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    • 2. 发明专利
    • Erase algorithm for multi-level bit flash memory
    • JP2008503028A
    • 2008-01-31
    • JP2007527195
    • 2005-02-11
    • スパンジョン・リミテッド・ライアビリティ・カンパニーSpansion Llc
    • シーア,エドワードバサル,ファティマハミルトン,ダーリーン正人 堀池
    • G11C16/02G11C11/56G11C16/34
    • G11C16/3413G11C11/5635G11C16/3404G11C16/3409
    • 3つ以上のデータ状態(100、200)を有するマルチレベルフラッシュメモリセル(MLB)のセクタを消去して、単一のデータ状態(1000)に至らせる方法(400)が提供される。 この発明は、双方向のセクタ消去アルゴリズム(400)を用いて、2つ以上の消去フェーズにおいて、セクタの消去(410、440)、検証(416)、ソフトプログラミング(420、450)、プログラミング(430)を繰り返すことで、高密度なデータ状態分布(300、1000)を実現する。 一例では、アルゴリズム(400)は本質的に、第1のフェーズにおいて、双方向の消去パルス、ソフトプログラミングパルスおよびプログラミングパルスを用いて、セクタのすべてのMLBセルを消去して、中間状態(410、600)および対応する閾電圧値に至らせる。 次に第2のフェーズ(440、450)では、このアルゴリズムはさらに、セルの所望の最終閾電圧値(1000)に対応する最終データ状態が得られるまで、追加の双方向の消去パルス(440)およびソフトプログラミングパルス(450)を用いて、セクタのすべてのML13セルを消去する。 オプションで、後に続くプログラミング動作に備えるために、アルゴリズム(400)は、セクタのメモリセルを高密度化された共通の消去状態(1000)に連続的に至らせる同様の動作における1つまたは複数の追加のフェーズを含んでいてもよい。 この方法の一局面では、これらのフェーズのために選択される実際の閾値および/またはデータ状態は、ユーザによって予め定められてメモリデバイスに入力されてもよい。