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21. 发明专利

JP5298209B2 Capacitive sensor sheet and a method of manufacturing the same 有权
公开(公告)号：JP5298209B2
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：JP2012022381
申请日：2012-02-03
申请人：信越ポリマー株式会社
发明人：孝治西沢 , 佑輔小林 , 博登小松
IPC分类号： G06F3/041 , G06F3/044
CPC分类号： G01R1/02 , G01R3/00 , G06F3/044 , G06F2203/04103
摘要： A production method of a capacitive sensor sheet, comprising: a film forming step forming of a optically-transparent electroconductive film 11 on the surface of a substrate 2 having optical transparency; a supplemental electrode forming step of setting an electrode region 3a which functions as the transparent electrode 3 at least in part of the film 11, and laminating a supplemental electrode 4a which has a lower electrical resistance than the electrical resistance of the film 11 to cover at least part of a periphery of the electrode region 3a; a wire forming step of laminating a wire 4b in which one end thereof is connected to the supplemental electrode 4a on the film 11; a resist laminating step of laminating a resist 12 to cover all of the electrode region 3a and at least part of the supplemental electrode 4a; and a conductive film removing step of removing a part of the film 11 formed on the substrate 2 having optical transparency placed at a position not overlapping with the resist 12, the supplemental electrode 4a, or the wire 4b.

22. 发明专利

JP2013145134A Handler device and testing device 审中-公开
标题翻译：处理器和测试设备
公开(公告)号：JP2013145134A
公开(公告)日：2013-07-25
申请号：JP2012004931
申请日：2012-01-13
申请人： Advantest Corp , 株式会社アドバンテスト
发明人： HORINO HIROMITSU , ONOZAWA MASATAKA
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R1/02 , G01R31/01 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/2893
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a handler device capable of shortening the testing time.SOLUTION: A handler device conveys a plurality of devices to be tested to sockets for testing. The handler device comprises: a testing section where the sockets are provided; a heat applying section that receives a tray mounted with the plurality of devices to be tested on a surface, controls the temperature of the plurality of devices to be tested at a predetermined testing temperature, and conveys the tray to the testing section; a device imaging section that includes a plurality of imaging elements as many as the devices to be tested, arranged along a first direction in the heat applying section, moves the plurality of imaging elements in a second direction which is not parallel to the first direction relatively with respect to the surface of the tray, and captures an image of each device to be tested; and a position adjustment section that adjusts the position of each device to be tested with respect to the corresponding socket on the basis of the image of the device to be tested captured by the device capturing section.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够缩短测试时间的处理器设备。解决方案：处理器设备将要测试的多个设备传送到插座进行测试。处理装置包括：提供插座的测试部分; 接收在表面上安装有要测试的多个装置的托盘的加热部，在预定的测试温度下控制待测试的多个装置的温度，并将该托盘传送到测试部分; 一种装置成像部件，其包括多个与所述待测试装置一样多的成像元件，沿着所述加热部分中的第一方向布置，使所述多个成像元件沿相对于所述第一方向不平行的第二方向移动相对于托盘的表面，并且捕获要测试的每个设备的图像; 以及位置调整部，其基于由所述装置拍摄部拍摄的被测试装置的图像，调整相对于所述插座的被测试装置的位置。

23. 发明专利

JP2013524249A Apparatus and method for testing a plurality of devices under test 审中-公开
公开(公告)号：JP2013524249A
公开(公告)日：2013-06-17
申请号：JP2013504132
申请日：2010-04-14
申请人：アドバンテスト (シンガポール) プライベートリミテッド
发明人：ベーレンス，クラウス−ペーター , モエシンガー，マルク
IPC分类号： G01R31/28 , G06F11/22
CPC分类号： G01R1/02 , G01R31/3191 , G01R31/31924
摘要： Embodiments of the invention relate to an apparatus and a method for testing a plurality of devices under test. The apparatus for testing a plurality of devices under test comprises a common device output line and a driver unit configured to provide a stimulus to the DUTs. The driver unit is configured such that the stimulus reaches different DUTs at different times, thereby creating stimuli time shifts at the DUTs. The apparatus further comprises a receiver unit electrically coupled to the common device output line and a plurality of DUTs connections, electrically coupled to the common device output line, so that DUT terminals of the plurality of DUTs are electrically coupleable via the common device output line to the receiver unit. Output signal propagation delays for DUT output signals, propagating from the DUT connections to the receiver unit, are adapted to the stimuli time shift, such that a test of DUTs which have identical stimulus response delays, results in a temporally aligned superposition of the DUT output signals at the receiver unit.

24. 发明专利

JPWO2005059926A1 同軸ケーブル、より対線ケーブル、同軸ケーブルユニット、試験装置、及びＣＰＵシステム有权
公开(公告)号：JPWO2005059926A1
公开(公告)日：2007-12-13
申请号：JP2005516323
申请日：2004-12-15
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：田中　宏典 , 宏典田中 , 邦博松浦 , 邦博松浦 , 悟司小寺 , 悟司小寺 , 浩樹安藤 , 浩樹安藤 , 康弘浦部 , 康弘浦部
IPC分类号： H01B11/18 , G01R1/02 , G01R31/26 , G01R31/28 , H01B11/02 , H01B11/06 , H01B11/20 , H01R9/05
CPC分类号： G01R31/2851 , G01R1/02 , G01R31/2822
摘要：本発明の同軸ケーブルユニットは、電源により発生された電流をデバイスに供給する同軸ケーブルユニットであって、第1の内部導体、及び第1の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第1の外部導体を有する第1の同軸ケーブルと、第2の内部導体、及び第2の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第2の外部導体を有する第2の同軸ケーブルとを備え、第1の内部導体及び第2の外部導体は、電源からデバイスの方向に電流を流し、第1の外部導体及び第2の内部導体は、デバイスから電源の方向に電流を流す。

25. 发明专利

JP2005514605A Roller contact between the conductive brush 有权
公开(公告)号：JP2005514605A
公开(公告)日：2005-05-19
申请号：JP2003557007
申请日：2002-11-01
申请人：エレクトロサイエンティフィックインダストリーズインコーポレーテッド
发明人：ドリュー、アールヴァーケイド、 , ダグラス、ジェイガルシア、
IPC分类号： G01R1/06 , G01R1/02
CPC分类号： G01R1/02
摘要：【課題】テスト中のデバイスの端部表面上に小さい圧力を及ぼす接触機を提供すること。
【解決手段】転がり接触機(1)であって、テスト中のデバイス(15)と転がり接触機のための支持構造との間に電気的な信号を提供する。転がり接触機は、導電性の円形ローラ(3)であってテスト中のデバイスを横切る転がりのための２つの間隔をおかれた側壁間に部転がり面(5)及び内部中心穴(9)とを有するローラと、ローラの側壁の一つに近接して配置されこれと接する少なくとも１つの導電性の円形スプールと、ローラ及びスプールに設けられた穴を軸線方向へ貫通するようにされた支持車軸(7)と、車軸を回転配置するように支持された導電性の車軸ブラケット(25)と、回転の間にスプールと接触するように車軸ブラケットから伸びる導電性のブラシ(59)と、車軸ブラケット及び支持構造間を伸び、テスト中のデバイスとローラの表面とスプールととの間に電気路を完成する導電性の細長いスプリングアームと(27)を備える。

26. 实用新型

JPS5928367Y2 JPS5928367Y2 - 失效
公开(公告)号：JPS5928367Y2
公开(公告)日：1984-08-16
申请号：JP15989279
申请日：1979-11-20
IPC分类号： G01R1/02 , G01R1/22
CPC分类号： G01R1/02 , G01R1/22

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