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1. 发明专利

JP2017140792A セキュリティーマーカー、情報記録媒体、情報記録媒体の判定装置及び複製装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017140792A
公开(公告)日：2017-08-17
申请号：JP2016024572
申请日：2016-02-12
申请人：国立大学法人東北大学 , 国立研究開発法人理化学研究所 , イデア・インターナショナル株式会社 , 株式会社日本エイピーアイ
发明人：權垠相 , 小笠原春彦 , 大谷知行 , 鈴木晴 , 笠間泰彦 , 河地和彦 , 溝上員章
IPC分类号： B42D25/30 , G07D7/12 , B41M3/14 , B42D25/378
摘要：【課題】紙幣や機密文書などの情報記録媒体の偽造や複製を防止する技術として、炭酸カルシウムや澱粉等を含む特殊インクによる印刷が試みられてきたが、犯罪者がこれらの材料を入手することは容易であり、偽造を確実に防止することは困難であった。【解決手段】内包フラーレンを含むイオン化合物をセキュリティーマーカーとして情報記録媒体の一部あるいは全体に印刷することにした。純度の高い内包フラーレンは、特殊な製造装置により人工的に合成したものが知られているが、一般に容易に入手可能なものではない。従って、購入者やその利用形態を容易に管理することが可能になり、情報記録媒体の偽造や複製を効率的に防止することが可能になった。【選択図】図1

2. 发明专利

JP5985265B2 破壊検査装置及びその使用方法有权
标题翻译：破坏检查装置及其使用方法
公开(公告)号：JP5985265B2
公开(公告)日：2016-09-06
申请号：JP2012138265
申请日：2012-06-19
申请人：株式会社日本エイピーアイ
发明人：溝上員章
IPC分类号： G01N27/62

3. 发明专利

JP2014002119A Method for creating calibration curve and destructive testing apparatus 有权
标题翻译：用于创建校准曲线和破坏性测试装置的方法
公开(公告)号：JP2014002119A
公开(公告)日：2014-01-09
申请号：JP2012139230
申请日：2012-06-20
申请人： Nippon Api Corp , 株式会社日本エイピーアイ
发明人： MIZOGAMI KAZUAKI
IPC分类号： G01N27/62
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately measure a small amount of a gas component generated by destructing an inspection target.SOLUTION: When measuring an impurity component in argon gas by an atmospheric pressure ionization mass spectrometer 28, all ions are not scanned but only M/z=40(Ar) and M/z=80(Ar) of a parent ion and a necessary impurity component to be measured are scanned, relative ion intensity is found out by dividing ion intensity of the impurity component to be measured by the ion intensity of the parent ion to be a denominator, and an impurity concentration is calculated by multiplying the relative ion intensity of the impurity component to be measured by a concentration conversion factor. Since all scanning is not performed, a measurement interval of once per 60 sec is improved to a measurement interval of once per 1 sec.
摘要翻译：要解决的问题：精确测量由检测目标破坏产生的少量气体成分。解决方案：当通过大气压电离质谱仪28测量氩气中的杂质成分时，所有离子都不被扫描，只有M / 扫描母体离子的z = 40（Ar）和M / z = 80（Ar）和待测量的必需杂质成分，通过用离子对待测量的杂质成分的离子强度除以相对离子强度母离子的强度为分母，杂质浓度通过将待测量的杂质成分的相对离子强度乘以浓度换算系数来计算。由于不执行全部扫描，因此将每60秒一次的测量间隔提高到每1秒一次的测量间隔。

4. 发明专利

JP4394131B2 Construction method of surface cleaning parts 有权
公开(公告)号：JP4394131B2
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：JP2007069672
申请日：2007-03-17
申请人：株式会社日本エイピーアイ
发明人：員章溝上
IPC分类号： H01L21/304 , B08B5/00 , C23G5/00 , H01L21/673 , H01L21/677

5. 发明专利

JP2007184635A Execution method of surface cleaning parts 有权
标题翻译：表面清洁部件的执行方法
公开(公告)号：JP2007184635A
公开(公告)日：2007-07-19
申请号：JP2007069672
申请日：2007-03-17
申请人： Nippon Api Corp , 株式会社日本エイピーアイ
发明人： MIZOGAMI KAZUAKI
IPC分类号： H01L21/304 , B08B5/00 , C23G5/00 , H01L21/673 , H01L21/677
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the execution time in situ of a high purity gas supply system in a semiconductor manufacturing apparatus. SOLUTION: In the execution method of surface cleaning parts, while flowing a high purity inactive gas, a plurality of surface cleaning parts 2c are assembled along the direction of gas flow from the upstream side to the downstream side. The surface cleaning part 2c is filled with a high purity inactive gas and sealed without being exposed to atmosphere after subjected to a predetermined surface cleaning. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：缩短半导体制造装置中的高纯度气体供给系统的原位执行时间。解决方案：在表面清洁部件的执行方法中，在流过高纯度惰性气体的同时，沿着从上游侧到下游侧的气体流动方向组装多个表面清洁部2c。表面清洁部分2c填充有高纯度的惰性气体，并在进行预定的表面清洁之后不暴露于大气中进行密封。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP2005300288A Gas analysis method, gas analysis apparatus, and inspection apparatus using it 有权
标题翻译：气体分析方法，气体分析装置和检查装置
公开(公告)号：JP2005300288A
公开(公告)日：2005-10-27
申请号：JP2004115123
申请日：2004-04-09
申请人： Nippon Api Corp , 株式会社日本エイピーアイ
发明人： MIZOGAMI KAZUAKI
IPC分类号： G01N27/62 , G01N27/68
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To analyze gases continuously for a long time by eliminating the need for an adsorbent even when substances except moisture contents in gases to be measured are to be detected.
SOLUTION: A mass spectroscope 2 comprises an ionizing part 3 for introducing a gas to be measured, and a mass spectroscopic part 4 for analyzing ions ionized by the ionizing part 3. The ionizing part 3 comprises a primary ionizing chamber 3a, and a secondary ionizing chamber 3b. Steam generated by a steam generating device 6 is introduced to the primary ionizing chamber 3a with a carrier gas from a cylinder 12. Steam generated by a steam generating device 5 is introduced to the secondary ionizing chamber 3b with a carrier gas from a cylinder 11 in addition to a sample gas from a sample cylinder 8.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：即使检测到待测气体中的水分含量以外的物质，也不需要吸附剂，即使长时间连续分析气体。解决方案：质谱仪2包括用于引入待测气体的电离部分3和用于分析由离子化部分3离子化的离子的质谱分析部分4.电离部分3包括一次离子化室3a和二次电离室3b。由蒸汽发生装置6产生的蒸汽用来自气缸12的载气引入一次离子化室3a中。由蒸汽发生装置5产生的蒸汽用来自气缸11的载气引入二次电离室3b 除了来自样品筒8的样品气体外。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

7. 发明专利

JP2004340704A Analytical method and analyzer for air pollutant 有权
公开(公告)号：JP2004340704A
公开(公告)日：2004-12-02
申请号：JP2003136812
申请日：2003-05-15
申请人： Jfe Steel Kk , Jfeスチール株式会社 , Nippon Api Corp , 株式会社日本エイピーアイ
发明人： SHIMURA MAKOTO , SATO SUSUMU , MIZOGAMI KAZUAKI
IPC分类号： G01N27/62 , G01N33/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an analytical method and an analyzer for air pollutants, of determining, more rapidly than before, the quantity of infinitesimal air pollutants, benzene in particular, existing in the air, and effective in keeping down the emission of the air pollutants.
SOLUTION: This analytical method is for analyzing air pollutants existing in gas by atmospheric pressure ionization mass spectrometry. In detail, a gaseous specimen is continuously collected at all times, the gaseous specimen is intermittently mixed in a carrier gas in a timed manner to analysis, and analysis interfering substances included in the mixed gas are removed by an adsorbent to analyze the mixed gas by an atmospheric pressure ionization mass spectrometer.
COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

8. 发明专利

JP6653144B2 水素精製方法有权
公开(公告)号：JP6653144B2
公开(公告)日：2020-02-26
申请号：JP2015170443
申请日：2015-08-31
申请人：株式会社日本エイピーアイ
发明人：溝上員章
IPC分类号： B01D53/22 , B01D65/02 , B01D63/06 , B01D63/08 , C01B3/56

9. 发明专利

JP2020018813A ボール支持具审中-公开
公开(公告)号：JP2020018813A
公开(公告)日：2020-02-06
申请号：JP2018147292
申请日：2018-08-04
申请人：株式会社日本エイピーアイ
发明人：水野潤 , 上野剛志 , 溝上員章
IPC分类号： A63B69/38 , A63B69/00
摘要：【課題】ボールをその直径に相当する回転軸線回りに回転可能に支持することができる上に、前記ボールを簡単に交換することができるとともに、回転軸線に対する前記ボールの向きを変えることができるボール支持具を提供する。【解決手段】ボール支持具1は、ボール100の直径方向の両側から加圧してボール100を挟み込んで、ボール100を前記直径に相当する回転軸線O回りに回転可能かつ取り外し可能に支持するように、構成される。【選択図】図1

10. 发明专利

JP6002404B2 質量分析装置及びその使用方法、並びにガス透過特性測定方法有权
标题翻译：质谱仪和使用它们的方法，以及所述气体传输特性测量方法
公开(公告)号：JP6002404B2
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：JP2012038194
申请日：2012-02-24
申请人：株式会社日本エイピーアイ
发明人：溝上員章
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/10

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