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    • 29. 发明专利
    • 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
    • JP6373472B1
    • 2018-08-15
    • JP2017246025
    • 2017-12-22
    • 非破壊検査株式会社
    • 合田 吉克豊田 修治
    • G01N27/90
    • 【課題】 効率よく且つ高精度に検査することの可能な欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供すること。 【解決手段】検査対象物101は、その軸方向Aに導電性を有する材料よりなる。素線2aは、コイル2の中心軸が検査対象物100の周方向Cに沿うように巻回されてある。コイル2は、検査対象物101の外周面101xの一部を覆う扇状を呈する。扇状コイル2を外周面101xに対し所定の間隙をおいて配置した際に、扇状コイル2の一端から検査対象物100を通過して扇状コイル2の他端へ向かう磁束が外周面近傍で密となるように扇状コイル2の中心角を調整する。扇状コイル2を外周面101xに対し所定の間隙をおいて配置し、外周面101xに検査対象物101の軸方向Aに沿う渦電流を生じさせる。渦電流に起因する値を扇状コイル2で測定し、測定結果に基づいて外周面101の欠陥の有無を検査する。 【選択図】 図1