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    • 12. 发明专利
    • Cu−Ga合金スパッタリングターゲット
    • Cu-Ga合金溅射靶
    • JP2016008339A
    • 2016-01-18
    • JP2014130792
    • 2014-06-25
    • JX日鉱日石金属株式会社
    • 吉澤 彰衛藤 雅俊
    • C22C9/00B22D11/00B22D11/20C23C14/34
    • 【課題】Ga比率の高いCu−Ga合金で高強度のスパッタリングターゲットを提供する。 【解決手段】平均して22at%超〜30at%未満のGaを含有し、残部がCu及び不可避的不純物からなるCu−Ga合金でできたCu−Ga合金スパッタリングターゲットであって、CuにGaが固溶したγ相及びζ相の混相からなる柱状組織を有し、反射電子像のCOMPO像で観察される混相のうち、組織に介在する相(介在相)における短軸長さに対する長軸長さのアスペクト比の中央値が5〜60であるスパッタリングターゲット。 【選択図】図3
    • 要解决的问题:提供具有高Ga比和高强度的Cu-Ga合金溅射靶。解决方案:由包含Ga大于22at%且小于30的Ga的Cu-Ga合金形成的Cu-Ga合金溅射靶 平均为at%,其余由Cu和不可避免的杂质组成的具有由γ溶解成Cu的γ相和ζ相的混合相构成的柱状结构。 在通过后向散射电子图像的COMPO图像观察到的混合相中,介于结构之间的相(包含相)中的长轴长度与短轴长度的长宽比的中值为5-60。
    • 15. 发明专利
    • キャリア付銅箔、キャリア付銅箔の製造方法及びプリント配線板
    • 与载体,制造方法和印刷线路板的带载体的铜箔的铜箔
    • JPWO2013161334A1
    • 2015-12-24
    • JP2014512379
    • 2013-01-23
    • Jx日鉱日石金属株式会社Jx日鉱日石金属株式会社
    • 美里 中願寺美里 中願寺友太 永浦友太 永浦
    • C25D1/04C25D7/06
    • C25D5/10C23C26/00C23C28/30C25D5/48C25D7/0614
    • 絶縁基板への積層工程前にはキャリアと極薄銅層との密着力が高い一方で、絶縁基板への積層工程後にはキャリアと極薄銅層との密着性が低下し、キャリア/極薄銅層界面で容易に剥離でき、且つ、極薄銅層側表面におけるピンホールの発生が良好に抑制されたキャリア付銅箔を提供する。キャリア付銅箔は、銅箔キャリアと、銅箔キャリア上に積層された中間層と、中間層上に積層された極薄銅層とを備える。中間層は、銅箔キャリア上に、ニッケル層及びクロメート層がこの順で積層されて構成されており、中間層のニッケルの付着量が100〜40000μg/dm2、クロムの付着量が5〜100μg/dm2であり、銅箔キャリア/中間層/極薄銅層の断面から、これらを全て含む範囲で50〜1000nm長STEM線分析を行ったとき、Ni濃度の最大値が40〜95質量%であり、且つ、NiとCuとが共存する箇所のCu濃度の最小値が1〜50質量%である。
    • 之前在绝缘基板层叠而载体和极薄铜层之间的粘合力高,在绝缘性基板贴合的工序之后的步骤降低了载体和超薄铜箔层,载体/超薄之间的粘附性 它可以与铜层界面容易剥离,并提供一种具有载体的铜箔,其中在生成的极薄铜层表面的针孔的被有利地抑制。 带有载体的铜箔上设置有铜箔的载体,层叠在铜箔载体上并层压到中间层极薄铜层的中间层。 中间层,铜箔的载体,镍层和铬酸盐层上被以该顺序层叠而成,中间层的镍的沉积量为100〜40000μg/ dm2时,铬5的附着量〜100Myug / 一个分米2,在铜箔载体/中间层/极薄铜层的横截面,在包括所有的这些范围内进行50〜1000nm的长度STEM射线分析时,Ni浓度的最大值为40〜95%(重量) 与Cu浓度位置,其中Ni和Cu共存为1〜50质量%的最小值。
    • 18. 发明专利
    • 微量貴金属の分離方法及び分析方法
    • 跟踪金属的分离方法和分析方法
    • JP2015232167A
    • 2015-12-24
    • JP2014119798
    • 2014-06-10
    • JX日鉱日石金属株式会社
    • 上村 憲一樫村 寛
    • C22B3/42C22B3/44C22B3/04C22B9/10C22B11/02G01N27/62G01N31/00G01N31/02C22B11/00
    • Y02P10/234
    • 【課題】極微量にイリジウム、ルテニウム、ロジウムなどの貴金属を含む試料に対して、定量を可能とする貴金属を分析することを可能にする方法を提供する。 【解決手段】本発明は、イリジウム、ルテニウム及びロジウムの少なくとも一種以上を合計で10ppm未満にて含み、かつ、鉄または銅の化合物を含む試料をアルカリ融剤とともに加熱して溶融して得られた溶融物を冷却し、温水で浸出して得られた溶液にエタノールを添加して沈殿を生成させ、固液分離する第一の工程と、第一の工程で得られた沈殿物を水とエタノールに浸出させ、得た溶液に塩酸を添加して加熱溶解させた後、必要に応じて塩化ナトリウム溶液を添加して、加熱乾固する第二の工程と、第二の工程で得られた沈殿物に塩酸を加えて加熱して溶解させた後、冷却して得られた溶液を陽イオン交換樹脂に通液する第三の工程とを含む微量貴金属の分離方法である。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种能够分析贵金属的方法,其能够对含有贵金属如铱,钌和铑的痕量的样品进行定量测定。解决方案:提供一种分离痕量贵金属的方法,包括:第一步骤 其中包括总共低于10ppm的选自铱,钌和铑中的至少一种或还包含铁或铜的化合物的样品用碱助焊剂加热并熔融以获得熔体,将熔体冷却 用热水浸取,得到溶液,向所得溶液中加入乙醇,生成析出物,进行固液分离。 将第一步中得到的析出物浸入水和乙醇中的第二步骤,向所得溶液中加入盐酸,进行加热熔融,然后根据需要加入氯化钠溶液,加热固化 执行 第3工序中,向第2工序中得到的析出物中添加盐酸,进行加热熔融,然后将其冷却而得到的溶液通过阳离子交换树脂。