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1. 发明专利

JP6287848B2 電界発光素子およびその電界発光素子を用いた照明装置有权
公开(公告)号：JP6287848B2
公开(公告)日：2018-03-07
申请号：JP2014543210
申请日：2013-10-01
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：今田昌宏
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/14 , H05B33/02 , H05B33/28 , H05B33/24
CPC分类号： H01L51/5271 , H01L51/5268 , H01L51/5275 , H01L2251/5346 , H05B33/28

2. 发明专利

JP5891962B2 面発光体有权
标题翻译：表面发射体
公开(公告)号：JP5891962B2
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：JP2012134787
申请日：2012-06-14
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：今田昌宏 , 大澤耕 , 内藤充良 , 毛利孝裕
IPC分类号： F21Y115/20 , F21S2/00

3. 发明专利

JPWO2019045028A1 非破壊検査方法及び非破壊検査装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019045028A1
公开(公告)日：2020-10-01
申请号：JP2018032283
申请日：2018-08-31
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：関根孝二郎 , 今田昌宏 , 八木司 , 土田匡章 , 波多野卓史
IPC分类号： G01N27/82
摘要：試料に電流を流して発生する2次元磁場分布を測定して試料の異常箇所を検出するにあたり、異常箇所に起因する微弱磁場変化を効果的に強調し、精度よく異常箇所を検出する。試料1に電流を流して発生する2次元磁場分布を測定して試料の異常箇所14を検出する非破壊検査方法において、試料内の主電流が流れる方向13に対し平行な方向Yについて2次元磁場分布の空間差分をとった2次元空間差分分布を算出する。空間差分をとる磁場成分は、主電流が流れる方向に対し垂直な方向Xの磁場成分とする。

4. 发明专利

JP2018081149A 画像出力装置、遠隔会議システム、および画像出力方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018081149A
公开(公告)日：2018-05-24
申请号：JP2016221838
申请日：2016-11-14
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：今田昌宏 , 石田剛史
IPC分类号： G09G5/00 , G09G5/36 , G09G5/377 , G09G5/38
摘要：【課題】撮像部により対象物を撮像して各種の情報とともに表示部に表示する際、表示画面全体を有効に利用しつつ、対象物が移動しても情報を適切に伝達できる画像出力装置を提供する。【解決手段】本発明の画像出力装置は、対象物を撮像する撮像部と、ユーザーにより入力された情報を受け付ける受付部と、受付部により受け付けられた情報を示す情報画像を撮像部の撮像領域内の所定の表示位置に投影表示する投影部と、撮像部により対象物を撮像して得られた撮像画像の画像データを出力する出力部と、対象物の移動を検出する検出部と、検出部により対象物の移動が検出された場合、対象物に対応する情報画像があるか否かを判断する判断部と、判断部により対象物に対応する情報画像があると判断された場合、当該情報画像が対象物に追従して移動するように情報画像の表示位置を変更する制御を行う表示制御部と、を有する。【選択図】図4

5. 发明专利

JP2016195081A 面発光モジュール审中-公开
标题翻译：表面发光模块
公开(公告)号：JP2016195081A
公开(公告)日：2016-11-17
申请号：JP2015075191
申请日：2015-04-01
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：平尾祐亮 , 平岩賢嗣 , 今田昌宏 , 関根孝二郎 , 内藤充良
IPC分类号： H05B33/02 , H01L51/50 , H05B33/24 , F21Y115/20 , F21S2/00
摘要：【課題】厚みを薄く保ちつつ、見掛け上の発光領域の大きさを大幅に拡大することができる面発光モジュールを提供する。【解決手段】面発光モジュール1は、電界発光層24を含む面発光体20と、光透過性基材10と、散乱面30aとを備える。面発光体20は、光透過性基材10に接するとともに光透過性基材10によって覆われた主表面20aを有し、当該主表面20aには、電界発光層24が位置する領域である発光領域A1と、発光領域A1の周囲に位置し、電界発光層24が位置しない領域である非発光領域A2とが設けられる。散乱面30aは、発光領域A1よりも広い範囲にわたって配置される。主表面20a上における発光領域A1の中央部Cの輝度をL C とした場合に、主表面20a上における輝度が1.25×L C 以上である明部Eが、発光領域A1の外周縁に沿って発光領域A1に設けられる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在保持薄的厚度的同时显着增加表观发光区域的表面发光模块。解决方案：面发光模块1包括表面光发射器20，其包括电致发光层24，透光基材10和散射面30a。表面光发射器20具有与透光基材10接触并被透光基材10覆盖的主表面20a。主表面20a具有作为电致发光层24所在区域的发光区域A1，以及电致发光层24未定位的非发光区域A2。散射面30a配置在比发光区域A1宽的范围内。在发光区域A1的外周边沿着发光区域A1的发光区域A1的中心部分C的亮度设置在发光区域A1中具有1.25×Lor以上的主表面20a的亮度的明亮部分E 在主表面20a上是选择的图：图2

6. 发明专利

JP2020187088A 検査装置及び画像生成方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020187088A
公开(公告)日：2020-11-19
申请号：JP2019093621
申请日：2019-05-17
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：今田昌宏
IPC分类号： G01N23/041
摘要：【課題】大掛かりな装置を使用することなく、被写体に負荷を与えたときの、従来の吸収X線画像では見えないような被写体内部の変化を、より短い撮影時間でより広い視野で取得して観察できる検査装置を提供する。【解決手段】検査装置100は、放射線源11と、マルチスリット12と、第1格子14と、第2格子15と、放射線検出器16と、が放射線照射軸方向に並んで設けられたタルボ・ロー干渉計を備える本体部1と、引張試験機23と、コントローラー5と、を備える。コントローラー5の制御部は、引張試験機23により被写体に荷重を与える前に本体部1に被写体タルボ撮影を行わせた後、引張試験機23を制御して被写体に荷重を与え、荷重が与えられた被写体を本体部1によりタルボ撮影させて、複数の小角散乱画像及び/又は微分位相画像を生成させる。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2016146259A 透明電極の設計方法および面発光素子用透明電極审中-公开
标题翻译：用于设计透明电极和透明电极的表面发光元件的方法
公开(公告)号：JP2016146259A
公开(公告)日：2016-08-12
申请号：JP2015022305
申请日：2015-02-06
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：大澤耕 , 今田昌宏 , 関根孝二郎
IPC分类号： H05B33/28
摘要：【課題】簡便な方法を用いて面発光素子内部において発生した光が透明電極で吸収される量を測定することで、適切に面発光素子用透明電極の設計を行なうことを可能とする、面発光素子に用いられる透明電極の設計方法および面発光素子に用いられる透明電極を提供する。【解決手段】透明基板11上に透明電極12を有する面発光素子における、透明電極12の設計方法であって、透明電極12の選択においては、夫々のサンプル透明電極について、それぞれの角度におけるサンプル透明電極の吸収率、および、それぞれの偏光におけるサンプル透明電極の吸収率を評価し、総合的な吸収率が低いサンプル透明電極を最適な面発光素子に用いる透明電極として選択する。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于设计用于表面发光元件的透明电极的方法，其中可以通过测量在内部发射的吸收光的量来适当地设计用于表面发光元件的透明电极的透明电极的方法，并且还提供用于表面发光元件的透明电极。解决方案：公开了一种用于设计表面发光元件的透明电极12的方法，在透明基板11上具有透明电极12的元件。在透明电极12的选择中，关于每个样品透明电极，每个角度处的样品透明电极的吸收率和每个样品透明电极的吸收率评估偏振光，选择具有低综合吸收率的样品透明电极透明电极用于最佳表面发光元件。选择图：图3

8. 发明专利

JP5736787B2 回折格子の製造方法ならびに該製造方法によって製造された回折格子およびこの回折格子を用いたX線撮像装置有权
标题翻译：使用衍射光栅和衍射的X射线成像装置，通过光栅的制造方法及衍射的制造方法生产的光栅
公开(公告)号：JP5736787B2
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：JP2011007976
申请日：2011-01-18
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：横山光 , 今田昌宏
IPC分类号： G01N23/04 , G01T7/00

9. 发明专利

JPWO2019059012A1 非破壊検査方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019059012A1
公开(公告)日：2020-11-05
申请号：JP2018033347
申请日：2018-09-10
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：今田昌宏 , 波多野卓史 , 関根孝二郎 , 土田匡章 , 八木司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N27/82 , G01J5/48 , G01N3/40 , G01N23/041
摘要：種類の異なる複数の非破壊検査手段を用いて検査対象を検査するにあたり、当該各非破壊検査手段の検出結果において特定される検査対象上の位置同士を簡単かつ正確に合わせる。複数の非破壊検査手段のうち一の非破壊検査手段による検出結果(図1A)中の検査対象上にマーキング位置を決定して装置に記憶させるとともに、同マーキング位置に相当する検査対象(1)上にその他の非破壊検査手段により検出可能なマーク(m1,m2,m3)を固定的に形成し(図1B)、その後、その他の非破壊検査手段によりマークを含めて検査対象を検出し、マーク、すなわち、マーキング位置を基準にして複数の非破壊検査手段による検出結果同士を対照する。

10. 发明专利

JPWO2019058993A1 非破壊検査方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019058993A1
公开(公告)日：2020-11-05
申请号：JP2018033165
申请日：2018-09-07
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：今田昌宏 , 波多野卓史 , 関根孝二郎 , 土田匡章 , 八木司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N27/82 , G01J5/48 , G01N23/041
摘要：種類の異なる複数の非破壊検査手段を用いて検査対象を検査するにあたり、当該各非破壊検査手段の検出結果において特定される検査対象上の位置同士を簡単かつ正確に合わせる。種類の異なる複数の非破壊検査手段を用いて検査対象を検査するにあたり、複数の非破壊検査手段のいずれの非破壊検査手段でも検出可能な共通のマーク(m1,m2,m3)を検査対象(1)上に固定的に形成し、その後、複数の非破壊検査手段のそれぞれによりマークを含めて検査対象を検出し、マークを位置基準にして複数の非破壊検査手段による検出結果同士を対照する。

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