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1. 发明专利

JP6511041B2 顕微鏡および顕微鏡観察方法有权
公开(公告)号：JP6511041B2
公开(公告)日：2019-05-08
申请号：JP2016514906
申请日：2015-04-17
申请人：オリンパス株式会社
发明人：井元兼太郎 , 瀧本真一 , 高橋晋太郎 , 土井厚志
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/36

2. 发明专利

JP2018036337A 顕微鏡システム审中-公开
公开(公告)号：JP2018036337A
公开(公告)日：2018-03-08
申请号：JP2016167334
申请日：2016-08-29
申请人：オリンパス株式会社
发明人：中田竜男 , 土井厚志 , 井元兼太郎
IPC分类号： G02B21/18 , G02B21/00 , G02B21/24 , G02B21/36 , G02B7/28 , G02B21/06
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0044 , G02B21/0048 , G02B21/06 , G02B21/24
摘要：【課題】少なくとも対物レンズの光軸外の視野を含む領域を同時にもしくは迅速に切り替えて観察する。【解決手段】光源から発せられた照明光を標本S上に集光する対物レンズ7と、対物レンズ7と標本Sとの間に配置され、対物レンズ7によって集光された照明光の照明領域を標本Sにおける対物レンズ7の対物光軸外の複数の位置に切り替える照明領域切替機構9と、光源と対物レンズ7との間の対物光軸P上に配置され、対物レンズ7の焦点位置を対物光軸Pに沿う方向に変更可能なインナーフォーカスレンズ29とを備える顕微鏡システム1を提供する。【選択図】図1

3. 发明专利

JP6701322B2 点像分布関数の測定装置、測定方法、画像取得装置および画像取得方法有权
公开(公告)号：JP6701322B2
公开(公告)日：2020-05-27
申请号：JP2018505082
申请日：2016-03-14
申请人：オリンパス株式会社
发明人：土井厚志
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00

4. 发明专利

JPWO2018003069A1 観察支援装置および蛍光観察システム审中-公开
公开(公告)号：JPWO2018003069A1
公开(公告)日：2019-04-18
申请号：JP2016069467
申请日：2016-06-30
申请人：オリンパス株式会社
发明人：末包明日香 , 高橋晋太郎 , 井元兼太郎 , 土井厚志 , 瀧本真一
IPC分类号： G01N21/64
摘要：観察しようとする標本および使用しようとする蛍光体について低侵襲の観察が行えるようにユーザを支援することを目的として、本発明に係る観察支援装置(1)は、所定の標本について、所定の蛍光体を用いて、2以上のパラメータを含む所定の観察条件によって行われた蛍光観察における標本の状態変化を表す標本状態情報と、標本の種類、蛍光体の種類および観察条件とを対応づけて記憶する情報蓄積部(3)と、ユーザに、観察しようとする標本の種類および使用する蛍光体の種類を入力させる入力部(4)と、入力された標本の種類と同一種類の標本について、蛍光体の種類と同一種類の蛍光体を用いて行われた蛍光観察における標本状態情報および観察条件を情報蓄積部(3)から読み出して、観察条件に含まれる2以上のパラメータとの関係で標本状態情報を表す支援表示を生成する支援表示生成部(5)と、生成された前記支援表示を表示する表示部(6)とを備える。

5. 发明专利

JP6420910B2 顕微鏡および画像取得方法审中-公开
公开(公告)号：JP6420910B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2017532315
申请日：2015-08-05
申请人：オリンパス株式会社 , 国立大学法人大阪大学
发明人：土井厚志 , 井元兼太郎 , 高橋晋太郎 , 瀧本真一 , 藤田克昌 , 米丸泰央
IPC分类号： G02B21/36 , G01N21/64 , G02B21/06
CPC分类号： G01N21/64 , G02B21/36

6. 发明专利

JPWO2017221356A1 顕微鏡审中-公开
公开(公告)号：JPWO2017221356A1
公开(公告)日：2019-04-18
申请号：JP2016068560
申请日：2016-06-22
申请人：オリンパス株式会社
发明人：井元兼太郎 , 土井厚志
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
摘要：共焦点ピンホールと励起光の集光点とが光学的に非共役な位置関係となる最適点を自動設定して、操作者にかかる負担を軽減することを目的として、本発明に係る顕微鏡(1)は、光源(2)からの励起光を走査するスキャナ(7)と、走査される励起光を試料(A)に集光する一方、各走査位置で試料において発生した蛍光を集光する対物光学系(8)と、集光された蛍光を検出する検出器(12)と、検出器と対物光学系との間に配置され対物光学系により集光された蛍光を部分的に遮断する遮光部材(11)と、遮光部材と試料における励起光の集光点との位置関係を、光学的に共役な位置関係と、光学的に非共役な位置関係とに時間的に切り替える切替部(3)と、集光点と光学的に共役な位置における蛍光分布を取得する蛍光分布取得部(18)と、取得された蛍光分布に基づいて、切替部における非共役な位置関係を設定する設定部(17)とを備える。

7. 发明专利

JPWO2017158695A1 点像分布関数の測定装置、測定方法、画像取得装置および画像取得方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2017158695A1
公开(公告)日：2019-01-17
申请号：JP2016058012
申请日：2016-03-14
申请人：オリンパス株式会社
发明人：土井厚志
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00
摘要：試料に手を加えることなく点像分布関数を取得することを目的として、本発明に係る点像分布関数の測定装置(25)は、光源(2)から発せられた2つの照明光(L1,L2)を走査する走査部(4)と、走査部(4)により走査される2つの照明光(L1,L2)を試料(X)に照射する照明光学系(3)と、照明光学系(3)により照射される2つの照明光(L1,L2)の試料(X)における相対的な照射位置を変更する相対位置調節部(19)と、照明光学系(3)により照射された各照明光(L1,L2)の試料(X)における重なり位置において発生した信号光を検出する検出光学系(5)と、検出光学系(5)により検出された信号光と、信号光の検出時における2つの照明光(L1,L2)の相対的な照射位置とに基づいて点像分布関数を算出する算出部とを備える。

8. 发明专利

JPWO2017022096A1 顕微鏡および画像取得方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2017022096A1
公开(公告)日：2018-06-07
申请号：JP2017532315
申请日：2015-08-05
申请人：オリンパス株式会社 , 国立大学法人大阪大学
发明人：土井厚志 , 井元兼太郎 , 高橋晋太郎 , 瀧本真一 , 藤田克昌 , 米丸泰央
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/64 , G02B21/36
CPC分类号： G01N21/64 , G02B21/36
摘要：簡単な処理で、S/N比を向上してより高い空間分解能を実現することを目的として、本発明の蛍光顕微鏡(1)は、照射によって蛍光を発生し、少なくとも1つが蛍光を飽和させる照射強度を有し、相互に照射強度が異なる2以上の励起光を試料(S)の同一箇所に別々に照射する光源装置(3)および照明光学系(5)と、各励起光を試料(S)に照射することにより発生した蛍光をそれぞれ検出する検出光学系(7)と、検出光学系(7)により取得された複数の蛍光信号を、対応する各励起光の照射強度と照射時間とに基づき、飽和が生じていない非飽和成分が一致するよう正規化して得られる複数の正規化蛍光信号の差分を演算し、得られた差分信号を用いて蛍光画像を生成する処理装置(9)とを備える。

9. 发明专利

JP2015137980A 観察装置审中-公开
标题翻译：观察装置
公开(公告)号：JP2015137980A
公开(公告)日：2015-07-30
申请号：JP2014010615
申请日：2014-01-23
申请人：オリンパス株式会社
发明人：土井厚志
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/17
摘要：【課題】テラヘルツ波を用いて細胞等の試料の画像を高い空間分解能で短時間に取得できるとともに、簡単かつ小型にできる観察装置を提供する。【解決手段】非線形光学結晶からなる試料載置台21を備える試料保持部20を有し、試料保持部20の内部においてテラヘルツ波を試料載置台21の試料載置面21aに照射して全反射させる第1の照射系と、テラヘルツ波よりも波長の短いパルス状のプローブ光を、試料保持部20を経て試料載置面21aのテラヘルツ波の全反射領域に少なくとも一部重ねて照射する第2の照射系と、試料載置面21aで反射されて試料保持部20から射出さえるプローブ光の偏光状態を検出して試料載置台21に載置された試料Saの画像を生成する検出系と、を備える。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够使用太赫兹波在短时间内获取具有高空间分辨率的单元的样本的图像的观察装置，其构造可以被简化和缩小。解决方案：观察装置包括：第一照明系统，其包括具有由非线性光学晶体构成的样品装载台21的样品保持单元20，并且在样品的内侧将样品装载台21的样品装载台面21a照射太赫兹波保持单元20用于全反射; 第二照明系统，通过使具有比太赫兹波的波长短的脉冲状探测光重叠至少一部分，经由样本保持单元20照射样品装载台面21a的太赫兹波的全反射区域 ; 以及检测系统，其检测在样本装载台面21a上反射并从样本保持单元20出射的探测光的偏振状态，并生成装载在样本装载台21上的样本Sa的图像。

10. 发明专利

JP6980370B2 顕微鏡システム有权
公开(公告)号：JP6980370B2
公开(公告)日：2021-12-15
申请号：JP2016167334
申请日：2016-08-29
申请人：オリンパス株式会社
发明人：中田竜男 , 土井厚志 , 井元兼太郎
IPC分类号： G02B21/18 , G02B21/00 , G02B21/24 , G02B21/36 , G02B7/28 , G02B21/06

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