专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

91. 发明专利

JP5161878B2 Noise measurement equipment and test equipment 有权
公开(公告)号：JP5161878B2
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：JP2009520197
申请日：2007-06-20
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：俊幸岡安
IPC分类号： G01R29/26
CPC分类号： G01R29/26 , G01R31/2851 , G01R31/31709

92. 发明专利

JP5154741B2 Noise characteristic display method 有权
公开(公告)号：JP5154741B2
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：JP2005154746
申请日：2005-05-26
申请人：テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー
发明人：明奈良
IPC分类号： G01R23/16
CPC分类号： G01R29/26 , H03L7/16

93. 发明专利

JP5096282B2 Transient noise detection circuit 有权
公开(公告)号：JP5096282B2
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：JP2008262741
申请日：2008-10-09
申请人：アメイジングマイクロエレクトロニックコーポレーション
发明人：ケァ，ミン−ドウ , ジアン，ヒン−チン , チェン，ウェン−イ
IPC分类号： H01L21/822 , G01R19/165 , H01L27/04
CPC分类号： G01R19/0053 , G01R19/04 , G01R29/26 , G01R31/002

94. 发明专利

JP5073887B2 Automatic frequency stepping noise measurement test system 有权
公开(公告)号：JP5073887B2
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：JP2000618740
申请日：2000-05-17
申请人：ユージンジスキー , ファーストラブインコーポレイテッド
发明人：ユージンジスキー
IPC分类号： G01R29/26 , G01R23/20 , G01S7/40
CPC分类号： G01R23/20 , G01R29/26

95. 发明专利

JP5066075B2 Calibration equipment, test equipment, calibration methods, and test method 有权
公开(公告)号：JP5066075B2
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：JP2008505078
申请日：2007-03-07
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：清隆一山 , 隆弘山口 , 雅裕石田
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R29/26 , G01R31/31709 , H04L1/205

96. 发明专利

JPWO2010047134A1 確定成分モデル判定装置、確定成分モデル判定方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス审中-公开
公开(公告)号：JPWO2010047134A1
公开(公告)日：2012-03-22
申请号：JP2010534726
申请日：2009-10-26
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：山口　隆弘 , 隆弘山口 , 石田　雅裕 , 雅裕石田 , 清隆一山 , 清隆一山
IPC分类号： G01R29/02 , G01R23/16 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/26
摘要：与えられる確率密度関数に含まれる確定成分のモデルを判定する確定成分モデル判定装置であって、確率密度関数のスペクトルを所定の変数軸において算出するスペクトル算出部と、スペクトルについて、変数軸におけるヌル値を検出するヌル値検出部と、ヌル値検出部が検出したヌル値に基づいて、予め定められた複数種類のモデルの確定成分のそれぞれに対して、確定成分のスペクトルの理論値を算出する理論値算出部と、スペクトル算出部が算出したスペクトルと、各モデルの確定成分のスペクトルの理論値との差分を示すそれぞれのスペクトル差に基づいて、確率密度関数に含まれる確定成分のモデルを判定するモデル判定部とを備える確定成分モデル判定装置を提供する。

97. 发明专利

JP2010236937A Jitter measuring apparatus 有权
标题翻译：抖动测量装置
公开(公告)号：JP2010236937A
公开(公告)日：2010-10-21
申请号：JP2009083302
申请日：2009-03-30
申请人： Anritsu Corp , アンリツ株式会社
发明人： TSUCHIYA NAOSUKE , MOCHIZUKI TAKESHI , SUZUKI SEIYA
IPC分类号： G01R29/02 , H04L25/02
CPC分类号： G01R29/26 , G01R31/31709
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To enable correct display of a waveform of a demodulation signal by a single body.
SOLUTION: A jitter demodulator 21 which demodulates a jitter component of a digital signal inputted from outside, a jitter amount calculator 22 which calculates an amplitude value of a demodulated signal J outputted from the jitter demodulator 21, an interpolator 23 which performs period measurement for the demodulated signal J outputted from the jitter demodulator 21 and performs interpolation processing with magnification according to the measured period, a display unit 25, and a display control part 24 which makes the display unit display a calculated value of the jitter amount calculator 22 and the waveform of the demodulated signal interpolated by the interpolator 23, are provided in a single case body.
COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：为了能够通过单个主体正确显示解调信号的波形。解决方案：解调从外部输入的数字信号的抖动分量的抖动解调器21，计算从抖动解调器21输出的解调信号J的振幅值的抖动量计算器22，执行周期的内插器23 测量从抖动解调器21输出的解调信号J，并根据测量周期进行放大的内插处理，显示单元25和显示控制部分24，使得显示单元显示抖动量计算器22的计算值并且由内插器23内插的解调信号的波形设置在单个壳体中。版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

99. 发明专利

JPWO2008038521A1 ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、記録媒体、及びプログラム有权
公开(公告)号：JPWO2008038521A1
公开(公告)日：2010-01-28
申请号：JP2008536329
申请日：2007-09-13
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：清隆一山 , 清隆一山 , 石田　雅裕 , 雅裕石田 , 山口　隆弘 , 隆弘山口
IPC分类号： G01R29/02
CPC分类号： G01R29/26 , G01R31/31709
摘要：略一定のデータレートを有するデータ信号のジッタを測定するジッタ測定装置であって、データ信号を、当該データ信号のデータ値が遷移するデータ遷移エッジのタイミングを維持して、データレートと略等しい周期でエッジを有するクロック信号に変換する信号変換部と、クロック信号を複素数の解析信号に変換する解析信号生成部と、解析信号に基づいて、データ信号のジッタを測定するジッタ測定部とを備えるジッタ測定装置を提供する。

100. 发明专利

JP4331716B2 Improved blind snr estimated 有权
公开(公告)号：JP4331716B2
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：JP2005364359
申请日：2005-12-19
申请人：アルカテル−ルーセント
发明人：パウル・アー・エム・ブネ
IPC分类号： H04L27/22 , H04L25/02
CPC分类号： H04B1/1027 , G01R29/26 , H04L1/206

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式