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11. 发明专利

JP6075797B2 マイクロ放電に基づく計測システム有权
标题翻译：基于微放电测量系统
公开(公告)号：JP6075797B2
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：JP2014509411
申请日：2012-05-02
申请人：スモルテクインターナショナル,リミテッドライアビリティーカンパニー , SmalTec International,LLC
发明人：ムラース,ジェリー , モンゴメリー,ジョナサン
IPC分类号： B23H1/02 , B23Q17/20 , G01B5/012 , G01B7/012
CPC分类号： G01B7/008 , B23H11/00 , G01B7/023 , G01B7/28 , B23H1/024 , B23H7/18 , G01B7/34

12. 发明专利

JP6049786B2 測定プローブ有权
公开(公告)号：JP6049786B2
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：JP2015043035
申请日：2015-03-05
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：島岡敦 , 宮崎智之 , 日高和彦
IPC分类号： G01B21/00 , G01B5/012
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B11/14 , G01B5/0016 , G01B5/012

13. 发明专利

JP2016161516A 測定プローブ有权
标题翻译：测量探头
公开(公告)号：JP2016161516A
公开(公告)日：2016-09-05
申请号：JP2015043036
申请日：2015-03-05
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：島岡敦 , 宮崎智之 , 日高和彦
IPC分类号： G01B5/012
CPC分类号： G01B11/007 , G01B5/012
摘要：【課題】軸方向長さの短縮と軽量化を可能とし、且つ形状誤差を低減し測定精度向上を可能とする。【解決手段】スタイラス306と、軸運動機構310と、旋回運動機構334と、を備える測定プローブ300であって、軸運動機構310は移動部材312を変位可能とする一対の第1ダイヤフラム構造体314、315を備え、且つ、旋回運動機構334は旋回部材336を変位可能とする第2ダイヤフラム構造体340を備え、軸方向Oにおいて、一対の第1ダイヤフラム構造体314、315の間に、第2ダイヤフラム構造体340が配置され、第1ダイヤフラム構造体314、315それぞれは、第2ダイヤフラム構造体340に対して、互いに対称な距離に配置されている。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：允许更短和更轻的轴向长度，并且减小形状误差以允许提高测量精度。解决方案：测量探头300包括触针306，轴向运动机构310和转动运动机构334 轴向运动机构310包括允许移动构件312移动的一对第一隔膜结构314,315，并且转动运动机构334包括允许转动构件336的位移的第二隔膜结构340.在轴向方向 O，第二光阑结构340设置在一对第一光阑结构314,315之间。第一光阑结构314,315中的每一个相对于第二光阑结构340以相互对称的距离设置。图2

14. 发明专利

JP2016156633A ステム、及びプローブ审中-公开
标题翻译： STEM和PROBE
公开(公告)号：JP2016156633A
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：JP2015032871
申请日：2015-02-23
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：土田浩
IPC分类号： G01B5/012
摘要：【課題】安価で、かつ作成が容易な非磁性体のステム、及びプローブを提供する。【解決手段】ステム3は、線状の炭素繊維により構成された芯線311と、芯線311の外周を覆う非磁性体の無機材料からなるコーティング層32と、を備えた。これにより、磁力を帯びた被測定物であっても、ステム3の変形を防止できる。また、芯線311の径寸法が小さい場合でも、コーティング層32の厚み寸法を制御することで、ステム3の径寸法を所望の径寸法に設定することができ、安価で、かつ簡素な製造方法でステム3を製造できる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供便宜且由易制备的非磁性材料制成的杆和探针。解决方案：杆3包括：由直线碳纤维构成的芯线311; 以及由覆盖芯线311的外表面的非磁性无机材料制成的涂层32.因此，即使施加磁力的测量对象物体也能够防止杆3变形。此外，通过控制涂层32的厚度，如果芯线311具有小直径尺寸，则可以将杆3的直径设定为期望的尺寸，并且可以以低成本和简单的方法制造杆3 图2

15. 发明专利

JP5936357B2 姿勢検出器、接触プローブ、および、マルチセンシングプローブ有权
标题翻译：姿势检测器，接触探针和多传感探头
公开(公告)号：JP5936357B2
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2012001412
申请日：2012-01-06
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：日高和彦 , 石川修弘
IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/26 , G01B5/012 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02041 , G01B11/007 , G01B11/272 , G01B5/012

16. 发明专利

JP5936199B2 位置検出器有权
标题翻译：位置检测器
公开(公告)号：JP5936199B2
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2013508876
申请日：2012-04-03
申请人：日新産業株式会社
发明人：福久宣夫
IPC分类号： G01B5/012
CPC分类号： G01B5/012

17. 发明专利

JP2016517957A 測定対象物の形状輪郭を割り出す方法有权
标题翻译：如何确定所述测量物体的形状轮廓
公开(公告)号：JP2016517957A
公开(公告)日：2016-06-20
申请号：JP2016505710
申请日：2013-04-02
申请人：カールザイスインダストリエルメステクニークゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング , カールザイスインダストリエルメステクニークゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
发明人：ラルフベルンハルト， , ラルフベルンハルト， , ライナーザーゲミュラー， , ライナーザーゲミュラー， , ドミニクザイツ， , ドミニクザイツ，
IPC分类号： G01B21/00 , G01B5/012 , G01B21/20
CPC分类号： G01B21/04 , G01B5/008
摘要：座標測定機は、回転台(32)の形をとる加工品保持器と、測定素子(22)を備える測定ヘッド(20)と、測定ヘッド(20)が配置されたフレームとを有する。フレームは加工品保持器に対し第1の移動軸(Y)沿いに動かすことができる第1のフレーム部品(14)を有する。第2のフレーム部品(16)は加工品保持器に対し第2の移動軸(X)沿いに動かすことができる。第3のフレーム部品(18)は加工品保持器に対し第3の移動軸(Z)沿いに動かすことができる。測定対象物(30)の形状輪郭を割り出すため、測定対象物(30)は回転台(32)上に配置される。測定ヘッド(20)は第1、第2、および第3の移動軸(X、Y、Z)沿いの所定位置に配置される。その後、測定ヘッド(20)が測定素子(22)を用いて測定対象物(30)上の測定点の空間位置を表す現在測定値を記録している間に、回転台(32)はさらなる軸(36)周りに回転される。測定値に基づいて形状輪郭(43)が割り出される。測定素子(22)は、少なくとも1つの流体軸受(48)を介して、具体的にはいずれか1つ以上のフレーム部品(14、16、18)の少なくとも1つの空気軸受(48a、48b)を介して、据え付けられ、少なくとも1つの流体軸受(48a、48b)は現在測定値の記録中に停止される。【選択図】図1
摘要翻译：坐标测量机具有在测量头与测量元件（22）（20）的形式的旋转台（32）工件支架，以及帧测量头（20）被布置。框架具有可沿第一部分相对于工件保持器（Y）（14）的移动轴线移动的第一框架部分。第二框架部分（16）可沿第二运动轴线相对于所述工件保持器（X）移动。第三框架部分（18）可以沿着运动的第三轴线相对于所述工件保持器（Z）移动。用于确定所述测量对象（30）的形状轮廓，所述测量对象（30）设置在转盘（32）。测量头（20）沿布置在移动的第一，第二和第三轴（X，Y，Z）的位置。此后，在测量头（20）被记录使用所述测量装置（22）（30）表示测量物体上的测量点的空间位置的当前测量值，所述转台（32）的另一轴向（36）围绕。形状的轮廓（43）被编入索引的测量值的基础上。测量元件（22），经由一个中的至少一个流体轴承（48），至少一个空气轴承（48A，48B）或多个帧部分或者具体为（14，16，18）的通过，它安装，至少一个流体轴承（48A，48B）的电流测量的在记录期间停止。点域1

18. 发明专利

JP2015175704A 測定機の校正方法及びその装置有权
标题翻译：测量仪器的校准方法及其装置
公开(公告)号：JP2015175704A
公开(公告)日：2015-10-05
申请号：JP2014051832
申请日：2014-03-14
申请人：株式会社東京精密
发明人：沼津匡俊
IPC分类号： G01B21/00 , G01B5/012 , G01B5/20 , G01B5/28 , G01B5/00
摘要：【課題】アームの長さ、及び触針高さの最適な校正値を同時に求めることができる測定機の校正方法及びその装置を提供する。【解決手段】ボールゲージに対し、測定範囲を高さ方向に複数段階(上側、中央、下側)に分割して、ボールゲージを触針14でトレースし、高さ方向に測定範囲の異なるボールゲージの3つ測定データ1、2、3を求める。ボールゲージの測定データ1、2、3、及び段差ゲージの測定データによって、触針14の先端半径値を仮校正するとともに、予め定義した評価関数を計算し、算出された値が収束するまで最適化計算を行うことにより、アームの長さ、触針高さを同時に校正する。【選択図】図5
摘要翻译：要解决的问题：提供测量仪器及其装置的校准方法，其允许同时获取臂长度和触针高度的最佳校准值。解决方案：球规的测量范围被分为多个在高度方向的阶段（上侧，中心和下侧），并且用触笔14跟踪球规，以获得测量范围不同的球规的三个测量数据1,2和2 在高度方向。触针14的前端半径值通过球规的测量数据1,2和3以及步距的测量数据临时校准，并且计算出预先定义的评估函数，并进行优化计算直到计算的值收敛，由此同时校准臂长度和触针高度。

19. 发明专利

JP5779625B2 工作物表面を走査する方法および接触感知プローブ有权
标题翻译：如何扫描工件表面和接触传感探头
公开(公告)号：JP5779625B2
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：JP2013187395
申请日：2013-09-10
申请人：レニショウパブリックリミテッドカンパニー , RENISHAW PUBLIC LIMITED COMPANY
发明人：ニコラスジョンウェストン , ジェフリーマクファーランド
IPC分类号： G01B5/012
CPC分类号： G01B7/012

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