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    • 2. 发明专利
    • 検量線作成方法及び装置、目的成分検量方法及び装置、並びに、電子機器
    • 校准曲线创建方法和设备,目标组件校准方法和设备和电子设备
    • JP2016065803A
    • 2016-04-28
    • JP2014195026
    • 2014-09-25
    • セイコーエプソン株式会社
    • 倉沢 光荒井 佳文
    • G01N21/27
    • G01N21/274G01N21/31G01N21/359G06F17/18G01N2021/3196G01N2201/1293G06K9/2018G06K9/6242
    • 【課題】観測データに含まれるベースライン変動の影響を低減して検量精度を高める。 【解決手段】検量線作成方法は、各サンプルの独立成分を含む独立成分行列を求める工程を含み、この工程において、観測データの正規化を含む第1前処理と、白色化を含む第2前処理と、独立成分分析処理とをこの順に実行することによって独立成分行列を求める工程を含む。第1前処理では零空間射影法による処理の後に正規化を実行する。また、零空間射影法において、観測データのデータ長Nの序数λ(λは1からNまでの整数)に依存する変動を表す1変数関数として、指数が整数であるλのべき乗関数ではなく、かつ、λの値が1からNまでの範囲においてλの増加に応じて単調に増加する1変数関数を使用する。 【選択図】図3
    • 要解决的问题:减少观察数据中包括的基线变化的影响并提高校准精度。解决方案:校准曲线创建方法包括获得包括每个样本的独立分量的独立分量矩阵的步骤。 在该步骤中,校准曲线创建方法包括通过执行包括观测数据的归一化的第一预处理,包括依次进行白化和独立分量分析处理的第二预处理来获得独立分量矩阵的步骤。 在第一预处理中,校准曲线创建方法在通过零空间投影方法处理之后执行归一化。 此外,在零空间投影法中,单变量函数不是λ的幂函数,其具有索引为整数,并且响应于在λ值的范围内的λ的增加而具有单调增加的λ值 1至N被用作表示根据观测数据的数据长度N的序数λ(λ是从1到N的整数)的变化的单变量函数。选择的图示:图3