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    • 1. 发明专利
    • 測定チップ
    • 测量芯片
    • JP2017037035A
    • 2017-02-16
    • JP2015159560
    • 2015-08-12
    • テルモ株式会社
    • 森 則子西内 大祐井尻 朋応矢口 喜明杉山 隆行
    • A61B5/157A61B5/1459G01N35/00
    • 【課題】検体を取り込む際の使い易さを向上させた測定チップを提供する。 【解決手段】流体回路を内部に区画するチップ本体部2と、チップ本体部2に対して回動可能に取り付けられ、流体回路に導入する検体を外方から取り込む検体取込部3と、を備え、検体取込部3は、外方から検体を取り込む取込口41が先端部に設けられていると共に、取込口41から取り込まれた検体を保持する保持空間42を取込口41よりも基端側に区画しており、検体取込部3は、チップ本体部2から外方に突出し、保持空間42が流体回路と連通しない第1状態と、第1状態よりもチップ本体部2に向かって傾倒しており、保持空間42が流体回路と連通する第2状態と、の間を回動可能である。 【選択図】図1
    • 为了提供具有改善的易于使用的测量芯片在捕获样品。 所述的流体回路和所述芯片主体部2进行分区内部,可枢转地附接到所述芯片主体部2,和试样采取部3抽出的样品被引入到从外部流体回路,该 提供,样品取入部3,连同入口41采取来自外部的样品设置在前端部,保持空间42用于保持从入口41采取比入口41的试样 也划分为基端侧,将样品取入部3,芯片本体部2向外保持空间42和第一状态没有流体回路和与芯片主体2比第一状态通信突出 我们朝向其中,保持空间42连通于流体回路的第二状态,在它们之间是可旋转的倾斜。 点域1
    • 8. 发明专利
    • 測定用チップ及び成分測定システム
    • 用于测量和组件测量系统的芯片
    • JP2016142701A
    • 2016-08-08
    • JP2015020833
    • 2015-02-05
    • テルモ株式会社
    • 杉山 隆行
    • G01N33/52G01N33/66G01N21/78
    • 【課題】透過光方式による成分測定を立体形状チップの形態で実現することができる測定用チップ及び成分測定システムを提供する。 【解決手段】成分測定システム10に用いられる測定用チップ14は、体液を導入するための導入路が形成されたボディ48と、ボディ48に保持された導光部材50と、ボディ48の内側で導光部材50の少なくとも一部よりも基端側に配置された光透過部材52と、光透過部材52に支持された試薬54とを備える。導光部材50は、測定用チップ14の基端側からの光を受け、測定用チップ14の基端側に向けて光を出射する。 【選択図】図2
    • 要解决的问题:提供一种可以通过三维芯片形式的透射光法实现元件测量的测量和元件测量系统的芯片。解决方案:用于元件测量系统10中的测量用芯片14 包括:主体48,其包括用于引入生物流体的引入路径; 由本体48保持的导光构件50; 布置在主体48的内部的光传输部件52和导光部件50的至少一部分的基端侧,以及支撑在光传输部件52上的试剂54.导光部件50从基部 用于测量的芯片14的端侧,并且朝向芯片14的基端侧辐射光以进行测量。图2:图2