专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP2021087817A 画像処理装置及び画像処理方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021087817A
公开(公告)日：2021-06-10
申请号：JP2021027609
申请日：2021-02-24
申请人：キヤノン株式会社
发明人：古徳雅史 , 岩瀬好彦 , 佐藤眞
IPC分类号： A61B3/12 , A61B3/10
摘要：【課題】新生血管や線維化組織等の識別が困難な組織を識別可能な画像を生成すること。【解決手段】画像処理装置は、測定光を照射した被検体からの戻り光と測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光を分割して得た互いに異なる偏光の光の断層信号に基づいて、被検体の3次元偏光断層情報及び3次元モーションコントラスト情報を取得する情報取得手段と、3次元偏光断層情報を用いて被検体の病変領域を抽出する抽出手段と、病変領域が3次元モーションコントラスト情報を用いて生成されたモーションコントラスト画像に重畳された画像を生成する画像生成手段と、を有する。【選択図】図5

2. 发明专利

JP6758825B2 画像処理装置およびその作動方法有权
公开(公告)号：JP6758825B2
公开(公告)日：2020-09-23
申请号：JP2015234270
申请日：2015-11-30
申请人：キヤノン株式会社
发明人：佐藤眞 , 岩瀬好彦
IPC分类号： A61B3/10

3. 发明专利

JP2019115827A 画像処理システム、処理方法及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2019115827A
公开(公告)日：2019-07-18
申请号：JP2019085755
申请日：2019-04-26
申请人：キヤノン株式会社
发明人：岩瀬好彦 , 新畠弘之 , 佐藤眞
IPC分类号： A61B3/10
摘要：【課題】診断対象となる被検眼の網膜形状の凹凸を把握することができるようにした技術を提供する。【解決手段】画像処理システムは、被検眼の断層画像を取得する画像取得手段と、被検眼の断層画像から網膜層を検出する検出手段と、検出した網膜層の部分毎に、網膜層の曲率を求める解析手段と、部分毎に求めた複数の曲率に基づいて作成された2次元マップを表示装置に表示する表示制御手段とを具備する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP6308976B2 診断支援装置、診断支援装置の作動方法、及び診断支援システム有权
公开(公告)号：JP6308976B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2015102277
申请日：2015-05-19
申请人：キヤノン株式会社
发明人：辻井修 , 佐藤眞
IPC分类号： A61B6/00

5. 发明专利

JP6202924B2 撮影装置及び撮影方法有权
公开(公告)号：JP6202924B2
公开(公告)日：2017-09-27
申请号：JP2013159178
申请日：2013-07-31
申请人：キヤノン株式会社
发明人：岩瀬好彦 , 佐藤眞 , 牧平朋之
IPC分类号： G01N21/17 , A61B3/10
CPC分类号： A61B3/1225 , A61B3/0025 , A61B3/0058 , A61B3/102 , A61B3/14 , G01B9/0203 , G01B9/02091 , G06T7/0016 , A61B5/4842 , G01B2290/70 , G06T2207/10101 , G06T2207/30041

6. 发明专利

JP6140932B2 光干渉断層撮影装置及び制御方法有权
公开(公告)号：JP6140932B2
公开(公告)日：2017-06-07
申请号：JP2012082684
申请日：2012-03-30
申请人：キヤノン株式会社
发明人：岩瀬好彦 , 宮田和英 , 佐藤眞 , 牧平朋之 , 山田和朗 , 富田律也 , 湊谷洋平 , 木辺乃介 , 新畠弘之
IPC分类号： A61B3/10
CPC分类号： A61B3/102 , A61B3/0041

7. 发明专利

JP6071331B2 画像処理装置及び画像処理方法有权
公开(公告)号：JP6071331B2
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：JP2012186590
申请日：2012-08-27
申请人：キヤノン株式会社
发明人：佐藤眞 , 牧平朋之 , 岩瀬好彦 , 宮田和英 , 新畠弘之 , 富田律也 , 木辺乃介
IPC分类号： A61B3/10
CPC分类号： A61B3/102 , A61B3/0025 , A61B3/0058 , A61B3/12 , A61B3/14 , A61B3/152

8. 发明专利

JP5988883B2 画像処理装置及び画像処理方法有权
公开(公告)号：JP5988883B2
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：JP2013008618
申请日：2013-01-21
申请人：キヤノン株式会社
发明人：牧平朋之 , 岩瀬好彦 , 佐藤眞 , 宮田和英 , 新畠弘之 , 富田律也 , 木辺乃介
IPC分类号： A61B3/14 , A61B3/12 , G01N21/21 , G01N21/17 , A61B3/10
CPC分类号： G06T11/003 , A61B3/0025 , A61B3/102 , A61B5/00 , G01N21/17 , G01N21/21 , G01N21/4795 , A61B3/1225 , G01N2021/1787

9. 发明专利

JP2015157040A 偏光OCT装置及びその制御方法审中-公开
标题翻译：偏振OCT装置及其控制方法
公开(公告)号：JP2015157040A
公开(公告)日：2015-09-03
申请号：JP2014034553
申请日：2014-02-25
申请人：キヤノン株式会社
发明人：福原誠 , 佐藤眞 , 戸松宣博 , 住谷利治
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/21 , A61B3/10
CPC分类号： G01B9/02091 , A61B3/102 , G01B9/02011 , G01B9/02067 , G01B2290/70
摘要：【課題】偏光状態の補正を行うことを可能とする偏光OCT装置を提供する。【解決手段】光源から照射された光を測定光と参照光とに分割し、被検査物に照射された前記測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させ干渉光を生成する干渉手段と、前記干渉光を異なる偏光成分の光に分割する分割手段と、前記分割手段により分割された光を検出して信号を生成する生成手段と、を有する偏光OCT装置において、測定光路中における前記測定光と、前記干渉手段を経由した前記測定光の戻り光と、前記干渉手段を経由した前記参照光の偏光状態をそれぞれ検出する検出手段と、前記検出されたそれぞれの偏光状態に基づいて各偏光状態の制御を行う偏光制御手段と、を有することを特徴とする偏光OCT装置。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供能够校正偏振状态的偏振OCT（光学相干断层扫描）装置。解决方案：偏振OCT装置包括：将从光源施加的光分成测量光和参考光的干涉手段，导致将测量光的返回光通过参考光路干涉参考光以产生干涉光; 分割意味着将干涉光分成具有不同偏振分量的光; 以及生成装置，其检测由分割装置分割的光以产生信号。极化OCT装置还包括：检测装置，分别检测测量光路中的测量光的偏振状态，经由干涉装置的测量光的返回光和经由干涉装置的参考光; 以及偏振控制装置，其基于检测到的各个极化状态来控制各个偏振状态。

10. 发明专利

JP5693550B2 診断支援装置およびその制御方法、診断支援システム、プログラム有权
标题翻译：诊断支持设备及其控制方法，诊断支持系统，程序
公开(公告)号：JP5693550B2
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：JP2012263659
申请日：2012-11-30
申请人：キヤノン株式会社
发明人：辻井修 , 佐藤眞
IPC分类号： G06T1/00 , A61B6/00

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式