダクタ株式会社
发明人：杉村直昭
IPC分类号： H01M10/48 , H02J7/02 , G01R19/00
摘要：【課題】電池電圧の測定において発生する寄生容量による測定誤差を抑制することができる、半導体装置及び電池電圧の測定方法を提供する。【解決手段】半導体装置10は、第1の接続線L1及び第2の接続線L2に接続される電圧計測回路30と、第1の接続線L1に接続される第1のスイッチSW E1 と、第2の接続線L2に接続される第2のスイッチSW E2 と、出力端が第1のスイッチSW E1 及び第2のスイッチSW E2 に接続され、かつ入力端が最下段の電池セルC1の低電位側に接続されているバッファ回路Buff1と、最上段の電池セルCnの電圧を測定した後に、最下段の電池セルC1の電圧を測定するときに、第1のスイッチSW E1 及び第2のスイッチSW E2 をオンするように制御するCNT12と、を備える。【選択図】図1

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