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1. 发明专利

JP2019008325A 電気光学装置および電子機器审中-公开
公开(公告)号：JP2019008325A
公开(公告)日：2019-01-17
申请号：JP2018187848
申请日：2018-10-03
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：太田人嗣 , 石黒英人
IPC分类号： G09G3/3275 , G09G3/20 , H01L51/50 , G09G3/3233
摘要：【課題】細かい精度のデータ信号を必要としない一方で、発光素子に供給する電流を精度良く制御する。【解決手段】各列のデータ線14に対応して保持容量44、50が設けられる。画素回路110は、ゲート・ソース間の電圧に応じた電流を供給するトランジスター121と、トランジスター121により供給された電流に応じてOLED130と、データ線14とゲートノードgとの間でオンまたはオフするトランジスター122と、を含む。初期化期間において、トランジスター121をオンさせてデータ線14に初期電位Viniを供給し、書込期間において、トランジスター122をオンさせた状態で、階調レベルに応じた電位のデータ信号を保持容量44のノードhに他端に供給し、書込期間の終了時に、トランジスター122をオフさせる。【選択図】図9

2. 发明专利

JP6291875B2 血糖値計測装置及び血糖値計測方法有权
公开(公告)号：JP6291875B2
公开(公告)日：2018-03-14
申请号：JP2014017025
申请日：2014-01-31
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：笠原広和 , 溝部公威 , 石黒英人
IPC分类号： A61B5/15 , A61B5/1455
CPC分类号： A61B5/7275 , A61B5/1118 , A61B5/14532 , A61B5/1455 , A61B5/1495 , A61B5/4866 , A61B5/681 , A61B2560/0209 , G06F19/00

3. 发明专利

JP6291874B2 生体情報測定装置及び生体情報測定方法有权
公开(公告)号：JP6291874B2
公开(公告)日：2018-03-14
申请号：JP2014017024
申请日：2014-01-31
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：笠原広和 , 溝部公威 , 石黒英人
IPC分类号： A61B5/15 , A61B5/1455
CPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/02007 , A61B5/14532 , A61B5/489 , A61B5/681 , A61B2560/0209 , A61B2562/046

4. 发明专利

JP6055167B2 撮像装置有权
公开(公告)号：JP6055167B2
公开(公告)日：2016-12-27
申请号：JP2011085277
申请日：2011-04-07
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：土屋仁 , 石黒英人
IPC分类号： A61B5/1171 , G01N21/35 , A61B5/117

5. 发明专利

JP2016154648A 情報取得装置审中-公开
标题翻译：信息获取设备
公开(公告)号：JP2016154648A
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：JP2015033759
申请日：2015-02-24
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：石黒英人 , 江口司 , 土屋仁 , 伊藤恵
IPC分类号： A61B10/00 , A61B5/107 , A61B5/1455
CPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/02416 , A61B5/14532 , A61B5/14551 , A61B5/1495 , A61B5/6824 , A61B5/742 , G01N21/474 , G01N21/4785 , G01N21/4795 , A61B2560/0223 , A61B2560/0233 , A61B2562/0233 , G01N21/31
摘要：【課題】センサー感度が経時変化しても精度良く被検体における反射光の特性を検出することができる情報取得装置を提供する。【解決手段】成分測定装置1は被測定部で反射した第一反射光を入力して第一反射光の光強度に対応する信号を出力するセンサーモジュール10を備える第1ユニット2と、第1ユニット2と分離し第一反射光の光強度を比較するための第二反射光をセンサーモジュール10に出力する反射率の安定した校正板36を備える第2ユニット3と、を有する。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供即使当传感器灵敏度被长期改变时也能够精确地检测分析物上的反射光的特性的信息获取装置。解决方案：部件测量装置1具有：第一单元2，其包括传感器模块10 用于输入由被测量部件反射的第一反射光，并输出与第一反射光的光强对应的信号; 以及第二单元3，其包括具有稳定反射率的校准板36，用于与第一单元2分离地输出用于将第一反射光的光强度与传感器模块10进行比较的第二反射光。选择的图示：图4

6. 发明专利

JP2015146203A 静脈像撮像装置および電子機器有权
标题翻译： VEI成像装置和电子设备
公开(公告)号：JP2015146203A
公开(公告)日：2015-08-13
申请号：JP2015044363
申请日：2015-03-06
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：神田栄二 , 石黒英人 , 江口司 , 藤田徹司 , 山本英利
IPC分类号： A61B5/117 , H01L27/14 , H04N1/028 , G06T1/00
摘要：【課題】対象物からの反射光を精度よく受光できるようにしつつ装置を薄型化する。【解決手段】センシング装置において発光部20は受光部30より対象物F側に位置する。発光部20は、照射光ILを発する発光層26と、照射光ILと反射光RLを透過する第1電極22と、照射光ILと反射光RLを遮光すると共に開口部が形成された第2電極24と、第2電極24の開口部に対応する位置に設けられ、照射光ILと反射光RLを遮光すると共に第1電極22と第2電極24とを部分的に絶縁する絶縁層28とを備える。受光部30は反射光RLを受光する受光素子Dを備える。遮光層BMは、第2電極24の開口部に対応する位置に設けられ、照射光ILと反射光RLを遮光すると共に開口部が形成されている。対象物F側から平面視した場合に、遮光層BMは第2電極24の開口部と重なり、受光素子Dの受光面は遮光層BMの開口部内に位置する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：降低装置的厚度，同时实现高精度地接收来自物体的反射光。解决方案：提供一种感测装置，其包括位于发光体的物体F侧的发光单元20，发光单元20包括：发射照射光IL的发光层26; 透射照射光IL和反射光RL的第一电极22; 阻挡照射光IL和反射光RL的第二电极24，其中形成有开口; 以及设置在与第二电极24的开口相对应的位置处的绝缘层28，阻挡照射光IL和反射光RL，并且在第一电极22和第二电极24之间部分绝缘。光接收单元30包括接收反射光RL的光接收元件D. 遮光层BM设置在与第二电极24的开口对应的位置处，阻挡照射光IL和反射光RL，并且形成有开口。在从物体F侧的俯视图中，遮光层BM与第二电极24的开口重叠，受光元件D的受光面位于遮光层BM的开口内。

7. 发明专利

JP6428052B2 生体情報取得装置及び電子機器审中-公开
公开(公告)号：JP6428052B2
公开(公告)日：2018-11-28
申请号：JP2014171264
申请日：2014-08-26
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：江口司 , 石黒英人
IPC分类号： G06T1/00 , A61B5/117 , A61B5/1455
CPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/02007 , A61B5/14532 , A61B5/14546 , A61B5/489 , A61B5/681 , H01L51/006 , H01L51/0069

8. 发明专利

JP6424456B2 発光装置、発光装置の製造方法、受発光装置、電子機器审中-公开
公开(公告)号：JP6424456B2
公开(公告)日：2018-11-21
申请号：JP2014084339
申请日：2014-04-16
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：藤田徹司 , 山本英利 , 石黒英人 , 江口司
IPC分类号： H05B33/12 , H01L51/50 , H05B33/02 , H05B33/28 , H05B33/26 , H05B33/10 , H01L27/32 , G09F9/30 , H05B33/24
CPC分类号： H01L33/405 , G06K9/0004 , G06K9/00046 , G06K2009/00932 , H01L31/16 , H01L31/18 , H01L33/005 , H01L33/42

9. 发明专利

JP6364792B2 生体情報処理方法、生体情報処理装置、コンピューターシステム、及びウェアラブル機器有权
公开(公告)号：JP6364792B2
公开(公告)日：2018-08-01
申请号：JP2014017021
申请日：2014-01-31
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：笠原広和 , 江口司 , 石黒英人
IPC分类号： A61B5/1455
CPC分类号： A61B5/14532 , A61B5/1455 , A61B5/6801 , A61B5/681 , A61B5/7207 , A61B5/7221 , A61B5/742 , A61B5/743

10. 发明专利

JP2016150130A 情報取得装置および情報取得方法审中-公开
标题翻译：信息获取设备和信息获取方法
公开(公告)号：JP2016150130A
公开(公告)日：2016-08-22
申请号：JP2015029301
申请日：2015-02-18
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：石黒英人 , 江口司 , 土屋仁 , 伊藤恵
IPC分类号： A61B5/1455
CPC分类号： G01J1/44 , A61B5/02416 , A61B5/1455 , A61B5/14551 , A61B5/1495 , A61B5/681 , A61B5/6824 , G01N21/474 , G01N21/4785 , A61B2560/0223 , A61B2560/0233 , A61B2562/0233 , G01J2001/444 , G01N21/31 , G01N21/4795
摘要：【課題】センサー感度が経時変化しても精度良く被検体における反射光の特性を検出することができる情報取得装置を提供する。【解決手段】成分測定装置1は、反射光32を入力して反射光32の光強度に対応する信号を出力するセンサーモジュール12と、反射光32の光強度を比較するための第1反射光32aをセンサーモジュール12に出力する校正板21と、センサーモジュール12に入力する反射光32を被測定部2aで反射した第2反射光32bと第1反射光32aとで切り替える校正ユニット14と、を備える。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供即使在传感器灵敏度随时间变化的情况下也能够精确地检测反射光的特性的信息获取装置。解决方案：部件测量装置1包括：传感器模块12，其接收反射光32并输出信号对应于反射光32的光强度; 校准板21，其向传感器模块12输出用于比较反射光32的光强度的第一反射光32a; 以及校准单元14，其将由传感器模块12接收的反射光32切换到由测量对象部分2a反射的第二反射光32b和第一反射光32之间。图4

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