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    • 1. 发明专利
    • 電子機器、内蔵電源の劣化推定システムおよび内蔵電源の劣化推定方法
    • 电子设备,内置电源的检测估计系统和内置电源的检测估计方法
    • JP2016090426A
    • 2016-05-23
    • JP2014225890
    • 2014-11-06
    • コニカミノルタ株式会社
    • 池田 祐希江口 愛彦
    • G01R31/36H02J7/00G03B42/02H01M10/48G01R31/00
    • G01R31/3679
    • 【課題】電子機器の内蔵電源の劣化度合を的確に推定することが可能な電子機器を提供する。 【解決手段】充電可能な内蔵電源24と、外部電源Bから供給された電力を内蔵電源24に供給する充電回路25と、内蔵電源24の電圧Vを測定する電圧測定回路27と、を備える電子機器1において、内蔵電源24の温度Tを測定する温度センサーTと、内蔵電源24の劣化度合を推定する推定回路29とを備え、推定回路29は、電圧測定回路27が測定した内蔵電源24の電圧Vと温度センサー28が測定した内蔵電源24の温度Tとに基づいて、内蔵電源24の劣化度合を推定する劣化推定処理を行うことが可能であるか否かを判定し、内蔵電源24の劣化推定処理を行うことが可能であると判定した場合にのみ、内蔵電源24の劣化推定処理を行う。 【選択図】図6
    • 要解决的问题:提供能够不经意地估计电子设备的内置电源的劣化程度的电子设备。解决方案:电子设备1设置有可再充电的内置电源24,充电电路 将从外部电源B供给的电力提供给内置电源24的电压测量电路25以及测量内置电源24的电压V的电压测量电路27.电子设备1还具有温度 测量内置电源24的温度T的传感器T以及估计内置电源24的劣化程度的估计电路29.估计电路29确定是否可以执行劣化估计 根据由电压测量值测量的内置电源24的电压V,来估计内置电源24的劣化度的处理 由温度传感器28测量的内置电源24的温度T和内置电源24的劣化估计处理仅在确定内置电源24的劣化估计处理时, 可以执行电源24。选择图:图6