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1. 发明专利

JP2020154234A 観察装置の作動方法、観察装置、およびプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2020154234A
公开(公告)日：2020-09-24
申请号：JP2019054976
申请日：2019-03-22
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平
IPC分类号： A61B1/00 , A61B1/045 , G02B23/24
摘要：【課題】被写体の領域が観察済みであるか否かを各領域の基準に基づいて判断することができる観察装置の作動方法、観察装置、およびプログラムを提供する。【解決手段】被写体の3次元モデルの第1の領域に設定された撮像条件と、前記3次元モデルの第2の領域に設定された撮像条件とは、互いに異なる。観察装置の判断部は、撮像素子の位置および前記撮像素子の姿勢に基づいて特定された前記3次元モデル上の位置を含む前記第1の領域または前記第2の領域に設定された前記撮像条件が満たされるか否かを判断する。前記観察装置の表示制御部は、前記判断部によって実行された判断の結果に基づいて観察情報を表示部に表示する。前記観察情報は、前記3次元モデル上の前記位置を含む前記第1の領域または前記第2の領域が観察済みであるか否かを示す。【選択図】図4

2. 发明专利

JPWO2018037778A1 計測処理装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2018037778A1
公开(公告)日：2019-04-25
申请号：JP2017026133
申请日：2017-07-19
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平
IPC分类号： G01B11/00 , G02B23/24 , A61B1/00 , A61B1/045 , G06T7/00 , G01B11/245
摘要：計測処理装置は、撮像部と、画像取得部と、表示部と、計測点表示制御部と、対応点算出部と、対応点画像生成部と、対応点画像表示制御部とを有する。前記計測点表示制御部は、ユーザーによって指定された計測位置を示す計測点を第1の画像上に表示させる。前記対応点画像生成部は、第2の画像において前記対応点算出部によって算出された対応点および当該対応点の周辺の領域を含み、かつ前記第2の画像の一部または全部で構成された対応点画像を生成する。前記対応点画像表示制御部は、表示画面において、前記計測点および前記対応点を通る直線が前記視差方向に直交するように、前記対応点画像を表示させる。

3. 发明专利

JP2018112447A 計測装置および計測装置の作動方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018112447A
公开(公告)日：2018-07-19
申请号：JP2017002461
申请日：2017-01-11
申请人：オリンパス株式会社
发明人：福西宗憲 , 高橋秀彰 , 森潤一 , 宮下尚之 , 小川清富 , 坂本陽平
IPC分类号： A61B1/00 , G01B11/24
CPC分类号： G06T7/593 , G02B23/2415 , G02B23/2484 , G06T7/74 , G06T2207/10021 , G06T2207/10068 , H04N5/2254 , H04N5/2258 , H04N5/23267 , H04N5/23293 , H04N13/211 , H04N13/225 , H04N2005/2255
摘要：【課題】所望の精度で計測を行うことができる計測装置および計測装置の作動方法を提供することを目的とする。【解決手段】計測装置において、第2の対物光学系は、第1の対物光学系に対して視差を有するように配置されている。撮像部は、前記第1の対物光学系を介して第1の被写体像を第1の撮像タイミングで撮像し、かつ前記第2の対物光学系を介して第2の被写体像を前記第1の撮像タイミングと異なる第2の撮像タイミングで撮像する。仮想画像生成部は、前記撮像部が前記第1の被写体像を前記第2の撮像タイミングで撮像したと仮定した場合に得られる、前記第1の被写体像に基づく仮想画像を生成する。計測処理部は、前記第2の被写体像に基づく第2の画像および前記仮想画像に基づいて被写体の形状を計測する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2016198304A 内視鏡システム审中-公开
标题翻译：内窥镜系统
公开(公告)号：JP2016198304A
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：JP2015080902
申请日：2015-04-10
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平 , 小川清富 , 横田政義
IPC分类号： G02B23/24 , A61B1/00
摘要：【課題】3次元の絶対的な寸法を得ることができる内視鏡システムを提供する。【解決手段】被検物を3次元で計測するために構造化したパターンの予め定めた波長帯域の計測光を被検物に照射するパターン投影部701と、計測光を照射して得た映像に応じた被検物の計測画像に基づいて、指定された測定点に応じた被検物に対する3次元の計測を行う3次元計測部81と、を備えた内視鏡システムであって、パターン投影部701は、構造化したパターンが異なる複数の光の基線長が同じで、構造化したパターンが異なる複数の光の位相をシフトして、計測光として被検物に複数回照射し、3次元計測部81は、それぞれの計測光の照射によって得たそれぞれの計測画像に基づいて、3次元の計測を行う。【選択図】図1
摘要翻译：提供能够获得的三维绝对尺寸的内窥镜系统。用于照射预先结构化图案而确定的波长带的试样测量光图案投影单元701与测试物体的3维测量，通过照射测量光获得的图像基于按照具有三维测量单元81，它相对于执行三维测量到对应于指定的测量点处的测试对象的内窥镜系统，所述图案中的测试对象测量图像上投影单元701，所述多个光结构图案的基线长度是不同的是相同的，对所述多个光结构图案的相移是不同的，照射多次向受试者产物，为测量光，3 尺寸测量单元81，基于由每个测量光的照射而获得的每个测量图像，来测量三维的。点域1

5. 发明专利

JP6706026B2 内視鏡システムおよび内視鏡装置の作動方法有权
公开(公告)号：JP6706026B2
公开(公告)日：2020-06-03
申请号：JP2015075375
申请日：2015-04-01
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平 , 小川清富 , 横田政義
IPC分类号： A61B1/045 , A61B1/06 , G02B23/26 , G02B23/24 , H04N7/18 , A61B1/00

6. 发明专利

JP6599014B2 計測処理装置有权
公开(公告)号：JP6599014B2
公开(公告)日：2019-10-30
申请号：JP2018535527
申请日：2017-07-19
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平
IPC分类号： G01B11/00 , G02B23/24 , A61B1/00 , A61B1/045 , G06T7/00 , G01B11/245

7. 发明专利

JP6574101B2 内視鏡システム有权
公开(公告)号：JP6574101B2
公开(公告)日：2019-09-11
申请号：JP2015085203
申请日：2015-04-17
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平 , 横田政義
IPC分类号： A61B1/00 , A61B1/06 , A61B1/07 , G01B11/25 , G02B23/24

8. 发明专利

JP6789899B2 計測装置および計測装置の作動方法有权
公开(公告)号：JP6789899B2
公开(公告)日：2020-11-25
申请号：JP2017167054
申请日：2017-08-31
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平
IPC分类号： A61B1/00 , A61B1/045 , G02B23/24 , G02B23/26 , G01B11/00 , G01C3/06

9. 发明专利

JP6717759B2 計測装置および計測装置の作動方法有权
公开(公告)号：JP6717759B2
公开(公告)日：2020-07-01
申请号：JP2017002461
申请日：2017-01-11
申请人：オリンパス株式会社
发明人：福西宗憲 , 高橋秀彰 , 森潤一 , 宮下尚之 , 小川清富 , 坂本陽平
IPC分类号： A61B1/00 , G02B23/24 , G01B11/24

10. 发明专利

JP2018197674A 計測装置の作動方法、計測装置、計測システム、3次元形状復元装置、およびプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2018197674A
公开(公告)日：2018-12-13
申请号：JP2017101824
申请日：2017-05-23
申请人：オリンパス株式会社
发明人：坂本陽平
IPC分类号： A61B1/00 , G02B23/24 , G06T7/593 , G01B11/24
CPC分类号： G06T7/55 , G06T5/002 , G06T5/20 , G06T2207/10028 , G06T2207/20101 , G06T2207/20104
摘要：【課題】計測処理時間を短縮することができる計測装置の作動方法、計測装置、計測システム、3次元形状復元装置、およびプログラムを提供する。【解決手段】計測装置において、画像取得部は、計測対象の物体を第1撮像状態で撮像することにより生成された第1画像を取得し、かつ第2撮像状態で前記物体を撮像することにより生成された第2画像を取得する。指定点設定部は、前記第1画像上に指定点を設定する。3次元形状復元部は、前記指定点に対応する点が含まれると判定された前記第2画像を含む複数の画像を使用して、前記物体の3次元形状を復元する。基準寸法設定部は、前記第1画像または前記3次元形状上に基準寸法を設定する。計測部は、前記3次元形状、前記指定点、および前記基準寸法に基づいて、前記物体の計測を行う。【選択図】図3

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