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1. 发明专利

JP2021105825A シミュレーション装置、数値制御装置、及びシミュレーション方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021105825A
公开(公告)日：2021-07-26
申请号：JP2019236557
申请日：2019-12-26
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 趙威
IPC分类号： B23Q15/00 , G05B19/4069
摘要：【課題】加工面に問題があるかないかの評価を定量的に評価することを可能とする。【解決手段】シミュレーション装置が、工作機械によって被加工物を加工する場合の加工位置データを保存するための保存部と、保存された加工位置データを用いて加工面のシミュレーションを行う加工面シミュレーション部と、加工面のシミュレーションによりシミュレーションされた加工面の表面性状を計算する表面性状計算部と、評価条件に基づいて表面性状を評価する加工面評価部と、を備える。【選択図】図1

2. 发明专利

JP6517879B2 数値制御装置有权
公开(公告)号：JP6517879B2
公开(公告)日：2019-05-22
申请号：JP2017112928
申请日：2017-06-07
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 谷召輝
IPC分类号： G05B19/416 , B23Q15/08 , G05B19/18

3. 发明专利

JP2018163630A 数値制御装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018163630A
公开(公告)日：2018-10-18
申请号：JP2017112928
申请日：2017-06-07
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 谷召輝
IPC分类号： B23Q15/08 , G05B19/416
摘要：【課題】主軸の方向とは異なる方向に切削を行う加工において、最適な送り速度を算出することが可能な数値制御装置を提供すること。【解決手段】本発明の数値制御装置1は、主軸に取り付けられた工具に係る工具データを記憶する工具データ記憶部220と、加工プログラム200から指令ブロックを読み出して解析し、主軸をワークに対して相対的に移動させる移動指令データと、主軸の回転させる主軸回転指令データとを生成する指令解析部100と、工具の工具データに基づいて主軸の推奨切削送り速度を算出し、移動指令データに含まれる前記主軸の切削送り速度が前記推奨切削送り速度よりも大きい場合に、主軸の切削送り速度を推奨切削送り速度でクランプする切削速度制御部102と、を備える。【選択図】図2

4. 发明专利

JP2020170355A 評価用ワーク、加工プログラム及びデータ構造审中-公开
公开(公告)号：JP2020170355A
公开(公告)日：2020-10-15
申请号：JP2019071537
申请日：2019-04-03
申请人：ファナック株式会社
发明人：趙威 , 相澤誠彰
IPC分类号： G05B19/4093 , B23Q15/00 , B23C3/16 , G05B19/4097
摘要：【課題】加工プログラム、数値制御装置、及び機械等の種々の要因が工作機械による加工に与える影響を評価する。【解決手段】直線3軸と1軸以上の回転軸とを備えた多軸加工機によって加工された評価用ワークであって、工具の傾きが変化する曲面部と、工具の異なる角度で加工する、隣接する2つの領域を有する平面の2つの領域の境界部と、工具先端点の移動量に対して、回転軸の移動量が大きい角部とのうちの少なくとも1つを備えた評価用ワーク。曲面部は、自由曲面に形成されていることが望ましい。評価用ワークは、台状加工部と台状加工部上に形成されるねじれ加工部とを有し、境界部は台状加工部の表面に形成され、曲面部及び角部はねじれ加工部に形成されることが望ましい。【選択図】図11

5. 发明专利

JP6560707B2 加工面品位評価装置有权
公开(公告)号：JP6560707B2
公开(公告)日：2019-08-14
申请号：JP2017084040
申请日：2017-04-20
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 萱沼友一 , トウセイ
IPC分类号： G01N21/84 , G01N21/93 , G05B19/18 , G05B19/4155

6. 发明专利

JP6081954B2 工作機械の反転動作を高速化する数値制御装置有权
标题翻译：加快机床换向运行数值控制器
公开(公告)号：JP6081954B2
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：JP2014090132
申请日：2014-04-24
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 野田幸一
IPC分类号： G05B19/416 , B23Q15/00 , G05B19/4155
CPC分类号： G05B19/19 , G05B19/416 , G05B7/02 , G05B2219/41084

7. 发明专利

JP2021064128A 検出装置及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2021064128A
公开(公告)日：2021-04-22
申请号：JP2019188034
申请日：2019-10-11
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 藤本浩之
IPC分类号： B23Q17/09 , G05B19/4062
摘要：【課題】運転状態に応じて、より適切に工具の損傷を抑制する検出装置及びプログラムを提供すること。【解決手段】検出装置は、ワークを加工しない空送り運転において許容され得る負荷量のしきい値を、空送りしきい値として取得する空送りしきい値取得部と、ワークを実際に加工する実加工運転の実行によって見込まれる負荷量の増加分を見込負荷量として取得する見込負荷量取得部と、空送りしきい値及び見込負荷量に基づいて、実加工運転において許容され得る負荷量のしきい値を実加工しきい値として算出する算出部と、空送り運転又は実加工運転のいずれの運転モードであるかを取得する運転モード取得部と、運転中の工具の負荷量を実加工負荷量として取得する実加工負荷量取得部と、運転モードに基づいて、空送りしきい値又は実加工しきい値に対する実加工負荷量の超過を検出する検出部と、実加工負荷量の超過を示す信号を出力する出力部と、を備える。【選択図】図2

8. 发明专利

JP6499710B2 加減速制御装置有权
公开(公告)号：JP6499710B2
公开(公告)日：2019-04-10
申请号：JP2017084039
申请日：2017-04-20
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 萱沼友一
IPC分类号： G05B19/4155 , G06N20/00 , G06N3/08 , G05B19/416

9. 发明专利

JP2018181217A 加減速制御装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018181217A
公开(公告)日：2018-11-15
申请号：JP2017084039
申请日：2017-04-20
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 萱沼友一
IPC分类号： G05B19/4155 , G06N99/00 , G06N3/08 , G05B19/416
CPC分类号： G05B19/416 , G05B13/0265 , G05B19/4083 , G05B2219/33056 , G05B2219/41367 , G05B2219/49061 , G06N99/005
摘要：【課題】工作機械の各軸の制御における最適な加減速を生成することが可能な加減速制御装置を提供すること。【解決手段】本発明の加減速制御装置10は、ワークの加工を行う工作機械を制御する加減速制御装置である。加減速制御装置10は、工作機械の各軸の速度のN階時間微分要素を学習する機械学習装置20を備える。機械学習装置20は、各軸の速度のN階時間微分要素を示す第1の状態データを、環境の現在状態を表す状態変数として観測する状態観測部22と、加工済みワークの加工精度、面品位及び加工時間のうち少なくともいずれか1つの適否判定結果を示す判定データを取得する判定データ取得部24と、状態変数と判定データとを用いて、各軸の速度のN階時間微分要素を、加工済みワークの加工精度、面品位及び加工時間のうち少なくともいずれか1つと関連付けて学習する学習部26と、を備える。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2018181216A 加工不良要因推定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018181216A
公开(公告)日：2018-11-15
申请号：JP2017084032
申请日：2017-04-20
申请人：ファナック株式会社
发明人：相澤誠彰 , 萱沼友一
IPC分类号： G05B19/4155 , G06N99/00 , G05B19/18
CPC分类号： G05B19/4083 , G05B13/0265 , G05B19/402 , G05B19/4065 , G05B2219/37245 , G05B2219/49061
摘要：【課題】ワークの加工面に不良が発生した場合にその要因を推定することが可能な加工不良要因推定装置を提供すること。【解決手段】本発明の加工不良要因推定装置10は、検査装置によるワークの加工面の検査結果に基づいて、加工面不良の発生要因を判定する。加工不良要因推定装置10は、検査装置による検査結果に対応する加工面不良の発生要因を学習する機械学習装置20を備え、機械学習装置20は、検査装置によるワークの加工面の検査結果を状態変数として観測する状態観測部22と、加工面不良の発生要因を示すラベルデータを取得するラベルデータ取得部24と、状態変数と、ラベルデータとを関連付けて学習する学習部26と、を備える。【選択図】図1

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