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81. 实用新型

JPS5069570U 失效
公开(公告)号：JPS5069570U
公开(公告)日：1975-06-20
申请号：JP12425873
申请日：1973-10-26
IPC分类号： G01R13/00 , G01R33/32 , G01N27/78

82. 发明专利

JPS5068568A 失效
公开(公告)号：JPS5068568A
公开(公告)日：1975-06-07
申请号：JP11795773
申请日：1973-10-22
IPC分类号： G01R13/00 , G01R13/22 , G01R19/00 , G01R19/04

83. 发明专利

JPS4830176B1 失效
公开(公告)号：JPS4830176B1
公开(公告)日：1973-09-18
申请号：JP836370
申请日：1970-01-30
IPC分类号： G01D7/00 , G01R13/00 , G01R13/04 , G01R19/165 , G01S7/64 , G09G3/20 , H03K5/08 , H03K17/30 , H03K17/62 , H03M1/00 , H04N3/14

84. 发明专利

JPS4848143A 失效
公开(公告)号：JPS4848143A
公开(公告)日：1973-07-07
申请号：JP8320171
申请日：1971-10-19
IPC分类号： G01D1/14 , G01D7/00 , G01D9/08 , G01D15/20 , G01R13/00 , G06K9/00 , G06T1/00

85. 发明专利

JP2019158511A PAM4分離回路及びPAM4分離方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019158511A
公开(公告)日：2019-09-19
申请号：JP2018044205
申请日：2018-03-12
申请人：アンリツ株式会社
发明人：村上崇
IPC分类号： G01R13/00
摘要：【課題】PAM4信号をNRZ信号の重ね合わせとして分離する。【解決手段】PAM4分離回路4は、被測定信号としてのPAM4信号のサンプルデータのシンボルパターンの遷移状態を識別するシンボルパターン識別手段4aと、シンボルパターン識別手段4aにて識別されたシンボルパターンの遷移状態に応じた6種類の振幅のレベルからなるNRZ信号の重ね合わせとしてPAM4信号を分離し、分離したNRZ信号を選択的に表示する表示制御手段4bとを備える。【選択図】図1

86. 发明专利

JP2017122720A マルチモード計測ユーザインターフェースデバイス审中-公开
公开(公告)号：JP2017122720A
公开(公告)日：2017-07-13
申请号：JP2016240807
申请日：2016-12-13
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：マシューレイモンドドックリー
IPC分类号： G01B21/00 , B23Q17/00 , G01R13/00
CPC分类号： G01D21/02 , G05B19/401 , B23Q1/0045
摘要：【課題】複数の計測デバイスと通信可能であり、携帯型ディスプレイ上で複数の動作モードを実現可能なDROシステムを提供する。【解決手段】マルチモード計測ユーザインターフェースデバイス200は、信号処理制御部201と、ユーザ入力インターフェース部202と、通信部203とを有する。信号処理制御部は、複数の計測デバイスから得た複数の計測値を表示する計測モードを提供する。信号処理制御部は、a)複数の計測デバイスから得た複数の計測値に基づき数値を計算する計算モード及びb)2個の計測デバイスから得た複数の値のグラフを描画するコンビネーションモードのうち少なくとも何れか一方とをさらに提供する。【選択図】図2

87. 发明专利

JP5589918B2 Waveform analyzer, waveform search method, and program 有权
公开(公告)号：JP5589918B2
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：JP2011060790
申请日：2011-03-18
申请人：富士通株式会社
发明人：豊田宮 , 洋哲岩下 , 博之樋口
IPC分类号： A61B5/0452 , G01R13/00
CPC分类号： A61B5/04525 , A61B5/0464 , G01R29/02 , G06K9/00536

88. 发明专利

JP2013257329A Serial data link measurement and simulation system setting method 审中-公开
标题翻译：串行数据链路测量和模拟系统设置方法
公开(公告)号：JP2013257329A
公开(公告)日：2013-12-26
申请号：JP2013123045
申请日：2013-06-11
申请人： Tektronix Inc , テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc.
发明人： JOHN J PICKERD , TAN KAN , KALEV SEPP , SARAH R BOEN
IPC分类号： G01R13/00 , H04L25/02
CPC分类号： G06F11/30 , H04B3/46
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To gather all the functions of a serial data link system and to provide an easy-to-use menu structure.SOLUTION: On a display device of a test measurement device, a main menu having elements representing a measurement circuit, a simulation circuit and a transmitter Tx is displayed. The main menu includes a processing flow line from the measurement circuit to the transmitter, a processing flow line from the transmitter to the simulation circuit, a signal source to the measurement circuit, and a test point Tp where waveforms are obtained. The simulation circuit includes a receiver Rx. The measurement and simulation circuits are defined by a user, and something is common to both circuits like the transmitter so that all aspects of the serial data link system are tied together.
摘要翻译：要解决的问题：收集串行数据链路系统的所有功能，并提供易于使用的菜单结构。解决方案：在测试测量设备的显示设备上，具有表示测量电路的元件的主菜单，显示模拟电路和发射机Tx。主菜单包括从测量电路到发送器的处理流程线，从发送器到模拟电路的处理流程线，测量电路的信号源以及获得波形的测试点Tp。仿真电路包括接收机Rx。测量和仿真电路由用户定义，并且诸如发射机之类的电路是常见的，使得串行数据链路系统的所有方面都被连接在一起。

89. 发明专利

JP4649397B2 Waveform recording device, and waveform recording method 有权
公开(公告)号：JP4649397B2
公开(公告)日：2011-03-09
申请号：JP2006326107
申请日：2006-12-01
申请人：中国電力株式会社 , 美和電気株式会社
发明人：裕政三戸岡 , 俊治中川 , 郁裕内田 , 佳史多田 , 善則平田 , 正志渋谷 , 泰太郎長江 , 英二鳴海
IPC分类号： H02J13/00 , G01R13/00

90. 发明专利

JP4522119B2 Oscilloscope system test method 有权
公开(公告)号：JP4522119B2
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：JP2004087386
申请日：2004-03-24
申请人：中国電力株式会社
发明人：輝久国川 , 孝之堀野 , 克彦廣本 , 伸荘渡辺 , 忍石橋 , 幸光鳩野
IPC分类号： G01R31/00 , G01R35/00 , G01R13/00 , H02J13/00

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