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51. 发明专利

JP2016033870A シート状電池試験装置及びシート状電池試験方法有权
标题翻译：电池式电池测试装置和电池式电池测试方法
公开(公告)号：JP2016033870A
公开(公告)日：2016-03-10
申请号：JP2014156123
申请日：2014-07-31
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：齋藤友和 , 津國和之 , 檜皮清康
IPC分类号： H01M6/02 , H01M10/48 , H01M6/50 , G01R31/36 , H01M10/04
摘要：【課題】シート状電池を交互に折り畳み、その折り畳まれたシート状電池の間に電極端子を挟み込むことにより、同じ形状の構成のまま、電池の検査・試験の次工程へハンドリングすることができ、電池の試験装置の装置規模を小さくして、試験スペースの狭小化を図ることができる。【解決手段】本発明のシート状電池試験装置及びシート状電池試験方法は、電極層を両面に備えたシート状電池を、折畳方向を交互に変えて折り畳む折畳部と、シート状電池の折り畳まれた部分に電極端子を挟み込まれた状態で、電極端子に電力を供給して所定の試験を行う試験部とを備える。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：通过以下方式减小测试空间狭窄的电池测试装置的规模：将片状电池交替折叠并进行下一个电池检查和测试的处理，同时通过插入相同的形状保持相同的形状折叠片状电池之间的电极端子。解决方案：片状电池测试装置和片状电池测试方法包括折叠部分，用于折叠在两面上具有电极层的片状电池，同时交替地改变其折叠方向，以及在电极端子插入片状电池的折叠部分的状态下，向电极端子提供电力以进行预定测试的测试部分。图1

52. 发明专利

JP5879153B2 プローブの製造方法有权
标题翻译：制造探针的方法
公开(公告)号：JP5879153B2
公开(公告)日：2016-03-08
申请号：JP2012039704
申请日：2012-02-27
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：上林雅朝
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/073

53. 发明专利

JP5781864B2 発光素子の検査装置及び検査方法有权
标题翻译：检查装置和发光元件的方法
公开(公告)号：JP5781864B2
公开(公告)日：2015-09-24
申请号：JP2011183622
申请日：2011-08-25
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：神保秀 , 山口憲栄 , 小屋原桂太
IPC分类号： G01M11/00 , H01L33/00 , G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2601 , G02F1/13471 , G01J2001/4247 , G01R31/2632 , G01R31/2893

54. 发明专利

JP2015159222A 二次電池搭載回路チップ及びその製造方法有权
标题翻译：二次电池安装电路芯片及其制造方法
公开(公告)号：JP2015159222A
公开(公告)日：2015-09-03
申请号：JP2014033854
申请日：2014-02-25
申请人：株式会社日本マイクロニクス , グエラテクノロジー株式会社
发明人：津国和之 , 井上龍雄 , 檜皮清康 , 殿川孝司 , 中澤明
IPC分类号： H01L27/04 , H01L21/822
CPC分类号： H01M2/345 , H01M10/0436 , H01M10/0463 , H01M10/0525 , H01M10/425 , H02S50/00 , H01M10/049 , H01M10/052 , H01M10/0585 , H01M10/446 , H01M2200/20 , H01M2220/30 , H01M4/0426 , H01M4/139 , H01M4/483 , H01M4/661 , H01M6/40
摘要：【課題】形成された回路の対抗面に二次電池を直接作製して、二次電池と回路を一体構成とした二次電池搭載回路チップとその製造方法を提供する。【解決手段】回路に対応した領域に二次電池を直接作製して、二次電池と回路を一体構成とした二次電池搭載回路チップ88であり、ウェハ上に作製された回路領域48に対向した面に二次電池68を形成する。多層配線された回路の最上部を二次電池構造として、パッシベーションされた回路面の上部への形成や、回路の多層配線部の最上部の配線層を面構造として共通に使用することで二次電池を直接積層した形成や、回路が形成された基板の裏面への二次電池の形成により、二次電池と回路を一体構成とした。【選択図】図7
摘要翻译：要解决的问题：提供一种二次电池安装电路芯片，其二次电池通过在形成为面对电路的平面上直接形成二次电池而与电路集成; 以及制造这种二次电池安装电路芯片的方法。解决方案：二次电池安装电路芯片88包括：电路; 和二次电池各自直接形成在面向电路并与电路集成的区域中。每个二次电池68形成在与形成在晶片上的电路区域48相对的面上。二次电池结构布置在布线在多层中的电路的最上部; 二次电池形成在钝化电路表面的上部。使用形成在布线在多层中的电路的最上部的布线层作为公共表面结构，通过直接层压形成二次电池。二次电池形成在基板的背面，其中形成有电路。因此，二次电池与电路一体形成。

55. 发明专利

JPWO2013128617A1 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置有权
公开(公告)号：JPWO2013128617A1
公开(公告)日：2015-07-30
申请号：JP2014501916
申请日：2012-03-01
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：邦広水野 , 邦広水野 , 啓一蔵所 , 啓一蔵所
IPC分类号： G09G3/36 , G01M11/00 , G02F1/13 , G09G3/20
CPC分类号： G09G3/20 , G09G3/36 , G09G2320/0233 , G09G2320/0285 , G09G2320/0295 , G09G2320/0693 , G09G2360/147 , H04N5/66 , H04N17/04
摘要：表示デバイスの表示むらをより高い精度で検出する。CCDカメラ(5)から取得した液晶パネルディスプレイ(3)の表示画像の出力画像データをアドレッシングし、液晶パネルディスプレイ(3)の各画素の画素値を取得して、各微分画素値を取得する。そして、各画素の微分画素値をむら判定閾値と比較して、微分画素値がむら判定閾値を超えた隣接画素群を、表示むらの発生エリアとして検出する。続いて、各表示むらの発生エリア毎に表示むらの強度を計算し、その値をむら強度閾値と比較して、むら強度閾値を超える場合に、その発生エリアを表示むらとして最終的に検出する。これにより、表示むらの候補となるエリアを一次的に検出し、検出したエリアを表示むらの強度値の高さで絞り込んで、視覚上でも明らかに表示むらとして認識される表示むらを最終的に検出することができる。これにより、出力画像データと入力画像データとの差分によって各画素の微分画素値を取得するよりも、液晶パネルディスプレイ(3)の表示むらをより高い精度で検出することができる。

56. 发明专利

JPWO2013128565A1 照明補正装置审中-公开
标题翻译：照明校正装置
公开(公告)号：JPWO2013128565A1
公开(公告)日：2015-07-30
申请号：JP2014501869
申请日：2012-02-28
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：上人尾石 , 上人尾石 , 秀憲安藤 , 秀憲安藤
IPC分类号： H01L51/50 , G09F9/30 , H01L27/32 , H05B37/02
摘要：面発光する複数のブロックで配列された有機発光層32を有する有機ELパネル20と、カメラ3により有機ELパネル20が撮像された撮像データに基づいて生成された補正データを記憶するメモリ12と、補正データに基づいて、複数のブロック間の輝度が均一になるように、ブロックごとに有機パネル20を発光させる制御設定値を決定する調光回路13とを備える。
摘要翻译：有机EL面板20具有被布置在多个表面发射，存储器12的块的，用于存储基于由照相机3拍摄到的成像数据产生的有机EL面板20中的校正数据的有机发光层32，基于所述校正数据，使得多个块之间的亮度是均匀的，并且用于确定针对每个块的有机面板20的光发射控制设定值的调光电路13。

57. 发明专利

JP2015094734A 検査装置有权
标题翻译：检查装置
公开(公告)号：JP2015094734A
公开(公告)日：2015-05-18
申请号：JP2013235698
申请日：2013-11-14
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：工藤隆善
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G02F1/1309 , G01N2021/9513 , G01N21/8803
摘要：【課題】ノイズの影響を低減することができる検査装置を提供すること。【解決手段】本発明にかかる検査装置は、被検査体が載置されるワークテーブル26と、ワークテーブル26の上方に配置された固定体28と、検査体の電極に接触可能のプローブ針38aを保持するプローブ組立体と、固定体28に支持されるサポートベース部材40と、プローブ針38aを電極に接触させるべくワークテーブル26の上方でプローブ組立体38をサポートベース部材40に支持する懸架機構46と、プローブ針38aに供給される検査信号を生成するICチップ54aが組み込まれ、懸架機構46の下方で懸架機構46に支持された回路基板54と、を備えた検査装置であって、プローブ組立体38と、サポートベース部材と40が絶縁されている。【選択図】図5
摘要翻译：要解决的问题：提供能够减少噪声影响的检查装置。解决方案：检查装置包括：工件台26，待检查对象被放置在其上; 设置在工作台26上方的固定体28; 保持能够与检查对象的电极接触的探针38a的探针组件38; 支撑在固定体28上的支撑基座构件40; 悬架机构46，其通过支撑基部构件40将探针组件38支撑在工作台26上方，以使探针38a与电极接触; 以及嵌入有IC芯片54a的电路板54，用于产生要供给到探针38a的检查信号，并通过悬架机构支撑在悬架机构46的下方。探针组件38和支撑基座构件40被绝缘。

58. 发明专利

JP2014202779A 液晶パネル検査装置有权
标题翻译：液晶面板检查装置
公开(公告)号：JP2014202779A
公开(公告)日：2014-10-27
申请号：JP2013075884
申请日：2013-04-01
申请人：株式会社日本マイクロニクス , Micronics Japan Co Ltd
发明人： MIZUNO KUNIHIRO , KURASHO KEIICHI , KIKUTA MAKOTO
IPC分类号： G02F1/13 , G01B11/30 , G01N21/958
摘要：【課題】コンパクトで、迅速かつ正確に欠陥アドレスを特定し得る液晶パネル検査装置を提供する。【解決手段】検査装置は、ワークテーブル上の液晶パネルの上方及び下方に配置される第1、第2の偏光板と、ワークテーブル上の液晶パネルを第2の偏光板を通して液晶パネルの下面から直角に照射するバックライトユニットと、ワークテーブル上の液晶パネルを前記下面の下方から斜めに照射するための傾斜照明光源と、ワークテーブル上の液晶パネルの点灯検査のためにその画素に電圧を印加するプローブユニットと、バックライトユニットからの照射光及び傾斜照明光源から斜め照射光のいずれか一方を選択的に受けた状態で第1の偏光板を通して液晶パネルの上面を撮影するための撮像装置と、斜め照射光が適正な入射角で液晶パネルに入射するように斜め照射光を液晶パネルの下面に案内する反射手段とを含む。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够快速，准确地识别缺陷地址的紧凑型液晶面板检查装置。解决方案：检查装置包括：第一和第二偏振器，布置在工作台上的液晶面板的上方和下方; 背光单元，其通过所述第二偏振器从所述液晶面板的下表面正交地照射所述工作台上的液晶面板; 倾斜照明源，其从下表面的下部倾斜地照射在工作台上的液晶面板; 探针单元，其对工作台上的液晶面板的像素施加电压以检查其照明; 一种成像装置，其以选择性地接收来自背光单元的照明光和来自倾斜照明光源的倾斜照明光的任何一种的状态，通过第一偏振器对液晶面板的上表面进行成像; 以及反射装置，其将倾斜照明光引导到液晶面板的下表面，使得倾斜照明光以适当的入射角进入液晶面板。

59. 发明专利

JP5588892B2 Probe assembly 有权
公开(公告)号：JP5588892B2
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：JP2011034665
申请日：2011-02-21
申请人：株式会社日本マイクロニクス
发明人：智昭久我 , 英輝廣田 , 樹理小笠原
IPC分类号： G01R1/073 , G02F1/13

60. 发明专利

JP2014119340A Probe card, inspection apparatus and inspection method 有权
标题翻译：检测卡，检查装置和检查方法
公开(公告)号：JP2014119340A
公开(公告)日：2014-06-30
申请号：JP2012274412
申请日：2012-12-17
申请人： Micronics Japan Co Ltd , 株式会社日本マイクロニクス
发明人： NARITA SATOSHI , NARITA TOSHIO
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/26 , H01L21/66
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe card, an inspection apparatus and an inspection method that are capable of efficiently performing inspection.SOLUTION: A probe card repeatedly performing touchdown to inspect a wafer 12 having plural devices 125, includes: a probe substrate 40; a first probe group 141 having plural contactors 14a aligned on the probe substrate 40; and second probe groups 142a and 142b having plural contactors 14b of which tip positions are closer to the probe substrate 40 compared with the contactors 14a, the second probe groups arranged separately so as to sandwich the first probe group 141 therebetween in a plan view of the probe substrate 40.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够有效地进行检查的探针卡，检查装置和检查方法。解决方案：重复执行触地以检查具有多个装置125的晶片12的探针卡包括：探针基板40 ; 具有在探针基板40上对准的多个接触器14a的第一探针组141; 第二探针组142a和142b具有与接触器14a相比尖端位置更靠近探针基板40的多个接触器14b，第二探针组分别布置成将第一探针组141夹在其间的平面图中探针衬底40。

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